「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical path testing system capable of an in-service test in L-band communication of 10 Gbit/s.例文帳に追加

１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験を可能にした光線路試験システムを提供する。 - 特許庁

In test of the device, first of all, only a single tested pair chip 6 is mounted for testing whether it is good or defective.例文帳に追加

装置の試験を行う場合、先ず、被試験ベアチップ６を一つだけ実装して、良品か否かの試験を行う。 - 特許庁

To determine quality of interchip connection in semiconductor chips in a multi-chip module, by a simple test circuit and a simple testing method.例文帳に追加

マルチチップモジュールにおける半導体チップ間の接続の良否判定を簡易なテスト回路とテスト方法により行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING THERMAL FATIGUE CRACK DEVELOPMENT, AND TEST BODY USED FOR THE DEVICE例文帳に追加

熱疲労き裂進展試験装置、熱疲労き裂進展試験方法および熱疲労き裂進展試験装置に用いる試験体 - 特許庁

To provide a method and a device for testing chips that allow a more inexpensive function test under high-temperature environment.例文帳に追加

より安価な高温環境下での機能テストを可能とするＩＣチップのテスト方法及びそのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing horny layer retention, which can carry out the test by using a human skin and is excellent in safety.例文帳に追加

人の皮膚で試験することができ、しかも安全性の高い角層貯留性試験方法を提供すること - 特許庁

To provide a network equipment testing apparatus which can respond even to small-size packets and is capable of performing a test on transfer capability and filtering at a media speed.例文帳に追加

小さいサイズのパケットにも対応し、転送能力やフィルタリングにおいて、メディアスピードでの試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a pneumatic material testing machine loading a test piece with a medium grade load of about 1,000N-5,000N.例文帳に追加

１０００Ｎから５０００Ｎ程度の中程度の負荷荷重で試験片を負荷する空圧式材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a very high-sensitivity and reliable quantitative method for diagnostic testing of cancer and to provide a test kit for it.例文帳に追加

非常に高感度かつ信頼できる定量性のある癌の診断試験方法およびそのためのキットを提供する。 - 特許庁

To increase the efficiency of test work by eliminating the need for creating a stub program exclusively for a program to be tested or setting a testing environment.例文帳に追加

テスト対象プログラム専用のスタブプログラムの作成や、テスト環境の設定を不要とし、テスト作業を効率化する。 - 特許庁

To test a large number of LEDs in a plurality of separate times and reduce the time and labor required for testing.例文帳に追加

多数のＬＥＤを複数回に分けて試験することを可能して、試験に要する時間及び労力を低減する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PREDICTING TEST RESULT, AND FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト結果予測装置、テスト結果予測方法、半導体テスト装置、半導体テスト方法、システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a strength test device for a bag capable of easily and quantatively testing whether a bag is broken by a prescribed load.例文帳に追加

バッグが所要な荷重で破損するか否かを簡単に定量的に試験できるバッグ強度テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a performance evaluation testing machine capable of simulating in a bench test misalignment occurring in a planetary gear supporting bearing.例文帳に追加

遊星歯車支持用軸受で起きるミスアライメントをベンチ試験でシミュレートできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁

A game machine testing device is a device for carrying a pachinko machine 10 and making a functional test for the pachinko machine 10.例文帳に追加

遊技機検査装置は、パチンコ機１０を搬送するとともに、パチンコ機１０の機能検査を行うための装置である。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

BULK CURRENT INJECTION TRANSFORMER, BULK CURRENT INJECTION TEST METHOD, CONDUCTOR EXCITATION MODE MEASURING METHOD, AND TRANSFORMER TESTING DEVICE例文帳に追加

バルク電流注入トランス、バルク電流注入試験方法、導体励起モード測定方法、およびトランス試験装置 - 特許庁

To provide a test system and heater structure capable of testing respective integrated circuits at respective different temperatures.例文帳に追加

それぞれの集積回路をそれぞれ異なるテスト温度によって、テスト可能に処置するテストシステムとヒータ構造を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit device 1 is simulated by a computer by using a test bench TB as the testing program.例文帳に追加

半導体集積回路装置１は、テスト用プログラムであるテストベンチＴＢを用いてコンピュータによるシミュレーションが行われる。 - 特許庁

To provide a network testing device capable of performing an integrated network test to a mobile communication network.例文帳に追加

移動体通信ネットワークに対して統括的なネットワーク試験を実施することができるネットワーク試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.例文帳に追加

被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for improving the efficiency of the test as a whole by shortening the period of data readout.例文帳に追加

データ読み出しの時間を短縮して、試験全体の効率の向上を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To obtain a foundation load testing method with which workability is improved while ensuring the settlement of a test version.例文帳に追加

試験版の沈下量を確保しつつ、作業性が向上された基礎の載荷試験方法を得ることを目的とする。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode.例文帳に追加

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。 - 特許庁

To provide a signal generator which generates a test signal for correctly testing a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。 - 特許庁

The testing-service firm provides a cellular phone of a person for the medical examination with test results and information on medical institutions.例文帳に追加

検査サービス会社は、受診者の携帯電話機に対して、検査結果と共に医療機関情報を提供する。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide a tire performance test-use rotating drum which is lightweight, has a small inertia moment, realizes a short maximum speed arrival time and can carry out a sudden acceleration test and a sudden braking test, and to provide a tire performance testing system using the same.例文帳に追加

軽量であり、慣性モーメントが小さく、最高速度到達時間が短く、急発進や急ブレーキの試験が可能であるタイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

Remaining gas in the test finishing high pressure tank 2 is recovered by a recovering apparatus 13, and, preferably, the test finishing high pressure tank 2 is replaced with a high pressure tank for a test as a next testing object.例文帳に追加

試験終了高圧タンク２内における残りのガスを回収器１３により回収し、当該試験終了高圧タンク２を次の試験対象たる供試用高圧タンクと入れ替えることも好ましい。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member.例文帳に追加

建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

(xxiv) Vibration test equipment or components therefor, or wind tunnels , combustion test equipment, environment test equipment, electron accelerators usable for the development or testing of rockets or unmanned aerial vehicles, or equipment using therefor 例文帳に追加

（二十四）　振動試験装置若しくはその部分品又はロケット若しくは無人航空機の開発若しくは試験に用いることができる風洞、燃焼試験装置、環境試験装置、電子加速器若しくはこれを用いた装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To surely perform transfer to sample grip parts, grip operations of a test sample, and removal and disposal of a rupture test sample after test without large space, and automate material testing with simple construction and at small costs.例文帳に追加

簡単な構成で且つ低コストで試験サンプルのサンプル把持部への移送，把持作業及び試験後の破断試験サンプルの除去及び廃棄を場所を取らず確実に行うことができ、材料試験の自動化を図る。 - 特許庁

A transmission part 101 for transmitting the test cell for testing exchange processing and an examination part 201 for receiving the test cell transmitted from the transmission part 101 and examining that test cell are provided for every line.例文帳に追加

交換処理を試験するための試験セルを送信する送信部１０１と、前記送信手段より送信された試験セルを受信し、当該試験セルの検査を行う検査部２０１とを回線ごとに設けておく。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁