「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a semiconductor testing device capable of judging the output signal of an IC to be measured in each phase by one test cycle without using a pin multiplex.例文帳に追加

本発明は、ピンマルチプレクスを使用せずに、１回の試験サイクルで各位相における被測定ＩＣの出力信号を判定できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ex-vivo test kit for testing the effectiveness of a reverser in the blood, serum, or plasma of a patent containing the reversers of multidrug resistance.例文帳に追加

多重薬剤耐性のリバーサ−を含む患者血液、血清又は血漿中の当該リバーサ−の効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キットを提供する。 - 特許庁

To provide a material testing device capable of accurately capturing a moment of breakage without taking time and labor of forming a thin film pattern of a conductor on a surface of a test piece.例文帳に追加

試験片の表面に導体の薄膜パターンを形成するような手間をかけず、破損の瞬間を正確に捉えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

To provide a mother panel allowing an energization test in the form of the mother panel, an energization testing method for the mother panel, and an information display panel manufactured by using the mother panel.例文帳に追加

マザーパネルの状態でも通電検査することができるマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネルを提供する。 - 特許庁

You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Run File TestLibClass.java from the Run menu.例文帳に追加

プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「 LibClass.java 」タブを選択し、「実行」メニューから「実行」「ファイルを実行」「LibClass.java をテスト」を選択します。 - NetBeans

To quantitatively simulate noise mixed into a black burst signal, for example, by applying to the testing of a broadcast system concerning a test signal generator.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置に関し、例えば放送システムの試験に適用して、ブラックバースト信号に混入するノイズを定量的にシミュレートすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a module (DUT) to be tested, removed from a scan path for a chip test of ASIC, using a simple mechanism without using a special testing module or the like.例文帳に追加

ＡＳＩＣのチップ・テストのために、スキャン・パスから外れたＤＵＴを、特別なテスト・モヂュールなど無しに、簡単な機構で検査していく手段を実現すること。 - 特許庁

The laser beam generating device 10 and the detector 20 form a transmissive testing device, positioned such that the laser beam generating device 10 and the detector 20 face each other with the semiconductor device 15 that is the test subject therebetween.例文帳に追加

ここでレーザ発生装置１０と検出器２０とは、検査対象となる半導体装置１５を挟んで対向して位置する透過型の検査装置を構成する。 - 特許庁

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

To realize an efficient data compression test by a smaller number of wirings in a data compression testing technique of a memory chip.例文帳に追加

本発明は、メモリチップのデータ圧縮テスト技術に関し、より少ない配線数で、効率の良いデータ圧縮テストを実現できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

There are provided the improved IC tester for connecting the performance board connected electrically to a tested object electrically with a testing head to test the tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象と電気的に接続するパフォーマンスボードとテストヘッドを電気的に接続し、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

Test systems (10, 25) contain generators (12, 22) and analyzers (13, 21) that co-operate for testing a device (11) provided with a plurality of device communication channels.例文帳に追加

本発明のテストシステム（１０，２５）は、複数の装置通信チャネルを有する装置（１１）をテストするために共働動作する発生器（１２，２２）及び解析器（１３，２１）を含む。 - 特許庁

To provide an airtightness testing method of a simple constitution capable of highly sensitively verifying the presence or absence of leak locations and provide a collection container for airtightness test used for the method.例文帳に追加

簡単な構成で、感度良く漏れ箇所の有無を確認することができる気密試験方法およびこの方法に使用する気密試験用捕集容器を提供する。 - 特許庁

To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加

発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁

The testing method uses the standard test specimen.例文帳に追加

水溶性樹脂及び水溶性抗菌剤を含む抗菌性水溶性樹脂層をプラスチックフィルムに形成してなる抗菌性試験用標準試験片およびそれを使用した試験方法である。 - 特許庁

At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加

テスト時、３ステートバッファ７Ａ，７Ｂをオフ状態にし、入出力端子１Ａ，１Ｂをそれぞれスキャンパス３_1 〜３_m ，３_m+1 〜３_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing light stability, which can easily carry out an exchanging work and a dimmer control for a light source and can effectively carry out a test under a high temperature and a low temperature conditions.例文帳に追加

光源の交換及び調光が容易で、高温及び低温の条件下での試験を効率的に実施することが可能な耐光性試験装置を提供する。 - 特許庁

A weight body 13 is held by a holding device 4B of the pile driver body 1, a load mounting test is performed to a testing pile 5 by making it fall after it has been moved to a position with a predetermined height.例文帳に追加

前記杭打ち機本体１の把持装置４Ｂに錘体１３を把持させ、所定の高さ位置に移動後落下させて試験用杭５に載荷試験を行う。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

The load testing device 202 is configured so that pseudo monitor data 206 can be included in the pseudo agent 203 so that the test can be executed without installing any actual monitored device 106.例文帳に追加

負荷試験装置２０２は、実際の監視対象装置１０６が無くても試験が実施できるよう、疑似エージェント２０３内に疑似監視データ２０６を持つよう構成する。 - 特許庁

The test circuit for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, whereby the taking a terminal for testing the SDRAM 101 outside of the SIP101 is dispensed with.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００内に、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路を設けることにより、ＳＤＲＡＭ１０１のテストのための端子をＳＩＰ１０２の外部に出す必要がなくなる。 - 特許庁

To provide a concrete compressive strength testing device having a simple structure capable of performing a highly accurate compressive strength test by applying a required compressive load to a concrete specimen.例文帳に追加

コンクリート供試体に所要の圧縮荷重を加えて高精度の圧縮強度試験を行うことができる簡易型構造のコンクリート圧縮強度試験装置を得る。 - 特許庁

The semiconductor device is provided, between a plurality of chips 2 formed on a wafer 1, with a test circuit including a TAP 3 for accessing an objective circuit 5 in a chip externally and testing the circuit 5.例文帳に追加

ウエハ１上に形成された複数のチップ２間にチップ内のテスト対象回路５に外部からアクセスしてテストを行うＴＡＰ３を含むテスト回路を備える。 - 特許庁

To provide an IC card testing technique for reducing the data transmitting time, and for speeding up test by reducing data transfer between a tester and an IC card to the minimum.例文帳に追加

テスタとＩＣカードとのデータ転送を最小限に抑えてデータ転送時間を削減し、試験の高速化を図ることができるＩＣカードの試験技術を提供する。 - 特許庁

Shift registers SR_B and SR_C which operate in the test mode are formed in non-testing blocks B and C, by the use of flip-flops which operate ordinarily in an ordinary mode.例文帳に追加

通常モード時に通常動作を行うフリップフロップを用いて、テストモード時に動作するシフトレジスタＳＲ＿ＢおよびＳＲ＿Ｃを非試験ブロックＢおよびＣに構成する。 - 特許庁

To provide a wiring board on which pads are formed as test pads or jumpers by printing or applying a conductive material, and to provide its testing method.例文帳に追加

配線基板上に、導電性材料の印刷，塗布によりテストパットまたはジャンパとしてパットを形成するようにした、配線基板およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the circuit 62 is connected to a control part for testing 64 in which a shift register which is to be operated in synchronization with a test clock TST-CLK is incorporated.例文帳に追加

状態設定回路６２は、さらにテストクロックＴＳＴ−ＣＬＫに同期して動作するシフトレジスタを内蔵した試験用制御部６４に接続されている。 - 特許庁

In this way, a time change to a testing time is carried in a necessary part without changing the time of the system as a whole, so that a test can be carried out without any influence on the on-line action.例文帳に追加

このようにして、システム全体の時刻を変更せずに、必要な一部を試験用の時刻に変更し、オンライン動作に影響を与えずに試験が行える。 - 特許庁

To provide a combination test method capable of testing easily a receiver for inputting a signal including a desired amount of jitter, even when an output signal from a transmitter is at a high speed.例文帳に追加

送信装置の出力信号が高速でも所望量のジッタを含む信号を入力する受信装置のテストを簡易に行える組合せ試験方法の提供。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide a remote testing apparatus for a protective device in which an artificial readout error does not occur and by which an operator need not go to a distant place for a test.例文帳に追加

人為的読取り誤差が発生することがなく、また、試験のために作業者が遠隔地まで出向く必要がない保護装置の遠隔試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

To obtain a circuit and method for testing a microcomputer capable of performing test operation free from the influence of the delay of an input signal by eliminating adjusting operation to be performed in debugging.例文帳に追加

デバッグ時に行う調整作業をなくし、入力信号の遅延に影響を受けないテスト動作を行えるマイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a device for testing a gear pair capable of obtaining precise test results by faithfully reproducing the meshing in an actual machine in an actual usage state.例文帳に追加

実機上での使用状態に忠実な歯車対の噛合い状態を再現し、高精度の試験結果を得ることができる歯車対の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing instrument for vehicle travel capable of reproducing the desired road face conditions, by forming a prescribed thickness of water film or the like, on a flat level to carry out travel test.例文帳に追加

フラットベルト上に所定厚さの水膜を形成する等して所望の路面状況を再現し、走行試験を行える車両走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加

テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus 1 tests a plurality of devices to be tested 20a-20d in parallel using a test pattern P1 generated by a pattern generating section 11.例文帳に追加

半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を用いて複数の被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験を並行して行うものである。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁

In the case of testing the functions of an IP core 34, test signals are supplied for the IP core 34 via a selector 42, and its output signals are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３４の機能試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４２を介してＩＰコア３４に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of securing independence between a normal mode and a test mode without increasing the number of pins, and to provide a method for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、ピン数を増加させることなく、通常モードとテストモードとの独立性を確保することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To solve such a problem that when memory macro-cells of various kinds incorporated in a semiconductor integrated circuit are tested and a pause test is performed, it takes a long time to perform testing successively.例文帳に追加

半導体集積回路に搭載された多数の様々な種類のメモリマクロセルを検査する場合にポーズテストを行なう時、逐次的に行なうと時間を要してしまう。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a digital radio system which do not cause errors in test results, and enable proper maintenance and administration of the digital radio system.例文帳に追加

試験結果に誤差が生じることがなくかつデジタル無線システムの適正な維持および管理を図ることができるデジタル無線システム試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.例文帳に追加

配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁