「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

To realize testing easily by suppressing increment of circuit elements about a test function to the minimum in a semiconductor apparatus especially including a phase transition material.例文帳に追加

特に相変化材料を含む半導体装置において、テスト機能に関する回路素子増加を最小に抑え、テストの容易化を実現する。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which can synchronize a high speed determination result data and Device Under Test(DUT) determination result data and display it.例文帳に追加

高速側判定結果データおよびＤＵＴ判定結果データを同期して表示することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

To attain gas-insulation switching device, capable of performing repair work and withstand voltage test, by only stopping one overhead line and a withstand voltage testing method therefor.例文帳に追加

架空線１回線の停止のみで修理と耐電圧試験を行うことができるガス絶縁開閉装置と耐電圧試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of debugging a test program of a DSP (digital signal processor), any times as needed, by using a virtual environment.例文帳に追加

ＤＳＰのテストプログラムのデバッグをいつでも必要なときに仮想環境を用いて行うことができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a photoreceptor testing device for electrophotography not generating a measuring error caused by a size change of an opening part forming a test area.例文帳に追加

試験領域を形成する開口部の大きさ変化による測定誤差を生じない電子写真用感光体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of checking whether or not a test state is correctly set inside in testing a redundant memory cell.例文帳に追加

冗長メモリセルの試験時に、内部に試験状態が正しく設定されているか否かをチェックできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce influence of external noise and improve testing accuracy in the test of a semiconductor integrated circuit including an ADC and a DAC.例文帳に追加

ＡＤＣとＤＡＣとを備えた半導体集積回路のテストにおいて、外部のノイズの影響を低減し、テストの精度を向上させること。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable one conduction testing probe pin to be used as one of an extensible pin and a nonflexible pin in response to test applications.例文帳に追加

１本の導電検査用プローブピンでありながら、検査用途に応じて、伸縮ピン，非伸縮ピンのいずれか一方として使用できるようにする。 - 特許庁

To provide a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually.例文帳に追加

実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.例文帳に追加

野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁

The corrosion testing device includes a thermohygrostat bath 1, a salt water discharge mechanism 2, a cleaning mechanism 3, and a moving rack 4 to test a body 5 of which corrosion is tested.例文帳に追加

恒温恒湿槽１，塩水吐出機構２，洗浄機構３および移動架台４から構成され、被腐食試験体５を試験する。 - 特許庁

To suppress fluctuation of an air pressure generated during tire test by adjusting the temperature of air supplied into a tire, in a tire testing device.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、タイヤに供給される空気の温度を調整することで、タイヤ試験中に生じる空気圧の変動を抑える。 - 特許庁

This device includes: a main frame for testing; a plurality of trays; receptacles for chip test; and one or more pick up/placing device.例文帳に追加

本発明の装置は試験用メイン・フレームと複数の器皿と、チップ・テスト・レセプタクルと、１つまたはそれ以上の取り上げ/安置器とを含んでいる。 - 特許庁

To provide an indicator testing device capable of performing a test optionally in a short time without dismounting indicators mounted on a monitoring board.例文帳に追加

監視盤に取付けてある指示計を取外さずに、任意に短時間で試験を行うことを可能とした指示計試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the keying durability of a touch panel structure in a state close to an actual use form and a test unit for that method.例文帳に追加

実際の使用形態に近い状態でタッチパネル構造体の打鍵耐久性を試験する方法及びそのための試験機を提供する。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.例文帳に追加

試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simulator for a semiconductor test device to allow maintenance for a soft ware used in a semiconductor testing system even when no actual equipment exists.例文帳に追加

実機がなくとも半導体試験システムで使用されるソフトウェアの保守を可能とする半導体試験装置用シミュレータを提供する。 - 特許庁

To provide a U link mechanism easy to operate and capable of surely and speedily performing a test, when testing a communication line.例文帳に追加

通信回線の試験をするにあたり、操作が容易で、確実に、かつ迅速に試験を行うことのできるＵリンク機構を提供すること。 - 特許庁

To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing ROMs having ID and checksum areas in addition to user data areas altogether.例文帳に追加

ユーザデータ領域に加えて、ＩＤ領域とチェックサム領域を有するＲＯＭを一括して試験することができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a wear-testing apparatus that can test wear using a general environmental bath and at the same time can be carried easily.例文帳に追加

一般の環境槽を用いて摩耗試験を行うことができるとともに、容易に運搬することができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE, HOLDER FOR TEST STRIP, KIT FOR DETECTING PRESENCE OF ANALYTE IN SAMPLE, AND METHOD FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE例文帳に追加

試験装置、試験ストリップのためのホルダ、サンプル中の分析物の存在を検出するためのキット、及びサンプル中の分析物を検出する方法 - 特許庁

The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加

システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁

This siloxane endurance testing machine 1 comprises a siloxane gas generator 10, a test room 20, a siloxane concentration measurement section 30, and a control section 40.例文帳に追加

シロキサン耐久試験機１は、シロキサンガス発生装置１０と、テスト室２０と、シロキサン濃度計測部３０と、制御部４０とを有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing breakage of a test object, while clarifying an exchange time of a mechanical relay.例文帳に追加

機械式リレーの交換時期の明確化を図りつつ、被試験対象の破壊を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus that reduces a maximum matching time, improves the overall efficiency of a test, and reduces a cost.例文帳に追加

マッチタイムアウト時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

For example, a test is carried out by connecting the port blocks 1-1 and 1-2 together, and then, the port blocks 1-1 and 1-3 are connected together for testing.例文帳に追加

例えば、ポートブロック１ー１と１ー２とを接続して試験を行い、次にポートブロック１ー１と１ー３とを接続して試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To test a medium reading device in its horizontal or upright posture on a testing stage of simple structure.例文帳に追加

媒体読み取り装置の試験用ステージに関し、簡単な構造で水平、起立姿勢での装置の試験ができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a visual acuity testing instrument which can eliminate a sense of incompatibility of a subject by switching targets and suitably test an eye.例文帳に追加

視標の切替えによる被検者の違和感を無くすことができ、また、適性な検査を行うことができる視力検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To accelerate a test concerning a memory to be tested by shortening time for testing concerning each bit included in the memory cells of the memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリのメモリセルに含まれる各ビットに関する試験時間を短縮し、被試験メモリに関する試験を高速化することができる。 - 特許庁

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place.例文帳に追加

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.例文帳に追加

サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加

使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a game machine allowing a manufacturing maker, a third party testing institution, or the like of a game machine to easily perform a test on put-out balls and the like.例文帳に追加

遊技機の製造メーカや第三者試験機関等が、その出玉などの試験を容易に行うことができる遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit pattern testing apparatus which facilitates convenient and rapid creation of a recipe, comparison and display of images, setting of test regions, or other operations.例文帳に追加

レシピの作成、画像の比較表示、検査領域の設定などを使い勝手よく、かつ迅速に行う回路パターンの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.例文帳に追加

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁