「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a light-emitting component test module capable of testing a light-emitting component mounting a semiconductor light-emitting element in an environment at a temperature that is higher or lower than a normal temperature, without mounting the light-emitting component on a substrate or the like, and to provide a light-emitting component test apparatus.例文帳に追加

半導体発光素子を搭載した発光部品を、基板等に実装することなく、常温より高温または低温の環境下で試験することができる発光部品試験モジュールおよび発光部品試験装置を提供する。 - 特許庁

On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.例文帳に追加

試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第２半導体装置の第２メモリ回路に上記第１メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁

If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁

To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.例文帳に追加

メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁

A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.例文帳に追加

ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.例文帳に追加

材料試験装置における制御方法は、材料試験片（１）をチャンバー（２）内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ（９）で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁

The thin film stripping test method and the apparatus use a method for testing and beating the test piece (3) having the thin film (3b) formed on one surface and fixed to a support table (15) on the side (3D) opposite to the thin film by using the mass element (14) such as the hammer etc.例文帳に追加

本発明による薄膜剥離試験方法および装置は、一表面に薄膜（３ｂ）が形成され支持台（１５）に固定された試験片（３）の反薄膜側（３Ｄ）を質量体（１４ハンマ等）により打撃して試験する方法である。 - 特許庁

To provide a bending fatigue testing device capable of executing accurately a bending fatigue test, without generating local plastic strains, when restoring bending due to an abnormal force and repeated bending caused by a friction force, or the like, in a test piece.例文帳に追加

被試験体に摩擦力等に起因する異常な応力、繰返し曲げによる曲げ戻し時に局部的な塑性ひずみを発生させることなく、より正確な曲げ疲労試験を実施することができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.例文帳に追加

原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加

イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁

There are various parties involved in performing hepatitis testing, including health care insurers and business operators, which conducts hepatitis test in individuals to inform them of conditions of infection to hepatitis virus, and the test is sometimes conducted anonymously due to privacy considerations.例文帳に追加

肝炎ウイルスの感染状況を本人が把握するための肝炎ウイルス検査については、医療保険者や事業主等の多様な実施主体において実施されていることや、プライバシーに配慮して匿名で実施されている場合があること等から、 - 厚生労働省

To provide an impact testing device capable of removing a load increase caused by compression of air in the buckling deformation, and capable of easy measurement of essential load characteristics of the honeycomb block test piece, by securing permeability between the inside of a honeycomb block test piece and the open air.例文帳に追加

ハニカムブロック供試体の内部と外気との通気性を確保することにより、座屈変形時の空気の圧縮による荷重増加を排除でき、ハニカムブロック供試体本来の荷重特性を容易に測定できる衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.例文帳に追加

空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.例文帳に追加

荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える - 特許庁

In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加

加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

The test kit shown in Figure 1, which is a test kit used for the lateral flow type membrane assay method, is equipped with a test container 1 for containing samples; a testing implement 4 for membrane assays which is used by inserting from an end side 4a into the test container 1; and an analyte processing vessel 14 containing analyte processing liquid 15 for preparing measuring sample by blending with analyte.例文帳に追加

図１に示される試験キットは、ラテラルフロー式メンブレンアッセイ法に用いられる試験キットであって、試料を収容するための試験容器１と、一端側４ａから試験容器１に挿入されて用いられるメンブレンアッセイ用試験具４と、検体と混合することによって測定試料を調製するための検体処理液１５を収容した検体処理容器１４とを備える。 - 特許庁

This semiconductor testing device is provided with a memory 34 storing failure rate specified value information 38 specifying an upper limit of a failure rate of a test for every kind of test in advance and a CPU 32 which measures a failure rate of a semiconductor integrated circuit for every kind of test, compares the measured failure rate with the failure rate specified value information, and judges whether the test is interrupted or not.例文帳に追加

予め試験の種類毎にその試験の不良率の上限を規定した不良率規定値情報３８を記憶するメモリ３４を備え、更に、試験の種類毎に半導体集積回路の不良率を測定し、測定された不良率と上記不良率規定値情報とを比較し、試験を中断するか否かを判断するＣＰＵ３２とを備える。 - 特許庁

To rapidly test a high-speed memory such as a DDR memory or the like by rapidly testing the memory by using a simply, low cost constitution memory-testing unit.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体に関し、簡単、且つ、安価な構成のメモリ試験装置を用いてメモリの試験を高速に行うことができ、ＤＤＲ型のメモリ等の高速メモリの試験も高速に行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing concrete capable of molding a sample with secured parallelism in both ends, without requiring end face finishing of the sample, and capable of executing a compression test of the concrete under the condition where the quality of the molded sample is maintained, and to provide further a mold for the sample used favorably in the testing method for the concrete.例文帳に追加

供試体の端面仕上げを要することなく、両端の平行度が確保された供試体を成型し、成型された供試体の品質を維持した状態で、コンクリートの圧縮試験を行うことを可能としたコンクリートの試験方法を提案すること。 - 特許庁

To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置１において、試験装置３にデバイス２を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路６及び補正データ作成・保存回路７がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁

The test circuit 30 outputs an output of the circuit block 10 set as a testing target without passing through the circuit block 20 and transmits an input value input without passing through the circuit block 10 to the circuit block 20 set as a testing target.例文帳に追加

テスト回路３０は、テスト対象として設定された回路ブロック１０の出力を回路ブロック２０を経由せずに出力すると共に、回路ブロック１０を経由せずに入力された入力値をテスト対象として設定された回路ブロック２０へ伝送する。 - 特許庁

To provide a rubber friction/abrasion characteristic testing method and a rubber friction/abrasion characteristic testing apparatus in which, when rolling a rubber test member on a turn table, evaluation accuracy can be improved by excluding influences of a lateral force with a circumferential speed difference within a contact area.例文帳に追加

回転台の台上でゴム試験部材を転動させる際に、接地面内の周速差に伴う横力の影響を排除して評価精度を高めることができるゴム摩擦・摩耗特性試験方法とゴム摩擦・摩耗特性試験装置を提供する。 - 特許庁

When the test body 3b is a material for a rolling motion component, a rolling motion component simulated body 3 which is a simulated component for testing is manufactured and included in components, and the rolling motion component simulated body 3b is immersed in the lubricant and a testing device is actuated.例文帳に追加

被試験体３ｂが転動部品用の材料である場合、転動部品を試験用に模した部品である転動部品模擬体３を、前記被試験体３ｂを構成要素に含めて製作し、この転動部品模擬体３ｂを潤滑油に浸漬して動作させる。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test processing means assigns a plurality of picture frames out of the plurality of original picture frames 31-35 as testing picture frames and conducts in a trial manner at least part of processing generating reproduction pictures by interpolation or the like based on the correlation between the testing picture frames.例文帳に追加

試験処理手段は、それら複数のオリジナル画像フレーム３１〜３５のうちの複数の画像フレームを試験用画像フレームとして、試験用画像フレーム間の相関に基づいて内挿等により再現画像を生成する処理の少なくとも一部を試験的に行なう。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

This leak testing system is provided with a pre-processor 10 putting the work W in the pressurized helium atmosphere, a lead testing device 50 performing the helium leak test on the work W, a transfer mechanism 40 carrying out the work W from the pre-processor 10 and setting it on the leak testing device 50, and a controller 90 controlling the devices 10 and 50 and the mechanism 40.例文帳に追加

リークテストシステムは、ワークＷを加圧ヘリウム雰囲気に置く前処理装置１０と、ワークＷのヘリウムリークテストを行うリークテスト装置５０と、ワークＷを前処理装置１０から搬出し、リークテスト装置５０にセットする転送機構４０と、これら装置１０，５０及び機構４０を制御するコントローラ９０とを備えている。 - 特許庁

Here, the sending part 10 includes a parity adding part 12 for adding testing information (parity bits) to be used for testing an error of the image data to the unused bits of the serial data, and the receiving part 20 includes a parity check part 22 for using the testing information added to the unused bits of the received serial data to test the error of the image data.例文帳に追加

ここで、送信部１０は、画像データのエラーを検査するために用いられる検査情報（パリティビット）を、シリアルデータの未使用ビットに付加するパリティ付加部１２を備えており、受信部２０は、受信したシリアルデータの未使用ビットに付加されている検査情報を用いて画像データのエラーを検査するパリティチェック部２２を備える。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加

目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加

サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing question collection book for evaluating according to a point of view capable of easily grasping what is an essential evaluating point of view of most importance of a learning unit relatively corresponding to its test sheet.例文帳に追加

そのテスト用紙が相対応する学習単元の最重要な主要評価観点が何であるかを容易に把握できる観点別評価用テスト問題集を提供する。 - 特許庁