「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing device is provided with two or more of a surface shape testing device (3), a hardness testing device (5), and tensile testing device (6); a test piece transporting device (7) which transports the test piece in the order of testing steps; and a controller which automatically controls the transportation of the test piece and the testing work of each testing device.例文帳に追加

この試験装置は、表面性状試験装置（３），硬さ試験装置（５），引張試験装置（６）のうち２以上の装置、およびこの試験工程順に試験片を搬送する試験片搬送装置（７）、試験片の搬送及び各試験装置における試験作業を自動操作する制御装置を備えている。 - 特許庁

The test result input section 22 receives the input of the test result of the test pattern carried out in the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.例文帳に追加

試験結果入力部２２は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１で行ったテストパターンの試験結果が入力される。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY UNIT FOR REPEATER AND METHOD FOR TESTING MEDIUM例文帳に追加

中継器用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND TEST PIECE FOR TESTING THERMAL FATIGUE例文帳に追加

熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 - 特許庁

To provide a testing apparatus which brings about further accurate test results by enabling a test to be performed even in a small piece of land by a self-propelled testing machine.例文帳に追加

狭い土地であっても自走式試験機による試験を可能とし、より正確な試験結果を得る試験装置の提供。 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加

高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

WATER FLOW TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND WATER FLOW TEST BODY THEREFOR例文帳に追加

排水管の通水試験方法及びその通水試験体 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL PANEL, AND TEST PROBE例文帳に追加

検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR PRESCRIBED TEST ITEM WITH REFERENCE TO APPARATUS TO BE MEASURED例文帳に追加

被測定装置に対する所定試験項目の試験装置 - 特許庁

To reduce test patterns used in testing a decoding processor.例文帳に追加

復号処理装置をテストする際のテストパターンの量を削減する。 - 特許庁

A test assembly 2000 is designed for testing product circuitry of a product die 2011.例文帳に追加

製品ダイ2011の製品回路をテストするためのテストアセンブリ2000。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST DEVICE AND METHOD OF TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加

無線基地局試験装置及び無線基地局の試験方法 - 特許庁

MICROREACTOR FOR TESTING BIOLOGICAL SUBSTANCE AND BIOLOGICAL SUBSTANCE TEST DEVICE例文帳に追加

生体物質検査用マイクロリアクタおよび生体物質検査デバイス - 特許庁

CONTAINER FOR CELL TEST AND METHOD FOR TESTING CELL USING THE SAME例文帳に追加

細胞試験用容器及びそれを用いた細胞試験方法 - 特許庁

TANK PIPE PRESSURE TEST METHOD AND TANK PIPE PRESSURE TESTING DEVICE例文帳に追加

タンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置 - 特許庁

MEMORY ERROR CORRECTION AND DETECTION CIRCUIT TEST SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

メモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加

電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法 - 特許庁

LUBRICITY TEST METHOD OF LUBRICANT, AND FRICTION TESTING DEVICE例文帳に追加

潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置 - 特許庁

COUPLING DEVICE FOR TEST HEAD OF WAFER TESTING SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加

ウェハ試験システムのテストヘッドとプロ—ブカ—ドとを結合する装置 - 特許庁

EXECUTION METHOD OF PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW例文帳に追加

画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加

自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY TESTING PLURAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS例文帳に追加

複数の半導体素子を同時にテストする半導体テスト装置 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＭテスト回路、情報処理装置、及びＲＡＭテスト方法 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, CONVEYER, AND TEST BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの自動試験装置、搬送装置、及びテストボード - 特許庁

TESTING METHOD OF MYASTHENIA GRAVIS AND ITS TEST AGENT例文帳に追加

重症筋無力症の検査方法及びそのための検査薬 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、その試験装置、及びその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR ACCELERATION TESTING OF LONG-TERM SANITARY RETENTIVITY OF GLAZED SURFACE OF SANITARY WARE AND TEST LIQUID FOR TESTING ACCELERATION例文帳に追加

衛生陶器施釉面の長期衛生保持性の加速試験方法および加速試験用試験液。 - 特許庁

TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING例文帳に追加

試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁

To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

VARIABLE TYPE TEST ANVIL FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH TESTING-MACHINE FOR CONCRETE OR THE LIKE, TESTING METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH TESTING-MACHINE, AND TESTING METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH FOR CONCRETE OR THE LIKE例文帳に追加

コンクリートなどの非破壊強度試験機用の可変型テストアンビル、非破壊強度試験機の試験方法及びコンクリートなどの非破壊強度試験方法 - 特許庁

To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields.例文帳に追加

検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.例文帳に追加

柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁

To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加

テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

The test pattern editing section 23 edits the test patter output to the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.例文帳に追加

テストパターン評価装置２３は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１に出力されるテストパターンを編集する。 - 特許庁

The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加

テスト回路１６０は、メモリー２０をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー２０のテスト結果を取得する。 - 特許庁