「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

To enable a testing jig to be easily set and to be changed in setup regardless of parts loading conditions, in an in-circuit test stage, etc., of a printed wiring board.例文帳に追加

プリント板インサーキットテスト工程他で、プリント板部品搭載状況に関わらず、容易にテスト治具の設定・段取り替えが出来る。 - 特許庁

To enable an easy operation test of a maximum likelihood decoding circuit improved in operational speed without changing the operational speed of a testing arrangement.例文帳に追加

動作速度が向上した最尤復号回路の動作試験を、試験装置の動作速度を変更することなく容易に可能とする。 - 特許庁

To provide a covered electric wire abrasion testing method for maximally reproducing an environment, at an automobile mounting time in conducting abrasion test.例文帳に追加

自動車搭載時の環境を限りなく再現して摩耗試験を行うことの可能な被覆電線の摩耗試験方法を提供する。 - 特許庁

The method and the device for testing the complicated integrated circuit include an integrated circuit constituted of input/output pads provided with architecture optimized to a test.例文帳に追加

本発明は、テストに合わせて最適化されたアーキテクチャを備える入力／出力パッドから構成される集積回路を包含する。 - 特許庁

To provide a constitution capable of correctly controlling humidity, even when additive gas is introduced into the testing chamber for the environmental test device.例文帳に追加

環境試験装置において、試験槽内に添加ガスを導入した場合でも正確に湿度調整ができる構成を提供する。 - 特許庁

To provide an improved testing device (ATE) capable of restraining, in particular, the test cost ratio in total cost of an integrated circuit(IC) from increasing.例文帳に追加

特に集積回路（ＩＣ）の全体コストにおける試験コスト比の増大を抑制する改良された試験装置（ＡＴＥ）を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting method of a terminal fitting for a fretting corrosion testing equipment and a fixing tool capable of accurately making a micro-sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具を提供する。 - 特許庁

To provide a food and a masticatory function test method capable of simply testing the masticatory function at a sufficiently high accuracy.例文帳に追加

十分に高い精度で且つ簡便に咀嚼機能を検査することが出来る食品及び咀嚼機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To achieve the variation of the quantity of the charge applied to a test sample in an electrostatic charge testing machine.例文帳に追加

静電気帯電試験装置において、試験試料に帯電する帯電量を可変することが可能であるようにすることを課題とする。 - 特許庁

To provide a game machine which enables a manufacture maker of the game machine and a third party testing organization, etc., to perform a test relating to the game machine.例文帳に追加

遊技機の製造メーカや第三者試験機関等が、遊技機に関する試験を行うことができる遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic equipment capable of exactly testing an open or a short-circuit test between semiconductor devices without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、確実な半導体装置間のオープン・ショート試験を行うことが可能な電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a cache testing method capable of performing a test in the state of performing access to respective blocks composing of a cache without overlapping.例文帳に追加

キャッシュを構成する各ブロックへのアクセスが重複なく行われる状態で試験が行えるキャッシュ試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a material-testing machine for protecting a test piece and a detection sensor by preventing the bobbin and piston rod of an electrodynamic actuator from falling.例文帳に追加

動電形アクチュエータのボビンやピストンロッドが落下しないようにして試験片や検出センサを保護する材料試験機を得る。 - 特許庁

To provide a clamp for a material testing machine with which a very small test piece can be gripped optimally without being damaged.例文帳に追加

微小試験片を損傷させることなく、最適に把持することが可能な材料試験機のつかみ具を提供することである。 - 特許庁

Although the index scores at a site are not distributed normally, the usage of a two-sample t-test and ANOVA model could be cautiously applied for hypothesis testing.例文帳に追加

ある地点での指数評点は正規分布でないが，2サンプルのt検定およびANOVAモデルの利用が仮説の検討に適用可能である。 - 英語論文検索例文集

The main control device is provided with a test means S02 testing whether or not the command confirming means of the sub-control means normally operates.例文帳に追加

メイン制御装置は、サブ制御装置のコマンド確認手段が正常に動作するか否かを試験する試験手段（Ｓ０２）を備える。 - 特許庁

A testing substrate 101 is prepared which comprises a test pattern region consisting of a recess 102b, a recess 102c, a recess 102d, and a recess 102e.例文帳に追加

複数の凹部１０２ｂ，凹部１０２ｃ，凹部１０２ｄ，凹部１０２ｅからなるテストパターン領域を備えたテスト基板１０１を用意する。 - 特許庁

The testing device that tests devices to be tested comprises a plurality of testing units that test the devices to be tested; a controller that sends commands to the plurality of testing units, respectively and controls the operations of the plurality of testing units, respectively; and a trace memory that receives in sequence the commands sent from the controller to the plurality of testing units, respectively to store the commands.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを順次受信して記憶するトレースメモリとを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device of testing the dynamic balance and/or uniformity of a tire with a wheel, which can conduct a test in substantially the same number of steps as that when testing a single kind of a tire, even when testing a plurality kinds of tires significantly different in terms of hub hole diameter.例文帳に追加

ハブ穴径が大幅に異なる複数種類のタイヤを試験する場合であっても、単一種類のタイヤを試験する場合とほとんど変わらない工数で試験を実施可能な、ホイール付きタイヤの動釣合および／またはユニフォーミティ試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

The fixture for the peel strength testing machine 4 used for setting the test piece T, the peel strength testing machine being used for testing the peel strength of a seal part S which is formed by sealing a part of the 2 pieces of the overlapped resin films F, holds each of the 2 pieces of the resin films of the test piece T, which is not sealed, toward outside of the sealed part S.例文帳に追加

重ねた２枚の樹脂製フィルムＦの一部をシールしたシール部Ｓの剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片Ｔをセットするために用いられる剥離強度試験機用治具４であって、試験片Ｔのうちシールされていない２枚の樹脂製フィルムＦを、それぞれシール部Ｓの外側方へ向けて保持する。 - 特許庁

Since the dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the vehicle, if the dolly 13 is separated from the test vehicle 14 in consideration of a stopping distance of the dolly 13, the test vehicle 14 moves closer to a barrier 17.例文帳に追加

ドーリー13は試験用車両14の試験時の移動方向後方にのみ配置されるものであることから、ドーリー13の停止距離を考慮して試験用車両14から切り離しても、試験用車両14はバリア17に十分に近づいた状態となる。 - 特許庁

To use a ceramic piezoelectric element as a driving source for vibration of a driving rod in a testing machine for generating high-frequency vibration in a material of a test piece, when imparting the high-frequency vibration to the test piece to conduct a fatigue test.例文帳に追加

試験片に高周波振動を付与して疲労試験を行う際に、その材料に高周波振動を発生させるための試験機のにおける駆動棒の振動駆動源としてセラミック圧電素子を使用するセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁

Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.例文帳に追加

また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.例文帳に追加

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性／信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tire wear test method and a tire wear testing device capable of appropriately promoting a tire wear test of an inspected tire by preventing the rubber powder shaved from the inspected tire from adhering to the surface of the inspected tire in the tire wear test.例文帳に追加

タイヤの摩耗試験において、被験タイヤから削り取られたゴム粉が被験タイヤの表面に付着することを防止して、被験タイヤの摩耗試験を適正に促進することができるタイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic tension testing machine in which motions by which a test piece is supplied to a test piece holding tool are made simple, wasteful behaviors are removed, and freezing, hazing or the like is prevented even under a low temperature condition, and thereby carrying out a tension test smoothly.例文帳に追加

試験片つかみ具への試験片の供給動作を簡単にして無駄な動きをなくすと共に、低温下においても各部の凍結、曇り等をなくして円滑な引張り試験を行うことができる自動引張試験機を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

The semiconductor device test system includes a test handler testing the semiconductor device being assembled, a reader reading an identification code attached to the respective semiconductor device passed to the test handler as electronic data, and a computer storing test data collected by the test handler as electronic information corresponding to the identification code.例文帳に追加

組立完了の半導体装置をテストするテストハンドラ装置と、そのテストハンドラ装置に投入された上記半導体装置の個々に付された識別記号を電子データとして読み取る手段と、上記テストハンドラ装置の採取したテストデータを、上記識別記号と関連付けた電子情報として蓄えるコンピュータとを備える、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device capable of effectively preventing dew condensation around a socket when a test is performed under conditions below room temperatures and capable of preventing failure of an electronic component for a testing circuit mounted around the socket when a test is performed under high-temperature conditions.例文帳に追加

常温以下の状態での試験に際し、ソケットの付近での結露を有効に防止し得ると共に、高温状態での試験に際し、ソケット付近に装着される試験回路用電子部品の故障を防止することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

Visual function testing equipment capable of testing a plurality of visual functions displays a first image on a liquid crystal display portion 1B, with a resolution capable of a visual function test performed with a first eyesight and displays a second image on a dome-shaped screen 1A, with a resolution capable of a visual function test performed with a second eyesight.例文帳に追加

複数の視機能を検査可能な視機能検査装置であって、液晶ディスプレイ部１Ｂに対して第１映像を第１視力にて視機能検査ができる分解能で表示し、ドーム型スクリーン１Ａに対して第２映像を第２視力にて視機能検査ができる分解能で表示する。 - 特許庁

To obtain a conjugate suitable for a lateral flow testing method and other testing methods for detecting the presence of a test specimen in a test sample, stable even when the humidity fluctuates and capable of forming stable covalent bonds with molecules containing a free primary amine or a free secondary amine or a sulfhydryl group even after long-term storage.例文帳に追加

試験サンプル中の被検体の存在を検出するための横流および他の試験法に適し、湿度が変動しても安定で、かつ長期の貯蔵後でも遊離第１または第２アミンあるいはスルフヒドリル基を含む分子と安定な共有結合を作る共役体の提供。 - 特許庁

To provide a twist-testing machine, capable of precisely and simply controlling the torque value applied to a test target and capable of easily eliminating deviation between a target twist torque value, capable of being produced in an arbitrary step during a test and an actual measured value in a next step, and to provide a twist-testing method.例文帳に追加

被試験物に加圧されるトルク値を精度よく簡易に管理することができ、試験中の任意ステップにて生じ得る目標ねじりトルク値と実測値との偏差を次のステップにて容易に解消することのできるねじり試験装置およびねじり試験方法を提供する。 - 特許庁

The I/F board 100 is provided with electronic components 116 and 117 modulating the test signal from the Pachislo slot machine 1 to the trial shoot testing machine 120 to be fitted to the transmission, and photocouplers 107, 108 and 109 cutting off the test signals transmitted/received between the Pachislo slot machine 1 and the trial shoot testing machine 120.例文帳に追加

また、Ｉ／Ｆボード１００は、パチスロ機１から試射試験機１２０に対する試験信号を伝送に適するように変調する電子部品１１６、１１７と、パチスロ機１と試射試験機１２０とで遣り取りされる試験信号を遮断するフォトカプラ１０７、１０８、１０９を備える。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁