「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A slider test apparatus includes a support structure and a test socket receiving a slider for testing.例文帳に追加

スライダ検査装置は支持構造体と、検査するためスライダを受け取る検査ソケットとを含む。 - 特許庁

To provide a method, a test chamber and a test setup for leak testing of a closed container.例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine.例文帳に追加

材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT例文帳に追加

物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁

BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体メモリのテスト用ボードおよびテスト方法並びに製造方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TEST METHOD USING IT例文帳に追加

パワー半導体素子の試験装置およびこれを用いた試験方法 - 特許庁

ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD例文帳に追加

着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL例文帳に追加

多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁

HOLD-COLD SHOCK TESTING DEVICE AND ENVIRONMENT TEST SYSTEM INCLUDING THE SAME例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置およびこれを含む環境試験システム - 特許庁

To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.例文帳に追加

時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁

STEERING COLUMN EVALUATION TESTING DEVICE AND STEERING COLUMN EVALUATION TEST METHOD例文帳に追加

ステアリングコラム評価試験装置、およびステアリングコラム評価試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

EXTERNAL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の外付けテスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR PACKAGE TEST BOARD CAPABLE OF TESTING FBGA PACKAGE EASILY例文帳に追加

ＦＢＧＡパッケージのテストを容易に行える半導体パッケージテストボード - 特許庁

EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ADHESION STRENGTH OF LOCK BOLT AND GROUT AND TEST PIECE THEREOF例文帳に追加

ロックボルトとグラウトの付着強度試験方法およびその供試体 - 特許庁

the notch that is made in a piece of test material when testing for the strength of that material 例文帳に追加

材料力学において,試験片につけた切り込み部分 - EDR日英対訳辞書

To easily prepare a testing scenario at low cost, and to execute a test.例文帳に追加

安価で容易に試験用シナリオを作成して試験を実施する。 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY DEVICE EQUIPPED WITH BUFFER FOR TEST AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

テスト用バッファを備えた不揮発性メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

The test path extraction part 313 extracts the testing path and forms the testing path list 500.例文帳に追加

テスト対象パス抽出部３１３はテスト対象パスを抽出し、テスト対象パスリスト５００を作成する。 - 特許庁

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.例文帳に追加

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

To provide a material testing machine that allows easy attachment or detachment of a test piece, prevents the dead weight of the test piece from acting on a test, and performs an accurate test.例文帳に追加

試験片の取付、取外しが容易でかつ試験に試験片の自重が作用せず精度よい試験ができる材料試験機を提供する。 - 特許庁

The connector 1 for a test head is so arranged to carry a test head 3 of an IC tester for connecting the test head to a testing part of an automatic handler.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストヘッド３を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラのテスト部に接続するテストヘッドの接続装置１である。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

A vibration testing system 100 performs a vibration test by loading a test object 13 on a table 1, and exciting the test object 13 with a hydraulic exciter 2.例文帳に追加

振動試験装置１００は、被試験体１３をテーブル１に搭載し、油圧加振機２で加振して振動試験する。 - 特許庁

Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.例文帳に追加

カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁

The framework comprises a Forward Test Application Protocol (FTAP) for testing forward channels and a Reverse Test Application Protocol (RTAP) for testing reverse channels.例文帳に追加

フレームワークは、フォワードチャネルをテストするためのフォワードテストアプリケーションプロトコルおよびリバースチャネルをテストするためのリバーステストアプリケーションから構成される。 - 特許庁

The testing method is constituted for changing the restraint, by making the test body holding means 4 stop in the middle of testing by the test body restraining control means 6.例文帳に追加

試験途中に試験体拘束制御手段６により試験体保持手段４を停止させ、拘束状態を変更する試験方法。 - 特許庁

To provide a collection capacity testing machine of a mask easy to repeat a collection capacity test of the mask.例文帳に追加

マスクの捕集性能試験を繰り返すことが容易な試験機。 - 特許庁

TESTING METHOD, TEST PROGRAM, PROCESS MONITORING METHOD, AND PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加

試験方法、試験プログラム、工程監視方法及び工程監視プログラム - 特許庁

To determine a contact state between a pusher of a test handler and a testing device.例文帳に追加

テストハンドラのプッシャとテストデバイスの間の接触状態を判定する。 - 特許庁

ROLLER FOR BENDING STRENGTH TEST OF CONCRETE AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

コンクリートの曲げ強度試験用ローラおよびこれを用いた試験装置 - 特許庁

DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁

TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY例文帳に追加

光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加

ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁

IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加

インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁

CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TEST METHOD例文帳に追加

電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁