「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

An automatic testing part 66 performs an automatic test to determine and report presence/no presence of the failure of a battery power source 40 and a sensor part 16 in every prescribed time.例文帳に追加

自動試験部６６は、所定時間毎に電池電源４０及びセンサ部１６の障害の有無を判定して報知する自動試験を行う。 - 特許庁

To provide a testing device of an input/output unit constituted so that a test of the input/output unit may be performed only by connector connection.例文帳に追加

入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行うことができるようにした入出力ユニットの試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pitch adhesion-testing machine which can accurately and efficiently adhere a pitch in a sample liquid to a filtration test piece in a uniform condition.例文帳に追加

供試液中のピッチを均一な条件下で的確に、かつ、効率的にろ過試験片に付着させることができるピッチ付着試験機を提供する。 - 特許庁

A withstand voltage test is executed by applying testing voltages between the respective transmission lines 5, 6 and the second frame ground terminal 12 in a single body of the printed wiring board 10.例文帳に追加

絶縁耐圧試験は、プリント回路板１０単体で各伝送ライン５，６と第２フレームグランド端子１２との間に試験用電圧を印加して行う。 - 特許庁

To provide a technology with which testing for breaking off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage.例文帳に追加

打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a circuit test device capable of testing at a higher speed than change of a range through software by controlling the change of the range through hardware.例文帳に追加

レンジの変更をハードウェアで制御することで、ソフトウェアによるレンジの変更よりも高速にテストを行うことができる回路テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine which enables a manufacturer and a third party testing organization to conduct a test more appropriately on a performance of the game machine.例文帳に追加

遊技機の製造メーカや第三者試験機関等が、遊技機の性能に関する試験をより適切に行うことができる遊技機を提供する。 - 特許庁

To carry out a test, without generating a power voltage variation at an alternating testing of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスの交流試験時に電源電圧変動を発生させずに試験を行うことができる半導体試験装置用バイアス電源回路を提供する。 - 特許庁

The driven pulley 3 serving as a testing pulley is subjected to an axial load closer to the operating state of the actual machine than ever before, enabling an endurance test.例文帳に追加

そして、試験プーリとなる従動プーリ３に、従来より実機の運転時に近い状態の軸荷重を与えて耐久試験を行うことができるようになる。 - 特許庁

This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.例文帳に追加

本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a braking force testing device and method capable of carrying out a braking force test without colliding with a cage or a balance weight.例文帳に追加

かごあるいは釣合錘を衝突させずに制動力試験を実行できるエレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide a testing device for a rolling bearing capable of performing a test for applying an axial load, while rotating an outer ring of a sample bearing.例文帳に追加

試料軸受の外輪を回転させた状態でアキシアル荷重を付与した試験を行うことが可能な転がり軸受用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of rolling-contact fatigue life for investigating the durability under foreign substance mixing lubrication while suppressing variation in test result.例文帳に追加

試験結果のばらつきを抑制しつつ、異物混入潤滑下における耐久性を調査することが可能な転動疲労寿命の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a portable cone penetration testing device capable of carrying out a portable cone penetration test without requiring manual assistance and advantageous in eliminating variation of a measured result.例文帳に追加

人手を要せずにポータブルコーン貫入試験を行え、測定結果のばらつきをなくす上で有利なポータブルコーン貫入試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system test environment capable of testing operation of a system on a computer with an application program working on a hardware unit, without using any hardware unit.例文帳に追加

ハードウェアユニット上で動作するアプリケーションプログラムを、ハードウェアユニット無しでも、システムの動作をコンピュータ上でテストすることが可能なシステムテスト環境の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.例文帳に追加

本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加

複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁

To provide a secondary battery pack capable of testing normal operation of protection function of a protection circuit by loading a test circuit for protection function diagnosis on a protection circuit substrate.例文帳に追加

保護回路基板上に、保護機能診断用の試験回路を搭載し、保護回路の保護機能が正常に働くことを試験することを可能にする。 - 特許庁

The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.例文帳に追加

また、第２基板の第２表面２２には、第２半導体チップ３０と、この第２半導体チップ３０をテストするための第２テストポイント２５とが形成されている。 - 特許庁

To accurately test area deviation that partially takes place in a pattern in testing the area deviation of a periodic pattern on the basis of an area image.例文帳に追加

面積画像に基づいて周期性パターンの面積ズレを検査する際、パターン内に部分的に生じている面積ズレをも正確に検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.例文帳に追加

外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

In the switch-durability testing apparatus 1, under the control of a controller 5, a force motor 11 connected to a drive mechanism 7 gives a test load to the switch 13 to be inspected.例文帳に追加

スイッチ耐久試験装置１は、制御装置５の制御下で、駆動機構７に接続されたフォースモータ１１が被検スイッチ１３に試験負荷を与える。 - 特許庁

To provide a movable part test apparatus for testing the operability and durability of movable parts provided for a closed room by moving the movable parts.例文帳に追加

閉鎖室内に設けられた可動部位を動かすことにより前記可動部位の操作性や耐久性を試験する可動部位の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory, in which the control by an external testing device is easily performed, and in which a redundancy relief test can be performed with high reliability.例文帳に追加

外部試験装置による制御が簡単で信頼性の高い冗長救済試験を行うことができる強誘電体メモリを提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature vehicle testing room, performing efficiently a performance test of a vehicle whose wheels are stopped in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境において車輪を停止させた状態にある車両の性能試験を効率的に行うことのできる低温車両試験室を提供する。 - 特許庁

To provide a material tester capable of controlling the operation of a tester main body by simply constructing a test executing program corresponding to the testing specification.例文帳に追加

試験仕様に応じた試験実行プログラムを簡易に構築して試験機本体の作動を制御することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a test system that uses one measurement device at a comparatively low rate to generate a high rate burst traffic required for testing an ATM transmitter or the like.例文帳に追加

比較的低速の１台の測定器を使用し、ＡＴＭ伝送装置等の試験に必要な高速バーストトラヒックを生成する試験システムを提供する。 - 特許庁

Friction test is performed by using a Suzuki-type frictional and abrasive testing machine, under the conditions of a surface pressure of 0.48 MPa, a peripheral velocity of 135 m/min, and without temperature control.例文帳に追加

摩擦試験は鈴木式摩擦摩耗試験機を用い、面圧０．４８ＭＰａ、周速１３５ｍ／ｍｉｎ、温度調節なし、の条件下で評価した。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

To provide ozone sterilization testing equipment capable of simply performing a sterilization test by ozone in order to calculate a CT value capable of obtaining a target sterilization ratio.例文帳に追加

目標殺菌率が得られるＣＴ値を求めるためにオゾンによる殺菌試験を簡便に行うことができるオゾン滅菌試験装置を提供する。 - 特許庁

A test system for the memory device is provided with a tester 102 for applying a plurality of different redundancy tests on the memory device based on a plurality of different testing conditions.例文帳に追加

メモリデバイスのテストシステムは、複数の異なる試験条件に基づいて、複数の異なるリダンダンシテストをメモリデバイスに対して行うテスタ１０２を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device realizing a good test in both of a terminal mode and a high resistance mode of driver.例文帳に追加

本発明の目的は、ドライバが終端モード、高抵抗モードのどちらであっても、良好な試験を実現する半導体試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a data analysis system capable of quickly and easily transferring data even when a testing device is away from a test data analyzer in distance.例文帳に追加

試験装置から試験データ解析装置までが距離的に離れていても、迅速かつ容易にデータ転送の可能なデータ解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.例文帳に追加

プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.例文帳に追加

試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.例文帳に追加

実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.例文帳に追加

ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To test parts which generate simple signals at high speeds by hardware and parts which generate complicate signals by software in testing asynchronous LSIs.例文帳に追加

非同期ＬＳＩ試験を行う際に、高速で単純な信号を出す部分をハード的な構成で行い、複雑な信号についてはソフト的に行うこと。 - 特許庁