「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.例文帳に追加

微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁

A test apparatus for testing vibration characteristics of a tire includes a drum, rotation drive means for rotatably supporting the drum, tire supporting means for rotatably supporting a test tire while bringing the test tire into contact with the outer peripheral surface of the drum at a required ground contact load, and measurement means for measuring a change in axial force of the test tire during the rotation.例文帳に追加

ドラムと、このドラムを回転可能に保持する回転駆動手段と、前記ドラムの外周面に試験タイヤを所要の接地荷重で接触させながら該試験タイヤを回転可能に保持するタイヤ保持手段と、前記回転時の試験タイヤの軸力の変動を測定する測定手段とを具える。 - 特許庁

To provide a testing tool requiring a small space for transportation and preservation when carrying out a wipe test of environmental microorganisms, facilitating a test operation such as storage of cotton swabs after collection of specimens and arrangement of the specimens, and reducing the cost required for the test low.例文帳に追加

環境微生物の拭き取り検査を行う場合において、運搬や保管に要するスペースが少なくて済み、検体採取後の綿棒の収納や検体の整理などの検査作業が簡易であり、検査に要するコストも低く抑えられる検査用具を提供する。 - 特許庁

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

To provide a method for testing communication transmission line which can efficiently execute a test or test control while reliably preventing the malfunction of an information processor connected to an active communication transmission line being a communication path to be tested, and to provide a test controlling method.例文帳に追加

被試験通信路である現用中の通信伝送路に接続されている情報処理装置の誤動作を確実に防止して、効率よく試験または試験制御を実行できる通信伝送路の試験方法及び試験制御方法を提供する。 - 特許庁

A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.例文帳に追加

環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁

Then, in the automatic testing devices 11-1m, the operation test of a call processing is executed with the user side systems 31-3n according to the procedure and contents of the test described in the test file and log information obtained in the execution process is stored.例文帳に追加

そして、自動試験装置１１〜１ｍにおいて、上記試験用ファイルに記述された試験の手順と内容に従い、ユーザ側システム３１〜３ｎとの間で呼処理の動作試験を実行し、その実行過程で得られるログ情報を蓄積するようにしたものである。 - 特許庁

To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加

試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁

To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.例文帳に追加

血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁

In a test of the security circuit 7 by the test program, a security test signal ST becomes active, and when a predetermined address ADR is accessed in addition, a selector 12 is changed over to a register 11 side by an output signal of an AND 14 of a circuit 10 for testing.例文帳に追加

試験プログラムでセキュリティ回路７の試験になると、セキュリティ試験信号ＳＴがアクティブとなり、更に所定のアドレスＡＤＲがアクセスされると、試験用回路１０のＡＮＤ１４の出力信号によってセレクタ１２がレジスタ１１側に切り替えられる。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

A testing system is provided, wherein a template for performing an image comparison uses the image as the template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place, and the object under test is compared with it initially.例文帳に追加

本発明の検査装置では、画像比較を行うテンプレートを被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像にし、最初に披見物との比較を行うこととした。 - 特許庁

In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.例文帳に追加

内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁

Thus, by interconnecting input terminals and output terminals of a plurality of test devices, pieces of time information of the test devices are synchronized with each other to accurately conduct testing by using the time information.例文帳に追加

このため、複数台の試験装置の入力端子と出力端子の間を接続することで、複数台の試験装置の時刻情報を同期させることができ、時刻情報を用いる試験を正確に行うことができる。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.例文帳に追加

テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁

To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.例文帳に追加

実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a binocular vision testing apparatus performing a highly accurate test regardless of the performance of a projector or a positional relation with a screen or the like without the need of newly performing optical design depending on required test accuracy.例文帳に追加

必要な検査精度によって新たに光学設計を行う必要なく、プロジェクタの性能やスクリーンとの位置関係などに関係なく高精度の検査を行うことができる両眼視検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.例文帳に追加

供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus which eliminates the necessity of use of a plant simulator apparatus when testing a plant control apparatus and reduces influence of testers' knowledge on the evaluation accuracy of test results.例文帳に追加

本発明は、プラント制御装置の試験の際にプラントシミュレータ装置を用いる必要がなく、また、試験者の知識量によって試験結果の評価精度が左右されることの少ない試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.例文帳に追加

表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁

The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample.例文帳に追加

穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁

The thus obtained tape has tensile strength of ≥10.3 MPa, elongation of ≥60%, and a heat deformation ratio of ≤50%, and passes a flame retardance test and a flexibility test in accordance with the testing methods regulated in UL 510.例文帳に追加

これによりＵＬ５１０に規定する試験方法により、引張強度１０．３ＭＰａ以上、伸び６０％以上、加熱変形率５０％以下であり、難燃性試験に合格し、柔軟性試験に合格する。 - 特許庁

To provide a method for generating a test signal for testing the accuracy of the CINR measurement of a subscriber station through a base station emulator with which a trigger line for synchronization and a combiner are not necessary and the costs of the establishment of a test environment can be reduced.例文帳に追加

同期維持のためのトリガーラインや結合器が不要であり、テスト環境の構築費用を減らせる基地局エミュレータを利用した端末のＣＩＮＲ測定の精度テスト信号生成方法に関する。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head test device and test method capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head.例文帳に追加

磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A remote tester 1 is connected to the repeater 2 by a connector, and a remote test is performed for testing/alarming the fire sensors 16-1 to 16-n by sending a test signal or spriously opening/closing a control valve 65 of sprinkler type fire extinguishing facilities.例文帳に追加

中継器２に遠隔試験器１をコネクタ接続し、試験信号を送出して火災感知器16-1〜16-nを試験発報し、またはスプリンクラー消火設備の制御弁６５を擬似的に開閉させる遠隔試験を行う。 - 特許庁

To restrain a damage in an early stage of a dropping weight body for an impact test used when carrying out the impact test using a dropping weight type impact testing machine for a component requiring impact safety, and to enhance durability.例文帳に追加

衝突安全性を要求される部品に対して落錘式衝撃試験機を用いて衝撃試験を行う際に用いられる衝撃試験用落錘体の早期の損傷を抑制して耐久性を向上する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of gripping a test piece by a gripping tool with strong grilling force, while having an inexpensive structure which does not consume power.例文帳に追加

電力を消費しない安価な構成でありながら、つかみ具により強い把持力で試験片を把持することができる材料試験機を提供する。 - 特許庁

A pattern control board 80 is mounted with connectors 121 to 126 for externally outputting the test signal from the testing CPU 161.例文帳に追加

そして、図柄制御基板８０には、試験用ＣＰＵ１６１からの試験信号を外部に出力するためのコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

To provide a method for testing a gene, capable of acquiring useful diagnostic support information, even when a large amount of a substance which inhibits amplification of a nucleic acid is contained in a test sample.例文帳に追加

測定試料に核酸増幅を阻害する物質が多く含まれている場合でも、有用な診断支援情報を得る遺伝子検査方法の提供。 - 特許庁

For carrying out testing, parasitic capacitances are found using the design information, operations for weighting are performed on test data or thresholds for determining acceptance.例文帳に追加

また、設計情報を利用して寄生容量等を求め、検査データもしくは良否の判定をするしきい値に対し重み付け演算をして検査する。 - 特許庁

To provide a device for soil pollutant diffusion test capable of testing the diffusion of a polluted liquid efficiently even when the soil has a low liquid permeability.例文帳に追加

透液性の低い土壌であっても、汚染液の拡散性を効率よく試験することができる土壌汚染物拡散試験装置を提供する。 - 特許庁

By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加

したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.例文帳に追加

テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cartridge for monitoring the function of a device for testing a blood platelet action, a method for function monitoring, and a method of the use of a test fluid.例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用法の提供。 - 特許庁