「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of always applying the optimum filtering processing to detection output such as test power, extension or the like corresponding to the kind of a load cell, an extensiometer or the like used in the testing machine or the quantity of noise superposed on each detection output based on disturbance.例文帳に追加

試験機に用いられているロードセルや伸び計などの種類や、外乱に基づく各検出出力に重畳しているノイズ量等に応じて、これらの試験力や伸び等の検出出力に対して常に最適なフィルタリング処理を施すことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a kit for testing humor components for both performing clinical tests on humors such as saliva as a specimen and testing the specimen after the reduction of viscosity of the specimen and the removal of bubbles only by the easy operation of supplying the specimen to the test kit.例文帳に追加

唾液等の体液成分を検体として臨床検査を行う検査具であって、検体を検査具に供給するという簡易な操作のみで、検体の粘性の低減および気泡の除去がなされた後に検体の検査が行われる体液成分検査具を提供する。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

The chip structure for a multiply integrated circuit is provided with chip-to-chip interface circuits for selective connection of internal circuits in an integrated circuit for testing an interface circuit having the ESD protection circuit and the input/output circuit for establishing communication with an external testing system during a test and a burn-in process.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路および入出力回路を有するインターフェース回路をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路を有する。 - 特許庁

To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time.例文帳に追加

風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁

The thermal shock testing device 1 stores a difference time between a time until an ambient temperature in a testing environment detected by an environment temperature detecting sensor 9 reaches a prescribed temperature, and a time until a temperature of the sample W itself reaches the prescribed temperature, in a preliminary test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、予備試験において環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

This device further comprises a test control device which is operated by an artificial operation to energize the testing means 25 and operates the elevator body 2 to the position where the fire detector 24 is opposed to the testing means 25 and operated thereby to tentatively operate the fire detector 24.例文帳に追加

そして、人為操作により動作して試験手段２５を付勢し、かつ火災検出器２４に試験手段２５が対向し火災検出器２４が動作する位置に昇降体２を運転して、火災検出器２４を試験的に作動させる試験用制御装置を設ける。 - 特許庁

The testing device, which sucks up work with a suction head 3 movable in x-axis and y-axis directions and transfers it to a testing jig 12 to test it, comprises a transfer means for sucking up and moving trays 8 and 10 for housing work sorted into conforming and nonconforming articles.例文帳に追加

ワークをＸ軸、Ｙ軸方向に移動可能な吸着ヘッド３で吸着して試験治具１２に移送し試験を行う試験装置において、良品、不良品に選別されたワークを収容するトレー８、１０を吸着して移動するための移送手段を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Further, the user combines an optical channel selector, a digital communication analyzer and an optical spectrum analyzer to conduct parametric test by changing a plurality of testing objects, while combining tree couplers to synchronously make multiport transmission of measured signals on a standard sample for the testing objects, and then measuring bit error rate.例文帳に追加

更に、光チャネルセレクタとデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザを組み合わせ、テストされる複数の製品を切り替えてパラメトリック検査し、またツリーカプラを組み合わせ、標準サンプルの測定信号をテストされる製品に同期的にマルチポート送信し、更にビットエラーレートを測定する。 - 特許庁

To provide a communication recovering method for material testing device and a material testing device, with which a material test before communication recovery can be continued as long as possible in the case of communication recovery and communication can be recovered as automatically as possible in the case of communication abnormality.例文帳に追加

通信復帰の際に通信復帰前の材料試験を極力続行することできるとともに、通信異常の際に極力自動的に復帰することができる材料試験装置における通信復帰方法および材料試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加

データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加

Ａｒガスを満たした釘刺し用容器２内でＬｉイオン電池ユニット３の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にＬｉイオン電池ユニット３から発生したガスが釘刺し用容器２内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器２から配管７０を通ってバッファタンク８０にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加

擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加

特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

When testing the A-D conversion circuit 3, an input pulse Pin is inputted to a delay unit DU(1) on a first stage and operated in a test mode during which a sampling term TS is shorter than a real mode (actual use), so that the ring delay circuit 30 is tested and separately, the test clock CKT is inputted and operated to test the counter 36.例文帳に追加

このＡ／Ｄ変換回路３の試験を行う時には、初段の遅延ユニットＤＵ（１）に入力パルスＰｉｎを入力し、サンプリング周期ＴＳが実モード（実使用）時より短いテストモードで動作させることで、リング遅延回路３０の試験を行い、これとは別に、テストクロックＣＫＴを入力して動作させることで、カウンタ３６の試験を行う。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

To provide a method for determining brittle crack propagation inhibiting performance of high-strength steel plates which greatly improves miniature testing method and its evaluation method, and simply/easily estimates arrest performance of any high-strength steel plate with thickness of 50 mm or more without conducting any large test such as ESSO test or double tensile test to inspect performance of high-strength steel plates.例文帳に追加

高強度厚鋼板の脆性き裂伝播停止性能の判定において、小型試験法およびその評価方法を大幅に改善し、ＥＳＳＯ試験や二重引張試験の大型試験を行うことなく、板厚５０ｍｍ以上の高強度厚鋼板のアレスト性能を簡便な手法で推定して、高強度厚鋼板の性能を検査する。 - 特許庁

This testing method for nuclear reactor containment vessel comprises a field pressure test c and leakage test d for a reactor containment vessel 1 containing a nuclear reactor pressure vessel and a reactor body foundation base 2 for supporting the nuclear reactor pressure vessel and having a diaphragm floor 7 for partitioning a dry well 4 and a suppression chamber 5, and a leakage ratio test g for the diaphragm floor.例文帳に追加

本発明は原子炉圧力容器及びこの原子炉圧力容器を支持する原子炉本体基礎台２を格納し、かつドライウェル４及びサプレッションチェンバ５を区画するダイヤフラムフロア７を有する原子炉格納容器１の現地耐圧試験ｃ，漏洩試験ｄ及び前記ダイヤフラムフロア漏洩率を試験ｇする原子炉格納容器の試験工法である。 - 特許庁

In systems and methods for performing design verification testing, test cases are analyzed to determine the characteristics that will be verified in a module under test, and the identified characteristics are used to selectively enable checker modules 340 needed to verify the characteristics implicated by the test cases while other checker modules are disabled.例文帳に追加

テストケースが分析されて検査対象のモジュール内で検証されるであろう特性を決定し、特定された特性が用いられてテストケースによって実行される特性を検証するのに必要なチェッカーモジュール３４０を選択的に有効にし、他のチェッカーモジュールを無効にする、設計検証検査を実行するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

The semiconductor testing device which tests a DUT by using test patterns outputted from a memory storing DUT test patterns is provided with a memory control part which divides the memory into a plurality of areas, moves test patterns stored in undiagnosed areas to diagnosed areas and then diagnoses the undiagnosed areas.例文帳に追加

ＤＵＴの試験パターンが格納されているメモリから出力される試験パターンを用いてＤＵＴの試験を行う半導体試験装置において、メモリを複数のエリアに分割し、このエリアのうち未診断エリアに格納されている試験パターンを診断済みエリアに移動させた後に未診断エリアを診断するメモリ制御部を備える。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液１を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12，13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14，15を設けた。 - 特許庁

To provide a test method of anti-allergenic performance of an anti-allergen-processed product capable of testing anti-allergenic performance of a thick anti-allergen-processed product or a hard anti-allergen-processed product easily in a short time by using a test liquid including allergen of a quantity similar to an actual using condition, and capable of performing a test having high reproducibility and high measurement sensitivity.例文帳に追加

厚みのある抗アレルゲン加工製品や硬質の抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能を、実際の使用条件に近い量のアレルゲンを含有する試験液を用いて簡易かつ短時間に試験することができ、さらに再現性と測定感度の高い試験が可能な抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能の試験方法を提供する。 - 特許庁

The load testing machine 100 includes: a test object support rack 2; a weight frame 3 relatively elevating relative to the test object support rack 2; weights 4a-4e where adjacent weights are engaged each other; a load frame 5 including a weight suspension unit 55 for engaging a pressing unit 54 for pressing the test object and the weight 4a; and a suspension tool 6 including a through-hole 69.例文帳に追加

被試験物支持台２と、被試験物支持台２に対し相対的に昇降する分銅枠３と、隣接する分銅同士が互いに係合する分銅４ａ〜分銅４ｅと、被試験物を押圧する押圧部５４と分銅４ａと係合する分銅吊下部５５とを有する負荷枠５と、貫通孔６９を有する吊下具６と、を備える荷重試験機１００。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁

The compressor testing device contains a test chamber 10; a gas supply means 20 for supplying nitrogen gas having specified temperature and specified pressure to the test chamber 10; a driving means 30 for driving a specimen T put in the test chamber 10 through a reduction means 40; and a load adjusting means 50 for adjusting a load of the driving means 30.例文帳に追加

テストチャンバー１０と、前記テストチャンバー１０に所定温度および所定圧力の窒素ガスを供給するガス供給手段２０と、前記テストチャンバー１０内に配設された供試体Ｔを、減速手段４０を介して駆動する駆動手段３０と、前記駆動手段３０の負荷を調整する負荷調整手段５０とを備えてなるものである。 - 特許庁

This remote operation system is provided with the radio station controllers 102 and 104 for controlling the radio channel of a first radio channel communication system, a mobile station 108 for a test for testing the radio channel controlled by the radio station controllers, and a remote operation device 110 for operating the radio station controllers, on the basis of test results outputted by the mobile station for a test.例文帳に追加

第１の無線回線通信システムの無線回線を制御する無線局制御装置１０２，１０４と、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する試験用移動局１０８と、試験用移動局が出力する試験結果に基づいて無線局制御装置を操作する遠隔操作装置１１０とを備える。 - 特許庁

The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.例文帳に追加

本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.例文帳に追加

同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

When the test on the first mobile communication system is conducted, test data are transmitted to the testing equipment through the second mobile communication system.例文帳に追加

本発明においては、第１の移動通信システムについての試験を行う際には、第２の移動通信システムを介して試験装置に試験データを送信し、試験装置は、第２の移動通信システムを介してい受信した試験データに基いて、第１の移動通信システムについての試験を行う。 - 特許庁

This is the sensitization development testing method for chemicals which includes (a) process to provide a test object for electroorganic reaction, (b) process to mix fluorescent cysteine derivative with the test object provided for electroorganic reaction, and (c) process to determine presence of bound substance by instrumental analysis.例文帳に追加

(a)被験物質を有機電解反応に供する工程；及び、(b)蛍光システイン誘導体と、有機電解反応に供した被検物質とを混合させる工程：及び(c)結合物の有無を機器分析により判定する工程：を有する化学物質の感作性発現検定方法。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁