「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

This test bench includes a sendout chamber 1 equipped with a plurality of sound sending systems 6, and an adjacent receiving chamber 2 separated from the sendout chamber by a separating wall 3 having a test aperture for locating the object of testing 4.例文帳に追加

複数の音響送出装置６を備える送出チャンバ１と、試験対象物４を配置するための試験開口を有する分割壁３によって送出チャンバから分離されている隣接した受け取りチャンバ２とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.例文帳に追加

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁

To provide a technology with which testing to break off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage and a technology for easily generating cracks in the test piece in advance.例文帳に追加

打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術であって、供試体に予め設けるひび割れを容易に発生させることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.例文帳に追加

動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers.例文帳に追加

本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、ＷＤＭカップラまたはＤＷＤＭカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁

This test selection circuit 10 is integrated in a semiconductor integrated circuit, and selects one out of a plurality of digital signals appearing in its inside, to be output to an outside via a test output terminal 114, when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

テストセレクト回路１０は、半導体集積回路に集積化され、半導体集積回路のテスト時において、内部に現れる複数のデジタル信号から、ひとつを選択して外部にテスト出力端子１１４を介して出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加

パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.例文帳に追加

本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The weathering fading test is carried out while controlling the test temperature by a thermometer of a color nearest to the color of the testing sample piece out of the respective panel thermometers of black, white, red, sky blue and yellow colors.例文帳に追加

黒色、白色、赤色、空色、黄色の各パネル温度計中、試験する試料片の色に最も近い色の温度計によって、試験温度を管理しながら耐候光試験を行うことを特徴とする耐候光試験方法。 - 特許庁

To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.例文帳に追加

ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁

A loading testing jack together with a load meter and a displacement meter are installed on the loading slab in an approximately vertical posture to have such a constitution that loading test reaction force is taken in a beam of the existing structure or a slab, and the jack is driven to perform a loading test.例文帳に追加

載荷版の上に荷重計、変位計と共に載荷試験用のジャッキを略垂直姿勢に設置して載荷試験反力を既存構造物の梁又はスラブにとる構成とし、ジャッキを駆動して載荷試験を行う。 - 特許庁

Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test.例文帳に追加

このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。 - 特許庁

A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.例文帳に追加

ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁

The present invention implements improvements on the tester simulation apparatus performing the simulation by a DUT model simulating the operation of an object under test and a tester model simulating the operation of a tester in testing the object under test by the tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A number of spring probe apparatuses thus configured are provided in a test board and test signals and output signals are exchanged with a semiconductor integrated circuit via the spring probe apparatus, thereby testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

このような構成のスプリングプローブ装置をテストボードに多数備え、スプリングプローブ装置を介して半導体集積回路との間で試験信号及び出力信号のやり取りを行い、半導体集積回路の試験を行なう。 - 特許庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To prevent increase in test time accompanying scale enlargement of a circuit due to realizing individual test designs in a plurality of function circuit blocks (DRAM, logic, or the like) mounted on an LSI formed into one chip and sequentially testing them by using a plurality of testers.例文帳に追加

１チップ化されたＬＳＩに搭載された複数の機能回路ブロック（ＤＲＡＭ，ロジック等）には個別のテスト設計が実現され、テスタを使い分けて順次テストしていたため、回路の規模化に伴ってテスト時間が増大する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.例文帳に追加

既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁

To provide a support system for testing software written in high-level languages that makes a software test effectively performable even if a program is partially modified or the test procedures are changed.例文帳に追加

高級言語により記述されたソフトウェアの試験を支援するソフトウェア試験支援装置に係り、プログラムが部分的に修正されたり、試験処理が変更された場合でも、ソフトウェアの試験が効率的に行なるようにすることを課題とする。 - 特許庁

To provide a tool reduced in the number of required part items used for a test, and excellent in attachability to a tube fitting in the test, as to the tool for testing the airtightness or watertightness of a tube fitting base body.例文帳に追加

本発明は、管継手基体の気密又は水密試験のための治具に関するものであり、試験のために用いられるに必要な部品点数が少なく、試験時には管継手に対して装着性のよい治具を提案するものである。 - 特許庁

To provide a sensitivity tester, capable of testing the sensitivity of a fire sensor with an easy input operation for recording a test result of each fire sensor and with a reduced fire sensor test time.例文帳に追加

火災感知器の感度を試験する場合、火災感知器毎の試験結果を記録するための入力作業が容易であり、また、火災感知器を試験する時間が短い感度試験器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

The system includes a first computer which is arranged in a software developing department for developing and testing softwares, to issue the test report, based on a test result performed in the software developing department; and a second computer which is arranged in a test report managing center, so as to acquire the test report issued by the first computer via a network, and to manage the acquired test report.例文帳に追加

ソフトウェアの開発及びテストを実行するソフトウェア開発部署に設置され、前記ソフトウェア開発部署で実行したテスト結果に基づいたテストレポートを発行する第１のコンピュータと、テストレポート管理センターに設置され、前記第１のコンピュータが発行したテストレポートをネットワークを介して取得し、取得したテストレポートを管理する第２のコンピュータとを有することを特徴とするテストレポート管理システムである。 - 特許庁

This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加

本発明のＵＳＢ光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うＵＳＢモジュールとを含む。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加

シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device supplying a test signal that is made to maintain an optional phase state by performing phase synchronization of a pseudo response signal and a transmission leakage signal with a reference signal of an R/W (Reader/Writer) when testing the R/W of an RFID (Radio Frequency Identification).例文帳に追加

ＲＦＩＤのＲ／Ｗを試験する場合に、擬似的な応答信号及び送信リーク信号をＲ／Ｗの基準信号と位相同期させ、任意の位相状態に維持させた試験信号を供給できる試験装置を提供する。 - 特許庁

The method is used in a test for a solution or a solid phase such as a nylon film, and the later method may be used in measurement by a device or tool such as a color reader, and in combination of another ALD testing means and a pH testing means.例文帳に追加

この方法は溶液又はナイロン膜等の固相での試験、また後者の方法は色読取装置等の装置又は器具による測定、更に別のＡＬＤ試験手段及びｐＨ試験手段との組み合わせにおいて使用することもできる。 - 特許庁

To provide a leak testing method for a fully sealed rotating electric machine the testing time of which is shortened and the test accuracy is improved by forcibly circulating gas within the electric machine after mixed gas is pressurized and sealed in the electric machine.例文帳に追加

本発明の目的は、混合ガスを回転電機内に加圧封入後回転電機内のガスを強制的に循環させることにより試験時間が短縮し試験精度が向上する全閉型回転電機の漏洩試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a mounting reliability evaluation testing apparatus for printed-circuit board elements and a method thereof, which enable accelerated testing of service life which approximates the heating conditions of an actual semiconductor element, concerning the mounting reliability evaluation test of the printed-circuit board element.例文帳に追加

プリント回路板素子の実装信頼性評価試験に関し、実際の半導体素子の発熱条件に近似した加速寿命試験を可能にする、プリント回路板素子の実装信頼性評価試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a coupling, testing the performance of a coupling in accordance with use conditions (the amount of axial displacement, the amount of surface displacement, the number of revolutions, load torque, etc.) of actual equipment without the use of actual equipment or large scale test equipment.例文帳に追加

実機や大掛かりな試験設備を用いることなく、実機の使用条件（芯振れ量、面振れ量、回転数、負荷トルク、等）に合わせて、カップリングの性能を試験することができるカップリング試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A load indicator LM for indicating a load value that is test data to a cross head 5 of a testing machine, a cross yoke 6, or a post 18, and a displacement indicator DM for displaying displacement are installed in the machine frame of the testing machine, namely the cross head 5 or the cross yoke 6.例文帳に追加

試験機のクロスヘッド５もしくはクロスヨーク６もしくは支柱１８に試験データである荷重値を示す荷重表示器ＬＭや、変位を表示する変位表示器ＤＭを試験機の機枠すなわちクロスヘッド５あるいはクロスヨーク６に設置する。 - 特許庁

To provide a vehicle travel virtual testing system capable of dispensing with an actual traveling test course and a large-scaled testing device, capable of modeling each component before structure is determined, and capable of constructing a vehicle model to verify a vehicle and a travel thereof.例文帳に追加

実走行用のテストコース及び大規模な試験装置の必要がなく、構造が確定される前に各部品をモデル化し車両モデルを構築して車両及びその走行を検証し得る車両走行仮想試験システムを提供する。 - 特許庁

The Pharmaceutical Affairs Law and the Agricultural Chemicals Regulation Law specify that any person who seeks approval for a drug product or registration of an agricultural chemical must include materials on the results of testing when filing for the disposition. In order to have test results, it is necessary to conduct testing. 例文帳に追加

薬事法、農薬取締法は、それぞれ、医薬品の承認、農薬の登録を受けるためには、試験成績に関する資料を提出して申請する旨規定しており、この成績を得るためには試験を行うことが必要である。 - 特許庁

To prevent a tip part of the probe needle from being fused or broken by confirming a state of contact between a probe needle and a pad prior to an actual test and measurement, in a method of testing and measuring a semiconductor device and a device for testing and measuring the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験測定方法及び半導体装置の試験測定装置に関し、実際の試験測定に先立ってプローブ針とパッドとの接触状態を確認して、プローブ針の先端部の溶断や破損を防止する。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for dynamical friction testing of vulcanized rubber, preventing scattering of rubber powder cut away from a tested object, while inhibiting adherence of the rubber powder to the tested object or a surface of a testing road, to obtain test results with high accuracy.例文帳に追加

被試験体から削り取られたゴム粉の飛散を防止しながら、ゴム粉の被試験体や試験路面への付着を抑制して高精度の試験結果を得られるようにした加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A self-test circuit built-in semiconductor memory 20 comprises a semiconductor substrate, a memory cell array 30 formed on the semiconductor substrate, testing circuits 50, 54 provided on the semiconductor substrate, storing a program, testing a memory cell array conforming to the stored program, and outputting a test result, and a controller 52 provided on the semiconductor substrate and rewriting the contents of programs stored in the test circuits 50, 54.例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置２０は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイ３０と、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムにしたがってメモリセルアレイのテストを行ない、テスト結果を出力するためのテスト回路５０，５４と、半導体基板上に設けられ、テスト回路５０，５４に記憶されるプログラムの内容を書き換えるためのコントローラ５２とを含む。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

This testing method of ASIC (application specific integrated circuit 100 executes a test routine 128 in an incorporated memory 120 or an external memory by using an incorporated processor 110 in the ASIC.例文帳に追加

ＡＳＩＣ（１００）のテスト方法であって、ＡＳＩＣ内の組込みプロセッサ（１１０）を用いて、組込みメモリ（１２０）または外部メモリ中のテストルーチン（１２８）を実行する。 - 特許庁

To enhance an efficiency of analyzing a fault in a test/evaluating environment or a market in developing and product guaranteeing or testing at debugging or fault occurring time.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

To provide a drop testing device capable of carrying out a drop test by easily holding the desired attitude of even a large and heavy packing box for large-sized AV equipment.例文帳に追加

大型ＡＶ機器用の大きくて重い梱包箱であっても、所望の姿勢を容易に保持して落下試験を行うことができる落下試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a phase locked loop (PLL) that can solve a task of conducting an enhanced test including verification and/or stop sequence of a frequency dynamic revision.例文帳に追加

位相同期ループ（ＰＬＬ）のテストにおいて、周波数の動的変更の検証および／またはストップシーケンス・チェックを含む、改良されたテストを行うことが課題である。 - 特許庁