「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

First and second switches connect the first terminal to power supply terminals of the testing control circuit and the inner circuit during the test mode.例文帳に追加

第１および第２スイッチは、テストモード中に、第１端子をテスト制御回路および内部回路の電源端子に接続する。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To smoothly test a tire while traveling speed on a pseudo-road surface has been stabilized when testing a tire.例文帳に追加

タイヤの試験を行う場合に、擬似路面の移動速度を安定化した状態でスムーズに試験を行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a liquid crystal display element which is suited for a large-area liquid crystal display element and can shorten the time for the test.例文帳に追加

大面積液晶表示素子に適合し、検査時間を短縮し得る液晶表示素子の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shaker and a method of testing suitable for various applications, including those presenting adverse test environments.例文帳に追加

有害な試験環境をもたらす用途を含む、様々な用途のために適した加振機及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a charge/discharge control circuit that can be switched between a normal state and a test state without an external terminal for testing.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路の提供。 - 特許庁

To provide an automatic data logging kit which is used together with a hydraulic pressure maintainable test kit used for testing a liquid-cooled stator bar system.例文帳に追加

自動データロギングキットは、液体冷却固定子バーシステムを試験するための油圧保全性試験キットと共に使用される。 - 特許庁

To provide a heat degradation testing machine capable of evaluating a heat degradation characteristic more accurately, while securing a high test efficiency.例文帳に追加

高い試験効率を確保しながら、熱老化特性をより正確に評価することが可能な熱老化試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

To provide a performance test for a delay line circuit, using one testing clock for having a frequency lower than the one of a usual reference clock.例文帳に追加

通常時の基準クロックより周波数の低い１本の試験用クロックによるディレイ・ライン回路の動作試験を可能とする。 - 特許庁

To provide an exchange debug system where management of pseudo call data required for testing an exchange and of a test procedure document is facilitated.例文帳に追加

交換機の試験で必要となる擬似呼データと試験手順書の管理が容易となる交換機デバッグシステムを提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor wafer, capable of reducing the number of test pads, and capable of testing each transistor individually in a wafer state.例文帳に追加

テストパッドの数を減らすことができ、かつウェハ状態で各トランジスタを個別にテストすることができる半導体ウェハを得る。 - 特許庁

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress.例文帳に追加

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a skin test sheet for surface measurement for testing the amount of moisture evaporation and/or secretory components, etc. on a broad area of skin.例文帳に追加

皮膚の広い範囲の水分蒸発量やと分泌成分等を検査する面測定用皮膚検査シートを提供する。 - 特許庁

To lower a failure rate of a semiconductor testing device by reducing the number of central processing units necessary for control of a test.例文帳に追加

試験の制御に必要な中央処理装置の数を減少させることで、半導体試験装置の故障率を低下させる。 - 特許庁

To reduce an effect of an edge of a wafer during testing in a system to test a semiconductor wafer or the like by means of an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いて半導体ウエハ等を検査するシステムにおいて、検査中にウエハのエッジの影響を低減すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting instantly abnormality occurrence of a power source, corresponding to various states at a test time.例文帳に追加

試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile measuring a horizontal resistance of many piles by one-time static horizontal load test.例文帳に追加

１回の静的水平載荷試験により多数の杭の水平抵抗を求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a long preservable kit used as a reference for a diagnostic test, and to provide a kit for testing a nucleic acid hybridization.例文帳に追加

長期保存の利く診断検定法で対照として使用するキットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キットを製造する。 - 特許庁

To provide a testing device for sealing devices capable of performing a performance test, in matching with the actual usage conditions of a sealing device.例文帳に追加

シール装置の実際の使用条件に合わせて性能試験を行うことができるシール装置用の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a TCP handling device suitable for testing a TCP provided with contact portions for tests (test pads) at desired positions of leads.例文帳に追加

リードの所望の位置に試験用接触部（テストパッド）を設けたＴＣＰの試験に好適なＴＣＰハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic storage device having a test mode for testing a memory cell and a spare memory cell itself for saving the reference cell.例文帳に追加

リファレンスセルおよびリファレンスセルを救済するスペアメモリセル自体を試験するテストモードを備えた磁気記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.例文帳に追加

本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an error testing device with which an error test of required accuracy can be performed in a short time and directly with satisfactory efficiency, on the basis of a metered value.例文帳に追加

本発明は、計量値から直接、必要な精度の誤差試験を短時間で効率良く行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide an eye testing instrument which can easily provide the result of a visual acuity test without confusion in different target presentation conditions.例文帳に追加

異なる視標呈示条件での各視力検査結果を、混乱なく、容易に知ることができる検眼装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

This test information management system collects input information in a terminal computer 31 installed in the testing institution 3.例文帳に追加

本発明は、試験機関３に設置された端末コンピュータ３１での入力情報を収集する試験情報管理システムである。 - 特許庁

To provide a temperature testing device and a temperature adjustment method therefor, capable of performing a temperature test inexpensively and efficiently.例文帳に追加

低コストで効率的に温度試験を実施することができる温度試験装置およびその温度調整方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

To shorten the inspection time required for acceleration test at the time of testing a semiconductor integrated circuit including a novolatile memory element.例文帳に追加

不揮発性記憶素子を含む半導体集積回路の試験において、加速試験に要する検査時間を短縮させる。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of stably controlling the amount of dew condensation on a test object.例文帳に追加

被試験物に結露する結露量を安定して制御することができる環境試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a clogging testing machine for high-pressure grout capable of performing clogging test by injecting a grout material under high pressure.例文帳に追加

グラウト材を高圧注入して目詰まり試験を行うことができる高圧グラウト用目詰まり試験装置を提供する。 - 特許庁

4. Measures to be taken if a breakdown occurs (including how to handle test samples if a breakdown occurs during testing) 例文帳に追加

四　故障が起こつた場合の対応（測定中に故障が起こつた場合にあつては、試験品の取扱いを含む。）の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

The rubber testing machine is constituted so as to press a rubber testpiece 1 to a rubstone or false road surface 11 to perform the test of the rubber testpiece 1.例文帳に追加

砥石または擬似路面１１にゴム試験片１を押し付けて、ゴム試験片１の試験を行うゴム試験機である。 - 特許庁

To provide a power transmitter and a method for testing the power transmitter, efficiently and reliably executing a test for the power transmitter in a noncontact power transmission system.例文帳に追加

無接点電力伝送システムにおける送電装置の試験を、効率的かつ確実に実行することを可能とする。 - 特許庁

To provide a lubricating characteristic testing device of a transmission capable of executing easily attitude control of a transmission under test.例文帳に追加

試験用トランスミッションの姿勢制御を容易に行うことのできるトランスミッションの潤滑特性試験装置を提供すること。 - 特許庁

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁

To provide a dynamic balance testing machine capable of stably measuring a rotating test object, owing to the fixed position of the axial direction.例文帳に追加

回転する被試験体の軸方向位置が一定となり安定した測定を行うことができる動釣合試験機の提供。 - 特許庁

To provide an LSI-testing adaptor, which can reduce costs for the test by suppressing an increase in the circuit scale of an LSI device.例文帳に追加

ＬＳＩデバイスの回路規模の増大を抑えたままテスト費用を削減することができるＬＳＩテスト用アダプタを提供する。 - 特許庁

To provide a sensor and a tester in which a test signal at a good reliability and good efficiency can be detected upon testing a substrate.例文帳に追加

基板の検査に当たり、信頼性良くかつ効率の良い検査信号が検出できるセンサ及び検査装置を提供する。 - 特許庁

A tester 2 receives testing conditions, and tests the semiconductor chip on a wafer via a probe 6, according to the accept/reject test program.例文帳に追加

テスタ２は、テスト条件を受信して、合否判定テストプログラムに従い、プローバ６を介してウエハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

With such a testing jig board, required continuity test can be executed for all wiring networks of the tested board.例文帳に追加

本発明の検査方法は、上記の検査用治具基板を用い、各配線ネットワークの導通検査と、絶縁検査を行う。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。 - 特許庁