「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁

To provide an oscillator testing method and an oscillator that can test characteristics of a resonator itself of an actual machine.例文帳に追加

実機の共振器自体の特性を試験することができる。 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TEST METHOD AND EXTERNAL WALL FOULING ACCELERATED TESTING DEVICE例文帳に追加

外壁汚れ促進試験方法及び外壁汚れ促進試験装置 - 特許庁

FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST例文帳に追加

探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材 - 特許庁

PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE例文帳に追加

検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc.例文帳に追加

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD例文帳に追加

網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING DEW CONDENSATION CONTROL MECHANISM FOR TEST OBJECT SURFACE例文帳に追加

被試験物表面の結露制御機構を備えた環境試験装置 - 特許庁

ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD例文帳に追加

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、試験パターン生成方法、及び回路試験方法 - 特許庁

TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加

プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁

This diagnostic testing result reader includes a test unit and disabled unit.例文帳に追加

検査ユニット及びディセーブルユニットを含む診断検査結果読取り装置。 - 特許庁

Because it can be used repeatedly, a test harness automates the unit testing. 例文帳に追加

テストハーネスは繰り返し使用できるため、単体テストを自動化します。 - NetBeans

To reduce cost and period in a test device for testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をテストするテスト装置において、費用、期間を削減する。 - 特許庁

TEST PIECE CLAMPING DEVICE AND TESTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

試験片クランプ装置及びこの試験片クランプ装置を備えた試験機 - 特許庁

The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加

ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

An integrated circuit comprises scan test circuitry and additional circuitry subject to testing utilizing the scan test circuitry.例文帳に追加

集積回路は、スキャンテスト回路と、スキャンテスト回路を使用してテストを受ける追加回路とを備える。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.例文帳に追加

テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

To automate a test of a plant control device, to shorten testing time and to improve the accuracy of a test result.例文帳に追加

プラント制御装置の試験を自動化し、試験時間の短縮と試験結果の精度を上げること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

The test orifice circuit includes a test orifice 30a used for testing the performance of an orifice 24f.例文帳に追加

検査用オリフィス回路は、オリフィス２４ｆの性能の検査に用いられる検査用オリフィス３０ａを有する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method for accurately and quickly testing an ADC circuit.例文帳に追加

正確で迅速にＡＤＣ回路のテストを行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

To provide a friction testing machine, capable of testing two test pieces on a testing conditions that are close to the using state with an actual machine that is actually used.例文帳に追加

２つの試験片が実際に用いられる実機での使用状態に近い試験条件で試験できる摩擦試験機を提供すること。 - 特許庁

This is an improved IC tester for testing a test object by a plurality of testing modules.例文帳に追加

本発明は、複数の試験モジュールにより被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.例文帳に追加

高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To simultaneously conduct both colorimetric testing and fluorescent colorimetric testing on multiple-well test panels.例文帳に追加

多重ウェル試験パネル上での比色定量型試験と蛍光比色型試験の両方を同時に実行する。 - 特許庁

To prevent a support bearing from being broken during a test, in a bearing testing device for testing a test bearing by mounting the test bearing on a rotating shaft supported by the support bearing.例文帳に追加

支持軸受に支持された回転軸に供試軸受を装着して当該供試軸受の試験を行う軸受試験装置において、試験中に支持軸受が破壊されることを防止する。 - 特許庁

The test system is acquired by improving a test system for testing the test object for inputting the TMDS signal by the IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a biaxial testing device and a biaxial test method capable of enlarging a test space and reducing test cost.例文帳に追加

試験スペースの拡大化及び試験コストの低減化を実現することが可能である二軸試験装置及び二軸試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加

情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, METHOD OF TESTING THE SAME AND METHOD OF INITIALIZING FLIP-FLOP例文帳に追加

スキャンテスト回路とそのテスト方法、およびフリップフロップの初期設定方法 - 特許庁