「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

To dispense with the change of subscriber data when performing an origination test, and to eliminate the necessity of preparing the subscriber data for testing.例文帳に追加

発信試験を実施するときに、加入者データを変更せずに済み、試験用の加入者データを用意する必要性をなくすことができるようにする。 - 特許庁

First, a testing value of quantizing step width W_o is set, and a coding quantity of a base layer L_o is calculated by coding only the base layer using the test value W_o.例文帳に追加

まず最初に、量子化ステップ幅の試験値Ｗ_0 を設定し、それを使ってベースレイヤのみを符号化することで、ベースレイヤの符号量Ｌ_0 を算出する。 - 特許庁

To provide a tool for leak test for rapidly and certainly performing sealing to an testing object portion of the pipe to which a flange is attached.例文帳に追加

フランジが取り付けられた配管の検査対象部分に対する封止を、短時間で確実に実施可能とする漏洩検査用治具を提供することである。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

To provide a corrosion-proof testing device for performing safely a corrosion test by salt water, hydrofluoric acid, sulfuric acid or nitric acid in the air, hydrogen or oxygen.例文帳に追加

空気・水素・酸素中において、塩水・フッ化水素酸・硫酸・硝酸による腐食試験が安全にできる耐腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁

A system 30 for testing a digital circuit by the scanning chain includes a tester 21, and the circuit 24 under the test as the whole or portion thereof.例文帳に追加

走査チェーンによってディジタル回路をテストするためのシステム３０は、テスター２１、およびその全てあるいは部分としてテスト中回路２４を含んでいる。 - 特許庁

The high production or cost reduction of the semiconductor device is attained by performing an element test of the semiconductor element 20 with this element testing device 1.例文帳に追加

このような素子試験装置１を用いて、半導体素子２０の素子試験を行うことにより、半導体装置の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

SEALABILITY TESTING DEVICE OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN, AND SEALABILITY TEST METHOD OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN USING THE DEVICE例文帳に追加

接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験装置及びこれを用いた接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験方法 - 特許庁

The apparatus and method are particularly useful for digital signal processing in communications and for performing digital transition timing testing on a device under test.例文帳に追加

装置および方法は、通信におけるデジタル信号処理および試験対象デバイスについてデジタル遷移タイミング試験を実行するのに特に有効である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing increase in cost and degradation in signal waveform, by preventing crossing of connection wires at a test head.例文帳に追加

テストヘッドにおける接続線の交差を解消することで、コストの上昇や信号波形の劣化を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for lens array capable of testing a lens array having an eccentric lens in which the optical axis position deviates from the geometrical center of lens.例文帳に追加

光軸位置がレンズの幾何学的な中心からずれている偏心レンズを有するレンズアレイの検査を行うことが可能なレンズアレイの検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the occupied area of a test circuit from increasing and simultaneously testing operations tests of plural memory circuits.例文帳に追加

試験回路の占有面積増加を抑え、且つそれにより複数のメモリ回路の動作試験を同時に実施することが可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a large-sized rock bed testing apparatus small-sized as compared with the size of a test object but constituted so as to be capable of holding a loading axis accurately.例文帳に追加

試験体の大きさの割には小型であって、精度良く載荷軸心を保つことが出来るようにした大形岩盤試験装置を提供する。 - 特許庁

Just as Fortran-77 introduced the zero-trip loop in order to remove the need to test on a zero iteration loop, so Fortran 90 removes the need for further testing on zero. 例文帳に追加

Fortran-77がゼロ繰り返しループをテストする必要をなくすためにゼロトリップループを導入したのと同様に、Fortran 90はゼロのさらなるテストの必要をなくしている。 - コンピューター用語辞典

Use the Web Services wizards and Web Service Visual Designer to create and develop web services (including Apache Axis2 web services) from Java classes or WSDL files.Use the new soapUI plugin to create web service testing projects which include test cases and allow SOAP monitoring.例文帳に追加

新しい soapUI プラグインを使用して、Web サービスのテストプロジェクトを作成できます。 これには、テストケースが含まれており、SOAP の監視を行うことができます。 - NetBeans

The amount of the fuel oil A used for the test is sufficiently 1 L and 20 minutes is enough as the testing time and the permeation property of oil through filter can be evaluated highly efficiently.例文帳に追加

試験に使用するＡ重油の量が１Ｌで済み、試験時間は２０分あれば十分であり、高効率でフィルター通油性を評価できる。 - 特許庁

To shorten testing time by simultaneously conducting the DC characteristic tests of a plurality of input buffers per one step of the DC characteristic test.例文帳に追加

ＤＣ特性テストの１ステップ当たり複数個の入力バッファのＤＣ特性テストを同時に行うことによりテスト時間の短縮を可能とする。 - 特許庁

To provide a LSI testing probe and an IO pad that can implement a LSI probe test without making scratches that can be a cause of wire bonding failures.例文帳に追加

ワイヤボンディング不良の原因となる傷を生じることなくＬＳＩをプローブ検査できるＬＳＩ検査用プローブおよびＩＯパッドを提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable vibration test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した振動試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

At the time of testing power source voltage variation, the sequence circuit 8 transmits a power source voltage change request signal to the power source voltage control circuit 10, and stops a test.例文帳に追加

電源電圧変動テスト時には、シーケンス回路８が電源電圧制御回路１０に電源電圧変更要求信号を伝達し、テストを中断する。 - 特許庁

To provide an electrode pattern testing method that can test an electrode pattern of a PDP(plasma display panel) and other FPDs(flat panel display) having the same structure with high accuracy.例文帳に追加

ＰＤＰやその他同様の構造を持つＦＰＤの電極のパターン検査を精度良く行うことができる電極パターン検査方法を提供する。 - 特許庁

The foam discharge testing device includes a foam test tank 10 for storing an agent T for the inspection separately from an undiluted solution storage tank 1 for storing a foam extinguishing undiluted solution E.例文帳に追加

泡消火薬原液Ｅを貯留する原液貯留タンク１とは別に、点検用薬剤Ｔを貯留する泡試験用タンク１０を備えている。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable compound environmental test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した複合環境試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device for preventing a fall of a performance board by using an inexpensive sensor to detect a small inclination of a test head.例文帳に追加

安価なセンサを使用してテストヘッドの小さな傾きを検出し、パフォーマンスボードの落下を防止することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a plane bending fatigue-testing device for obtaining the identical fatigue testing conditions between plane bending rocking to one surface side and that to the other surface side with respect to a test piece, for reducing the influence of vibration, and for accurately performing a plane bending fatigue test even if a metal plate new material is used as the test piece.例文帳に追加

本発明は、試験片に対し、その一面側への平面曲げ揺動時と他面側への平面曲げ揺動時とで同一の疲労試験条件が得られることや、振動の影響を低減すること、金属板新素材を試験片として用いた場合であっても平面曲げ疲労試を精度よくなし得る平面曲げ疲労試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加

音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部１０ａと、音楽を出力する音声出力手段５と、検査質問を表示する表示手段２と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段３と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段１と、を備えている。 - 特許庁

To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加

ＯＦＦリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Ｉｄｄｑ試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加

本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.例文帳に追加

ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a stress-testing circuit and a stress-testing method for quickly and easily executing the stress test of a transistor switch in a semiconductor integrated circuit for selecting a multiple-value analog gradation voltage by a plurality of transistor switches for outputting.例文帳に追加

多値のアナログ階調電圧を複数のトランジスタスイッチで選択して出力する半導体集積回路において、トランジスタスイッチのストレス試験を短時間且つ容易に実施できるストレス試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.例文帳に追加

異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device for an electrically-driven actuator for a valve opening/closing and a test method for the electrically-driven actuator for the valve opening/closing capable of performing various tests for maintenance inspection of the electrically-driven actuator by one testing device.例文帳に追加

弁開閉用電動アクチュエータの保守点検のための種々の試験を一台の試験装置で行うことができる弁開閉用電動アクチュエータの試験装置及び弁開閉用電動アクチュエータの試験方法を提供する。 - 特許庁

i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

１　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

In this MCM M1, a test is performed by successively repeating a procedure of supplying the power source to only a testing object bare chip among plural bare chips and of not supplying the power source to the other bare chips by changing the testing object bare chip.例文帳に追加

このＭＣＭにおいて、複数のベアチップのうち、被試験ベアチップのみに対しては電源供給を行い、その他のベアチップに対しては電源供給を行わない手順を、被試験ベアチップをかえて順次繰返し、試験を行う。 - 特許庁

This post-operative prognosis testing method for the patients with lung cancer, which includes measuring of the amount of manifestation endogenous secretory RAGE (Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products: esRAGE), a test kit used for the above method, a prognosis testing reagent for the patients with lung cancer comprising anti-esRAGE antibody, etc.例文帳に追加

内在性分泌型RAGE（Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products :esRAGE）の発現量を測定することを含む、肺癌患者の術後予後検査方法、それに使用する検査キット、抗esRAGE抗体から成る肺癌患者の予後検査用試薬等を提供する。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

Consequently, the joining strength is easily and rapidly found by dispensing with preparation of testing members, and joining and strength test of each testing member, for each joining of each joining member, which are needed in prior arts.例文帳に追加

これによって従来技術のように各接合部材の接合ごとに、供試部材の準備、各供試部材の接合、供試部材の強度試験を行なう必要がなく、接合強度を容易にかつ短時間に求めることができる。 - 特許庁