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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing testに関連した英語例文

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testing testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2972



例文

TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁

TEST LIGHT SOURCE AND OPTICAL TESTING SYSTEM例文帳に追加

試験用光源および光試験システム - 特許庁

METHOD OF TESTING MICROORGANISM AND TEST SYSTEM例文帳に追加

微生物検査方法及び検査システム - 特許庁

IC TEST SYSTEM AND IC TESTING METHOD例文帳に追加

ICテストシステム及びIC試験方法 - 特許庁

例文

MATERIAL TESTING DEVICE AND MATERIAL TEST PIECE例文帳に追加

材料試験装置と材料試験片 - 特許庁


例文

TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加

タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁

TESTING DEVICE WITH TEST SIGNAL MONITORING FUNCTION, AND REMOTE TESTING SYSTEM例文帳に追加

検査信号モニタ機能付き検査装置とリモート検査システム。 - 特許庁

CYCLE TESTING DEVICE AND CYCLE TEST METHOD例文帳に追加

サイクル試験装置及びサイクル試験方法 - 特許庁

例文

DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁

例文

LSI TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

LSIテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および試験方法 - 特許庁

BENDING TESTING DEVICE AND BENDING TEST METHOD例文帳に追加

曲げ試験装置および曲げ試験方法 - 特許庁

MANIPULATOR FOR TEST HEAD OF AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加

自動テスト装置のテストヘッド用マニピュレータ - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁

TEST PIECE HOLDING STRUCTURE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機の試験片把持構造 - 特許庁

CREEP TESTING TOOL AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験治具およびクリープ試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING ENZYMATIC REACTION例文帳に追加

酵素反応試験用の自動試験装置 - 特許庁

DETERIORATION TEST METHOD AND DETERIORATION TESTING MACHINE例文帳に追加

劣化試験方法及び劣化試験装置 - 特許庁

Test client generation for testing RESTful web services. 例文帳に追加

RESTful Web サービスのテスト用テストクライアントの生成。 - NetBeans

Now, we are currently testing this technology in test tubes例文帳に追加

この技術は現在 まだ試験管や - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

BIAXIAL TESTING DEVICE AND BIAXIAL TEST METHOD例文帳に追加

二軸試験装置及び二軸試験方法 - 特許庁

LOAD TEST SYSTEM AND LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

負荷試験システムおよび負荷試験方法 - 特許庁

TESTING INSTRUMENT FOR MATCHED IMPEDANCE TEST例文帳に追加

整合インピーダンステストのためのテスト用器具 - 特許庁

CREEP TEST SUBSTITUTING METHOD AND CREEP TEST SUBSTITUTING TESTING MACHINE例文帳に追加

クリープ試験代替方法およびクリープ試験代替試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加

現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される(S1)。 - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加

電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁

WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加

防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

TEST PIECE GRIPPING TOOL FOR MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機用試験片つかみ具および材料試験機 - 特許庁

TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁

To provide a test management system for allowing a testing personnel to immediately grasp the measurement apparatus required for testing each test item.例文帳に追加

各試験項目の試験を実施するのに必要な測定器を即座に把握する。 - 特許庁

ABRASION TEST METHOD AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, STAGE DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、ステージ装置、および試験方法 - 特許庁

DIRECT GRIP TESTING METHOD AND TEST JIG例文帳に追加

直接つかみ試験方法及び試験治具 - 特許庁

DEVICE TEST EQUIPMENT AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

デバイス試験装置およびデバイス試験方法 - 特許庁

PATCH FOR TESTING SKIN REACTION AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

皮膚反応試験パッチとその試験方法 - 特許庁

CREEP TESTING DEVICE AND CREEP TEST METHOD例文帳に追加

クリープ試験装置およびクリープ試験方法 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE AND LOAD TEST METHOD例文帳に追加

荷重試験装置および荷重試験方法 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM AND DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

装置試験システムおよび装置試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置のテスト回路とテスト方法 - 特許庁

a method of testing bloodstains, called luminol test 例文帳に追加

ルミノール検査という,血痕の検査方法 - EDR日英対訳辞書

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD OF SHORT MESSAGE例文帳に追加

ショートメッセージ試験システム及び試験方法 - 特許庁

COLLAPSE TESTING DEVICE AND COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

崩壊試験装置及び崩壊試験方法 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING METHOD, TEST PIECE INSERTION DEVICE AND TESTING MACHINE例文帳に追加

試験片の装着方法、試験片挿入装置および試験機 - 特許庁

例文

METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁




  
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