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testing testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2972件
TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁
TEST LIGHT SOURCE AND OPTICAL TESTING SYSTEM例文帳に追加
試験用光源および光試験システム - 特許庁
METHOD OF TESTING MICROORGANISM AND TEST SYSTEM例文帳に追加
微生物検査方法及び検査システム - 特許庁
TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加
タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁
TESTING DEVICE WITH TEST SIGNAL MONITORING FUNCTION, AND REMOTE TESTING SYSTEM例文帳に追加
検査信号モニタ機能付き検査装置とリモート検査システム。 - 特許庁
DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加
劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および試験方法 - 特許庁
MANIPULATOR FOR TEST HEAD OF AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置のテストヘッド用マニピュレータ - 特許庁
TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁
AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING ENZYMATIC REACTION例文帳に追加
酵素反応試験用の自動試験装置 - 特許庁
DETERIORATION TEST METHOD AND DETERIORATION TESTING MACHINE例文帳に追加
劣化試験方法及び劣化試験装置 - 特許庁
Test client generation for testing RESTful web services. 例文帳に追加
RESTful Web サービスのテスト用テストクライアントの生成。 - NetBeans
TESTING INSTRUMENT FOR MATCHED IMPEDANCE TEST例文帳に追加
整合インピーダンステストのためのテスト用器具 - 特許庁
CREEP TEST SUBSTITUTING METHOD AND CREEP TEST SUBSTITUTING TESTING MACHINE例文帳に追加
クリープ試験代替方法およびクリープ試験代替試験機 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁
CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加
回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁
The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加
現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される(S1)。 - 特許庁
To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加
カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加
電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁
WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加
防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁
PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加
プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁
TEST PIECE GRIPPING TOOL FOR MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加
材料試験機用試験片つかみ具および材料試験機 - 特許庁
TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加
引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁
To provide a test management system for allowing a testing personnel to immediately grasp the measurement apparatus required for testing each test item.例文帳に追加
各試験項目の試験を実施するのに必要な測定器を即座に把握する。 - 特許庁
PATCH FOR TESTING SKIN REACTION AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
皮膚反応試験パッチとその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM AND TEST METHOD OF SHORT MESSAGE例文帳に追加
ショートメッセージ試験システム及び試験方法 - 特許庁
TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加
試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁
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