「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION例文帳に追加

自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体素子の試験方法及びその試験装置 - 特許庁

To provide reproducibility in testing conditions of submergence test.例文帳に追加

水没試験の試験条件に再現性を持たせる。 - 特許庁

To provide an automatic test system for testing smart card chips.例文帳に追加

スマートカードチップを検査するための自動検査システム。 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST例文帳に追加

熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁

CORROSION THINNING TESTING DEVICE AND CORROSION THINNING TEST METHOD例文帳に追加

腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法 - 特許庁

TIRE RUNNING TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING RUNNING OF TIRE例文帳に追加

タイヤ走行試験装置及びタイヤ走行試験方法 - 特許庁

TESTING MACHINE WITH PRESSURE-RESISTANT CHAMBER AND TEST METHOD USING SAME例文帳に追加

耐圧室付き試験機とこれを使用した試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DURABILITY AND MACHINE FOR DURABLE AND FRICTIONAL TEST例文帳に追加

耐久性の試験方法及び耐久摩擦試験機 - 特許庁

TEMPERATURE TEST CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING APPARATUS例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置の温度試験制御方式 - 特許庁

TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加

応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING BALANCE DEVICE FOR ELEVATOR AND JIG FOR TEST例文帳に追加

エレベータの秤装置の試験方法および試験用治具 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST例文帳に追加

ＧＵＩプログラムテスト装置およびＧＵＩプログラムテスト方法 - 特許庁

To provide a tire noise testing device acquiring higher-accuracy tire noise test results.例文帳に追加

より精度の高いタイヤ騒音試験結果を得る。 - 特許庁

TRANSMISSION OIL BEHAVIOR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加

トランスミッションオイル挙動試験方法およびその試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF FERROELECTRIC MATERIAL AND TESTING DEVICE例文帳に追加

強誘電体材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST METHOD, ORGANIC GAS SUPPLY DEVICE, AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

試験方法、有機ガス供給装置及び試験装置 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁

LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

回路劣化試験装置および回路劣化試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ＣＭＯＳ集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

ELECTRIC TEST SYSTEM FOR TESTING CHANNEL OF COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムのチャネルをテストするための電気テストシステム - 特許庁

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加

電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD PRIOR TO PLATING AND INSTRUMENT FOR TEST PRIOR TO PLATING例文帳に追加

めっき前検査方法およびめっき前検査装置 - 特許庁

PRESSURE TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF COMPRESSED-GAS CYLINDER例文帳に追加

高圧ガス容器の耐圧試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, MEASURING DEVICE, TEST METHOD AND MEASURING METHOD例文帳に追加

試験装置、測定装置、試験方法および測定方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT例文帳に追加

電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

TEST PIECE FOR HIGH PRESSURE AIR-TIGHT TESTING DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE例文帳に追加

高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル - 特許庁

METHOD FOR TESTING CIRCUIT USING SHARED BANDWIDTH TEST BUS例文帳に追加

共有帯域幅試験バスを用いた回路試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

IC-TESTING APPARATUS AND TEST METHOD USING THE APPARATUS例文帳に追加

ＩＣ試験装置及びその装置を用いる試験方法 - 特許庁

PROBE FOR IC TEST AND DC TESTING DEVICE FOR IC例文帳に追加

ＩＣ試験用プローブ及びＩＣの直流試験装置 - 特許庁

TAPE FOR SIMPLE AMMONIA LEAK TEST AND LEAK TESTING METHOD例文帳に追加

簡易アンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING COMMUNICATION TRANSMISSION LINE, AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

通信伝送路の試験方法及び試験制御方法 - 特許庁

ACCEPTANCE-TESTING TERMINAL DEVICE, ACCEPTANCE TEST SUPPORT SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

検収用端末装置、検収支援システム及びプログラム - 特許庁

RAID TEST SYSTEM, RAID TEST PROGRAM AND RAID TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラム及びＲＡＩＤ試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE AND TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストモードを備えた集積回路および集積回路のテストのためのテスト装置 - 特許庁

METHOD, TEST CHAMBER AND TEST SETUP FOR LEAK TESTING OF CLOSED CONTAINERS例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成 - 特許庁

TEST STATE EVALUATING METHOD, TESTING MACHINE, AND TEST CONDITION EVALUATING METHOD例文帳に追加

試験状態の評価方法及び試験機及び試験条件の評価方法。 - 特許庁

To provide a test method and a test device testing a flash memory in a short time.例文帳に追加

フラッシュメモリを短時間に試験する試験方法と、試験装置を提供する。 - 特許庁