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testing testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2972件
To provide a testing method for a printed circuit board capable of testing continuity between an integrated circuit and the printed circuit board in a short time, and capable of facilitating generation of a test signal.例文帳に追加
本発明は、集積回路とプリント回路板との接続性の試験を短時間で行うことができ、テスト信号の生成が容易となるプリント回路板の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus for testing a semiconductor, which can appropriately arrange a connection cable connecting a test head with its testing main body, while preventing the connection cable from breaking, even in the case the connection cable gets loose.例文帳に追加
試験装置本体とテストヘッドとを接続する接続ケーブルに弛みが生じた場合、接続ケーブルを断線させることなく、適切に配置することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a PCS testing apparatus and a PCS testing method in which an operation test of a communication device can be performed in the case that a frame is transmitted and received at a specific inter-frame gap.例文帳に追加
本発明は、特定のフレーム間ギャップでフレームを送受信した場合における通信機器の動作試験を可能にするPCS試験装置及びPCS試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide an aging testing method of cement-based building material, capable of performing an aging test corresponding to an actual aging state and an aging testing apparatus used therein.例文帳に追加
実際の加齢状況に則した加齢試験を行うことができるセメント系建材の加齢試験方法およびこの試験方法に用いる加齢試験機を提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide a testing device that can test a semiconductor wafer without making any failures, especially by being used as a device for testing the characteristics of individual chips by bringing probes to both surfaces of the wafer.例文帳に追加
本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、確実に半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁
To provide a testing method and testing device of precisely and efficiently performing a test even to a board having patterns aligned with high density, and a manufacturing method of electro-optical device.例文帳に追加
高密度に配列されたパターンを有する基板に対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできる検査方法及び検査装置並びに電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method and a testing device capable of detecting deterioration in insulation performance by pin holes and stably measuring the value of impedance without damaging an insulating layer accompanied by the test.例文帳に追加
試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。 - 特許庁
To test engine cooling with an engine testing device for testing engine characteristics by connecting the engine to an absorbing motor and accurately simulating the high speed running.例文帳に追加
本発明は、吸収電動機にエンジンを連結してその連結したエンジンの特性を試験するエンジン試験装置に関し、エンジンの冷却について、高速走行を高精度に模擬した試験を行なう。 - 特許庁
To accurately measure a temperature of a testing solution used for dissolving a test tablet, and to control the temperature with high responsiveness, without disturbing an agitation condition of the testing solution.例文帳に追加
試験錠剤の溶解に用いる試験溶液の撹拌状態を乱すことなく該溶液の温度を正確に測定し且つ高い応答性を以て該温度を制御できる錠剤溶出試験機を提供する。 - 特許庁
Article 46 (1) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may have its designate (hereinafter referred to as "designated testing agency") conduct the services related to execution of the Operation Manager test (hereinafter referred to as "testing procedures"). 例文帳に追加
第四十六条 国土交通大臣は、その指定する者(以下「指定試験機関」という。)に、運行管理者試験の実施に関する事務(以下「試験事務」という。)を行わせることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a static load testing method for conducting a test by applying load in only one direction, testing changes of load in a pulling-up process, and grasping properties of the ground by a simple method to conduct research on an accurate N value and geological features.例文帳に追加
載荷荷重を一方向のみに付加して試験するとともに、引き上げ過程の荷重変化をも試験し、簡素な方法で地盤の性状を把握し正確なN値、地質の調査を可能にする。 - 特許庁
To provide a device and a method for dynamic wind tunnel testing in order to inhibit the deviation of a wind tunnel testing model from its wind tunnel measuring section, relax the limits to the test range, and minimize transient phenomena in transition to free flight mode.例文帳に追加
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁
To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加
直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a single sensor type indentation test system due to an indentation testing machine constituted by more simplifying the structure of the testing machine by replacing displacement with the number of pulses and calibrating the displacement to compensate the displacement.例文帳に追加
変位をパルス数で置換し、また較正することで変位を補償し試験機の試験機の構造をよりシンプルにした押込み試験機によるシングルセンサー式押込み試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a peel testing machine capable of easily performing a tape peel test under a constant condition, and an evaluation method for calculating the peel ratio from a tape peeled by the peel testing machine to evaluate the peelability of the tape.例文帳に追加
テープ剥離試験を一定の条件で容易に行うことができる剥離試験機及び剥離試験機で剥離したテープから剥離率を求めて評価する評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a horizontal load testing method of a pile capable of more accurately grasping the behavior of the pile in the actual on-the-spot ground and capable of performing a test at a low cost without making a testing machine large-scaled.例文帳に追加
実際の現地地盤中での杭の挙動をより正確に把握できると共に、試験装置が大掛かりにならず低コストで実施可能な杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a software test system that enables concurrent testing on a plurality of computers and also enables the testing by an operator's appropriate judgement, even if there are differences in displays.例文帳に追加
本発明の目的は、複数台の計算機のテストを同時に並行して可能であると共に、表示の差異があってもオペレータが適宜判断しながらテスト可能なソフトウェアテスト装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加
ICの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるIC試験装置及びIC試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device having heightened reliability of a test result by testing many semiconductor devices loaded on a burn-in board without wrong determination.例文帳に追加
バーンインボード上に搭載される多数の半導体装置に対する試験を誤判定を生じることなく実施できるようにして、試験結果の信頼性を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加
プログラムメモリ部24は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、DUTの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の1つである。 - 特許庁
To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加
この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁
The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加
被試験半導体1に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部3を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部3が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部3の外部へ出力するテストログ回路6を設けた。 - 特許庁
To obtain a high-detection rate while expecting effects by a reduction in the number of pins and an increase in the speed of testing by performing a logic BIST test.例文帳に追加
ロジックBISTテストを行なうことによるテストの高速化およびピン数削減の効果を期待しつつ、高検出率を得る。 - 特許庁
To provide a liquid tank type thermal shock testing device capable of reducing a consumption by diffusion of a bath liquid, and suitable for a test for a long period.例文帳に追加
浴液の拡散による消費が少なく、長期間の試験にも適した液槽式冷熱衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁
To propose a bearing test device capable of accurately testing contact revolutions or the like of a hydrodynamic bearing without adopting the AE method.例文帳に追加
AE法を採用することなく、精度良く、動圧軸受の接触回転数等を検査可能な軸受検査装置を提案すること。 - 特許庁
To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.例文帳に追加
メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁
The machine for testing contour and barrier of the bottle 10 continuously-fed to two test stations through conveyor 12 is disclosed.例文帳に追加
コンベア12により連続的に2つの検査ステーションに供給される瓶10の輪郭及び壁を検査する機械が開示されている。 - 特許庁
To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加
データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁
The testing apparatus also includes a full-power converter assembly test connection (126/128) coupled to the electric power grid simulation device.例文帳に追加
試験装置はまた、電力送電網シミュレーション・デバイスに結合された全出力コンバータ・アセンブリ試験接続部(126/128)を備えている。 - 特許庁
To detect a differential nonlinear characteristic error and a miss code by a simple test procedure without requiring a special testing device outside.例文帳に追加
外部に特別な試験装置を必要とせず、簡単なテスト手順で微分非直線特性誤差及びミスコードの検出が可能とする。 - 特許庁
At the time of testing, write driver decoders WDC1 and WDC2 are driven in response to inputs to test decoding lines TL1 to TL4.例文帳に追加
テスト時において、テスト用のデコード線TL1〜TL4の入力に応答してライトドライバデコーダWDC1,WDC2が駆動される。 - 特許庁
To provide a tire pressure test device capable of efficiently and safely testing whether or not to endure a predetermined air pressure to be filled.例文帳に追加
充填される所定のエアー圧に耐えるか否かを、効率よくしかも安全にテストすることが出来るタイヤ耐圧テスト装置の提供。 - 特許庁
To provide a laboratory capable of lowering an average wind amount in the whole test, while ensuring a required wind velocity during actual testing.例文帳に追加
実試験時に必要な風速を確保しつつ、全試験中の平均風量を低下させることができる試験設備を提供すること。 - 特許庁
To provide a load testing device for a manhole for carrying out, on a spot, a load resistance test of the manhole installed in a company yard.例文帳に追加
事業場構内に設置されているマンホールの耐荷重性試験を現地で行うためのマンホール用荷重試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide drop testing equipment which can automatically altering a plurality of the predetermined dropping postures to a landing surface of a test target.例文帳に追加
試験対象物の着地面への複数の所定の落下姿勢を自動的に変更することが可能な落下試験装置を提供する。 - 特許庁
To improve efficiency in testing by quickly and easily performing suspension work of an object to be tested when performing a drop test repeatedly and continuously.例文帳に追加
落下試験を繰り返し連続的に行う際に、被試験体の吊上げ作業が短時間で簡単にできて試験効率を良くする。 - 特許庁
To provide a floor material testing apparatus capable of applying load to a floor material in a state nearer to the walking of a person to perform a test.例文帳に追加
人の歩行により近い状態で床材に荷重をかけて試験を行うことができる床材の試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test device of a turbocharger capable of testing the turbocharger by easily adjusting the number of revolutions of the turbocharger to a predetermined value.例文帳に追加
容易にターボチャージャの回転数を所定値に調整して、試験することを可能にするターボチャージャの試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加
デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁
To provide a network equipment test system and method for shortening a time for testing network equipment to reduce costs of the network equipment.例文帳に追加
ネットワーク機器の試験時間を短縮してネットワーク機器のコストを低減できるネットワーク機器試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a horizontal load testing method of pile for searching for dispersion in level resistance of the pile by a single static horizontal loading test.例文帳に追加
1回の静的水平載荷試験により杭の水平抵抗のばらつきを求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output.例文帳に追加
この発明は、多値出力のパス/フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an operation testing device for an elevator governor capable of conducting an operation test without removing a governor rope from a governor sheave.例文帳に追加
調速機ロープを調速機シーブから外すことなく動作試験を行うことができるエレベータ調速機の動作試験装置の提供。 - 特許庁
The semiconductor circuits 101 are set in test mode for testing the operation of the plurality of semiconductor circuits 101 by the setting circuits 102.例文帳に追加
設定回路102により、半導体回路101を、複数の半導体回路101の動作を試験する試験モードに設定する。 - 特許庁
To provide a vibration testing device capable of performing a vibration test of vibrating a work with long period and large acceleration amplitude.例文帳に追加
長周期且つ大加速度振幅でワークを振動させるような振動試験を行うことが可能な振動試験装置提供する。 - 特許庁
To provide a D/A converter and an operation testing method thereof that can shorten a test time without using a high-precision voltmeter.例文帳に追加
高精度な電圧計を使用することなくテスト時間の短縮を図ることができるD/Aコンバータ及びその動作テスト方法を得る。 - 特許庁
To make performable a burn-in test by control of a small number of pins by applying a memory BIST circuit and reducing a testing circuit inside a memory macro.例文帳に追加
メモリBIST回路を流用することで、メモリマクロ内のテスト回路削減し、少数ピンの制御によるバーンインテストを可能にする。 - 特許庁
To provide an engine testing method and device capable of securing safety as well as easily performing preparatory work before a test.例文帳に追加
安全性を確保でき、且つ、試験前の準備作業を簡単に行うことのできるエンジン試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
(h) Among test equipment for testing semiconductor devices or integrated circuits or those semi-finished products, those that fall under any of the following 例文帳に追加
チ 試験装置であって、半導体素子若しくは集積回路又はこれらの半製品用のもののうち、次のいずれかに該当するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
| 例文 |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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