「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device including a testing circuit formed on a wafer to perform a radio test of a wafer having an integrated circuit and a method.例文帳に追加

集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。 - 特許庁

A device is provided for simultaneously supplying a test signal to a plurality of IC terminals of an IC circuit during testing the integrated circuit (IC).例文帳に追加

集積回路（ＩＣ）のテスト中に前記ＩＣの複数のＩＣ端子にテスト信号を同時に供給するための装置が提供される。 - 特許庁

To provide an airtight testing apparatus for pump for a liquefied gas, capable of performing an airtight test under cooling condition, even before the installation in the field.例文帳に追加

現場に設置前であっても冷却状態での気密試験を行うことが可能な液化ガス用ポンプの気密試験装置を提供する。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing method enabling easy test with a good reproducibility even if a semiconductor chip has a warp.例文帳に追加

半導体チップが反りを生じていても再現性よく、かつ、簡便にテストを実施することができる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

The transport system includes a carrier holding a set of sample test devices and a drive subsystem for moving the carrier through the sample testing machine.例文帳に追加

運搬システムは、一式の試験試料装置を保持する担体と、担体を試料試験機を通して移動させる駆動サブシステムとを備えている。 - 特許庁

To provide a patch for testing skin reaction and its test method capable of easily and accurately performing tests regardless of the color of the skin of a subject.例文帳に追加

被験者の皮膚の色に関係なく、容易に正確な試験をすることができる皮膚反応試験パッチとその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a software test system testing target software in a short time at a low cost with improved reliability.例文帳に追加

ソフトウェアを短時間にしかも安価でテストすることができ、そして、信頼性を向上させたソフトウェアテストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide fatigue testing equipment capable of performing an acceleration amplitude constant sweep test in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

ii. Research to [identify] current test conditions in terms of explanations provided to patients prior to undergoing hepatitis testing results before operation by medical institutions例文帳に追加

（イ）医療機関において手術前等に行われる肝炎ウイルス検査の結果の説明状況等について、実態を把握するための研究 - 厚生労働省

A flood of applications, not only from around Kyoto, but also from all over Japan for the certification test were received, which spurred certification testing for a particular place to be spread throughout Japan. 例文帳に追加

京都近隣だけでなく全国から応募が殺到したことをきっかけとなり、ご当地検定が全国へひろがる契機となった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The system allows connecting the chips together and testing the collection as a whole by probing the test pads on the carrier.例文帳に追加

システムは、キャリア上のテスト・パッドをプローブすることによってチップを一体に接続し、集合体を全体として試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a system of for appropriately confirming the recording state of data related to an environment test in environment testing equipment to recording paper.例文帳に追加

環境試験装置における環境試験に関するデータの記録用紙への記録状況を適宜確認することができるシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加

本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To apply excitation input in the two or more directions to a test object, in a vibration testing device formed by combining a plurality of vibrating tables and excitation means.例文帳に追加

複数の振動台及び加振手段を組み合わせた振動試験装置において、２方向以上の加振入力を試験体に与えること。 - 特許庁

To improve workability and to improve yield by reducing the intervention of a test worker in measuring and testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置測定試験に際し試験作業者の介入を少なくし、作業性を向上させると共に歩留まりの向上を図ること。 - 特許庁

To provide a self-test controller which is useful for self-testing faults of various memories in which a manufacturer and a design system are different, and which is programmable.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device 1 that can test specimen easily and grasp a fatigue state of the specimen correctly.例文帳に追加

試験体を容易に試験することができ、且つ試験体の疲労状態を正確に把握することができる疲労試験装置１を、提供する。 - 特許庁

The urine testing paper test bar for testing human urine, is made by print-applying an ink composition containing a urine testing indicator to a part of the surface of paper bar formed by threading a piece of paper with water solubility or water dispersibility.例文帳に追加

人間の尿を検査するための尿検査紙製試験棒であって、水溶解性乃至は水分散性の紙を撚ってなる紙製棒状体の表面の一部に尿検査用指示薬を含有するインク組成物を印刷により塗布したことを特徴とする尿検査紙製試験棒。 - 特許庁

To enhance testing accuracy by sufficiently and uniformly releasing heat generated by semiconductor elements during aging test and to improve the mounting efficiency of the semiconductor elements by reducing the size of testing jigs and increasing the number of the testing jigs to be stored in a constant-temperature tank.例文帳に追加

本発明は、エージング試験に伴い半導体素子から発生する熱を十分、且つ均一に放熱させて、試験精度を高めると共に、試験用治具を小型化して恒温槽に収容できる試験用治具の数を増加させ、半導体素子の実装効率を向上させる。 - 特許庁

To provide the testing method of a semiconductor integrated circuit which can more easily and accurately test an integrated circuit on a semiconductor wafer, while eliminating post-processes, etc. after testing as well as a testing substrate, and to provide a semiconductor integrated circuit that is used in the method.例文帳に追加

テスティング基板はもとより、検査後の後処理等も不要としながら、より簡易且つ的確に半導体ウエハ上の集積回路を検査することのできる半導体集積回路の検査方法およびその方法の実施に使用される半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Blowers 22 are disposed on the opposite sides of a testing tire 18 of drum durability testing equipment 10 and a drum durability test is performed by exposing a bead part of the testing tire 18 to the air sent from the blowers 22 to be cooled therewith so that the temperature of the bead part of the tire 18 be within the range of 50-80°C.例文帳に追加

ドラム耐久試験装置１０の試験タイヤ１８の両側に、送風機２２を配置し、試験タイヤ１８のビード部の温度が５０〜８０°Ｃの範囲内となるように、送風機２２から吹き出す風をビード部に当ててビード部を空冷しながらドラム耐久試験を行う。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

As a result of integration of the bonding pad with the testing pad, for example, the introduction of propagation delay to passing test signals can be avoided, thereby improving the accuracy and reliability of wafer testing results.例文帳に追加

ボンディング・パッドおよび試験パッドを一体構築することにより、たとえば通過する試験信号に対する伝搬遅延の導入が回避され、それによりウェハ試験結果の精度および信頼性が改善される。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

To provide an improved cold thermal shock test device allowing a plurality of researchers to perform cold thermal shock tests of a plurality of kinds of objects for testing mixed in a testing chamber without causing confusion.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置を改良するものであり、複数の研究者が１つの試験室に複数種類の被試験物を混在させて冷熱衝撃試験をする場合の混乱を解消することを目的とする。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of displaying temperature in a material test without preparing a reference voltage power supply and without performing complicated adjustment, and a measured temperature display method in the material testing machine.例文帳に追加

基準電圧電源を準備したり煩雑な調整を行うことなく、材料試験時の温度を表示することが可能な材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine allowing optimum detail display in response to a processing item from a graph displaying a test result, even without sufficient knowledge about the testing machine and without skill in an operation for a device.例文帳に追加

試験機に関する知識が乏しくとも、また、装置の操作に習熟していなくても、試験結果を表すグラフから処理項目に応じた最適な詳細表示を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission/reception circuit with a data delaying function realizing the reduction of testing cost and testing time by dispensing with a dedicated measuring instrument in a test to a skew belonging to a received signal or a differential signal.例文帳に追加

受信信号または差動信号が有するスキューに対するテストにおいて、専用の測定器が不要となり、テストコストの低減化、テスト時間の短縮化を図るようにしたデータ遅延機能付き送受信回路の提供。 - 特許庁

To provide a method for testing impact of dropping weight type that measures impact absorption energy and is suited for a DWTT test especially, in conformance with API standards, and a machine for testing impact of dropping weight used for it.例文帳に追加

材料の衝撃吸収エネルギーを測定し、特にＡＰＩ規格に準じたＤＷＴＴ試験に好適な落錘式衝撃試験方法およびそれに用いる落錘式衝撃試験機を提供する。 - 特許庁

In this air filter testing device, air containing testing particles is introduced into a filter storage part 2 for storage-fixing an air filter 3 for a radioactive aerosol, to test the performance such as particle collection efficiency of the air filter 3.例文帳に追加

放射性エアロゾル用のエアフィルタ３が収納固定されるフィルタ収納部２に、試験用粒子を含む空気を導入して、エアフィルタ３の粒子捕集効率等の性能を試験するエアフィルタ試験装置である。 - 特許庁

This circuit is applicable to the test mode only by a combination of a testing power source terminal 7 and a mode decision control circuit 12 without combining a power source switching circuit 5 and a power source control terminal 8 with the testing power source terminal 7.例文帳に追加

テスト用電源端子７に電源切り替え回路５と電源制御端子８を組み合わせずとも、テスト用電源端子７とモード判別制御回路１２の組み合わせだけでテストモードに対応する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In this wind tunnel test system 2, gas is made to flow through the testing object 1, an influence onto the testing object 1 by a gas flow is tested, and a moving ground surface plate 4 is moved on the ground surface in response to a velocity of the gas.例文帳に追加

風洞試験装置２は、試験対象物１に気体を流しこの気体の流れによってこの試験対象物１が受ける影響を試験し、移動地面板４は気体の速度に応じて地面を移動させる。 - 特許庁

To provide a voice output method in a testing device for enabling an operator to relatively easily change the data and the presence or absence of generated voice, the testing device, and a record medium storing a test control program.例文帳に追加

操作者が音声発声の内容や有無を比較的簡単に変更することができる試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.例文帳に追加

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁

For realizing the running environment with a lot of dust not by a dust prevention performance test by actual test course running, road surface conditions and operation motion scattering of a driver is excluded and reproducibility of the running environment with a lot of dust is improved, and repetition of a plurality of testing which may occur in the dust prevention performance test by actual test course running, can be avoided.例文帳に追加

そして、テストコース実走行防塵性能試験によらずに多塵路走行環境を再現するので、路面コンディションやドライバ−の運転操作バラツキが排除され、多塵路走行環境の再現性が向上し、テストコース実走行防塵性能試験で起こり得る複数回にわたる試験の繰り返しを回避できる。 - 特許庁