「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

The method includes a test temperature detection step for detecting a test temperature in testing temperature characteristics, an error measurement step for measuring an amount of an error in the detection result of the test temperature, and a compensation step for compensating for a temperature detecting part for detecting the predetermined temperature based on the measured amount of the error.例文帳に追加

温度特性試験時に、試験温度の検出を行なう試験温度検出工程と、試験温度に対する検出結果の誤差量を測定する誤差測定工程と、測定された誤差量に基づき、所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう補正工程とを含む。 - 特許庁

When testing the braking force, the transmission is shifted to a range N, and the right and the left rear wheels are rotated by a test device, and the electric parking brake is operated by the operating force of the test time with operation of the PKB switch, and the braking force is detected based on the counter torque to be applied to the electric motor of the test device (S13).例文帳に追加

制動力テスト時にはトランスミッションをＮレンジとし、テスト装置により左右後輪を回転させ、ＰＫＢスイッチの操作により電動パーキングブレーキをテスト時作動力で作用させ、テスト装置の電動モータが受ける反トルクに基づいて制動力を検出する（Ｓ１３）。 - 特許庁

To increase the flexibility of test runs or test drives in a method of testing a vehicle or its partial system on a test bench or in a vehicle experiment, where interfaces to transmit force and torque are at least partially present in reality.例文帳に追加

テストベンチ上でまたは車両実験において、車両またはその部分システムをテストする方法であって、力伝達を行いかつトルク伝達を行うインターフェースが、少なくとも部分的に現実に存在する前記方法において、テスト走行またはテスト運転の柔軟性をさらに向上させる。 - 特許庁

To provide a creep test method that does not require an atmosphere controller and is not affected by oxidation or nitriding in the atmospheric air, a manufacturing method of a specimen using the test method, and a fixture or the like for fixing the specimen in order to perform the test method with a creep testing machine.例文帳に追加

雰囲気制御装置を必要とせず、大気中で酸化や窒化の影響を受けないクリープ試験方法、及び、その試験方法を適用する試験体の製造方法、及び、クリープ試験機で前記試験方法を行うために前記試験体を固定する固定具等を提供すること。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁

This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.例文帳に追加

フラッシュメモリ（メモリ部）１１０と、ＣＰＵ（ロジック部）１２０と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストＲＯＭ１３０と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段１５０，１１２とを備える。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

To provide a testing device which can cope with diversified organizations for test / manufacturing steps for terminal equipment and can be efficient from the viewpoint of resources and test time with respect to kinds of communication systems of the terminal equipment, measurement (test) items, and the number of items.例文帳に追加

端末機器の試験・製造工程の多様な編成に対応できる試験装置を提供することであり、さらには端末機器の通信方式の種類、測定（試験）項目、数に対して、資源、試験時間の面において効率的な試験装置を提供することである。 - 特許庁

When a tester easily operates the input-output device (CSL) 10 of the PC 1, the PC 1 executes the test instructed from the tester by transmitting and receiving test signals to and from the DUT 4 by controlling the operation of the TST 2 after decoding the subject matters of the test instructed to the testing system.例文帳に追加

試験者がＰＣ１の入出力装置（ＣＳＬ）１０を簡易に操作し、本システムに指示する試験内容をＰＣ１が解読処理した上で、ＴＳＴ２を動作制御してＤＵＴ４との間で試験信号を送受することにより、試験者が指示する内容の試験を実行する。 - 特許庁

To provide a two-cylinder test capable of detecting abnormality before a defect such as peeling or the like is produced from a rotating test piece in a simple and accurate AE detecting method and capable of detecting the initial fatigue damage produced in the test piece with high sensitivity, and to provide a two-cylinder testing machine.例文帳に追加

簡潔で適確なＡＥ検出方法で、回転する試験片からはく離等の欠陥が発生する前に異常を検知することができ、試験片に発生する初期の疲れ損傷を高感度で検出可能な二円筒試験およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.例文帳に追加

車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加

メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.例文帳に追加

材料試験機は、破断させた試験片１００の破断面１００ａを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁

To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.例文帳に追加

接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.例文帳に追加

同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To provide a test information management system reducing the burden of a visual check in a client side of a test by automatically performing a data input in a testing institution, a disclosure to the client side of the test, a logical check and data fixing.例文帳に追加

本発明の目的は、試験機関でのデータ入力から試験依頼者側への開示、ロジカルチェック、データ固定までを自動で行うことにより、試験依頼者側での目視等によるチェックの負担を減少させることができる試験情報管理システムを提供することにある。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a plurality of I/O cells 9, and each of the I/O cells 9 is provided therein with at least part of a test circuit comprising a selector 2 for testing and the like so that test information such as control signals for testing can be supplied in parallel through signal wires 10 to the I/O cells 9.例文帳に追加

複数のＩ／Ｏセル９を備えた半導体集積回路において、各Ｉ／Ｏセル９内部にテスト用セレクタ２等からなるテスト回路の少なくとも一部を設け、各Ｉ／Ｏセル９へ信号線１０を介してテスト用制御信号等のテスト情報を並列に供給し得るように構成した。 - 特許庁

To provide a weatherability testing machine capable of performing a weatherability evaluation test in a more markedly short time than a conventional testing machine utilizing ultraviolet irradiation and imparting a weatherability evaluation test results higher in correlation with outdoor natural exposure than those of the conventional methods that use irradiation of radicals formed by remote plasma.例文帳に追加

従来の紫外線照射を利用した試験装置よりも格段に短時間で耐候性評価試験が実施可能であり、従来のリモートプラズマにより生成したラジカルの照射を用いた方法よりも屋外自然曝露との相関性が高い耐候性評価試験結果を与える耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To perform a test by using a tensile-testing apparatus that is universally used for a fine test piece regarding a tool for testing the strength of micro junction such as the solder junction section of electronic components and a conductive pattern junction section formed on a printed circuit board and a bond section.例文帳に追加

本発明は電子部品のはんだ接合部やプリント回路基板上に形成された導体パターン接着部などのマイクロ接合および接着部の強度を試験するための治具に関し、微細な試験片に対して汎用されている引張試験装置を用いて試験を行ないうるようにすることを課題とする。 - 特許庁

In the semiconductor testing system wherein a plurality of semiconductor test units equipped respectively with a semiconductor testing device, a test management processor and the cooling device communicate with the host computer, and the cooling device includes a heat exchanger controlled by a controller, a two-way communication means is provided between the controller and the host computer.例文帳に追加

夫々が半導体試験装置、試験管理プロセッサ、冷却装置を備える複数の半導体試験ユニットがホストコンピュータと通信すると共に、前記冷却装置がコントローラにより制御される熱交換器を備える半導体試験システムにおいて、 前記コントローラと前記ホストコンピュータ間に双方向通信手段を設ける。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

The antenna testing system comprises the antenna accommodating apparatus 2 to accommodate the antennas 1a-1h for receiving which are subjects of the performance test and a testing apparatus 3 to perform the performance test of the antennas 1a-1h for receiving while the antennas 1a-1h for receiving are accommodated in the antenna accommodating apparatus 2.例文帳に追加

アンテナ検査システムは、性能検査の対象である受信用アンテナ１ａ〜１ｈを収容するアンテナ収容装置２と、受信用アンテナ１ａ〜１ｈがアンテナ収容装置２に収容されている際に、受信用アンテナ１ａ〜１ｈの性能検査を行うための検査装置３とによって構成される。 - 特許庁

The performance determination testing medium having a recorded area 102 and an unrecorded area 103 is used, performance determination testing data is read from the recorded area 102 in the performance determination testing of the information recording/reproducing device, and the data is temporarily stored in a buffer memory, whereby the performance testing is carried out without making any performance determination test data in the information recording/reproducing device.例文帳に追加

既記録領域１０２と未記録領域１０３とを有する性能判定試験媒体を用い、情報記録再生装置の性能判定試験時に既記録領域１０２から性能判定試験データを読み出し、該データをバッファメモリに一時的に格納することで、情報記録再生装置内で性能判定試験データを作成することなく性能判定試験を実行する。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第２および第３のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

The semiconductor-testing apparatus that is requested to generate a timing edge pulse of a period M that is different from a period N that is the testing period of the semiconductor-testing apparatus has a period- converting means for generating a timing edge pulse of a period M that is different from a period N of a test rate without applying a specific number of plurality of timing sets that the semiconductor-testing apparatus has.例文帳に追加

半導体試験装置の試験周期である周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスの発生を行うことが求められる半導体試験装置において、半導体試験装置が備える所定複数個のタイミングセットを適用すること無く、テストレートの周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスが発生できる周期変換手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

The fire sensors equipped with the automatic testing functions are connected to the sensor circuits 2-1 to 2-3 extracted by every system from the receiver 1, and a test instructing part 14 instructs the start of a test to a certain fire sensor, and instructs the start of a test to another fire sensor connected to the signal circuit of the identical system or another system before the test ends.例文帳に追加

受信機１は、系統毎に分けて引出された感知器回線２−１〜２−３に自動試験機能を備えた火災感知器を接続しており、試験命令部１４は、ある火災感知器に試験開始を指示してから試験終了となる以前に、同一系統又は別系統の信号線に接続している他の火災感知器に試験開始を指示する。 - 特許庁

The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.例文帳に追加

この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁

A method for identifying new therapeutic uses for a test subject which is a drug or drug candidate includes (A) selecting the test subject, (B) testing activities of the test subject on protein complexes in cells, and (C) using results obtained in (B) to identify new activities of the test subject.例文帳に追加

被験体について新規の治療上の用途を同定するための方法であって、上記被験体が薬物又は薬物候補であり、上記方法が(A)被験体を選択すること、(B)細胞中の蛋白複合体に対する上記被験体の活性を試験すること、(C)上記被験体の新規活性を同定するために(B)から得られた結果を使用すること、を含む。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

To miniaturize a testing device for an electronic part substrate suitable for testing the electronic part substrate while the electronic part substrate such as, for example, memory module is stored, provide a testing method therefor, and improve throughput of a test process.例文帳に追加

たとえばメモリモジュールなどの電子部品基板を収容した状態で、電子部品基板を試験するために適した電子部品基板の試験装置および試験方法であって、特に、装置の小型化と試験工程のスループットの向上とを図ることができる電子部品基板の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To enable a person having no chemical expert knowledge to prepare a testing reagent for the purity of oxygen used for investigating the presence of an acidic substance or an alkaline substance in medical oxygen, to dispense with the preparation of the testing reagent at every purity test and to make it unnecessary to require a long time in the preparation of the testing reagent.例文帳に追加

医療用酸素中の酸性物質またはアルカリ性物質の含有の有無を調べる酸素純度のための試験用試薬を調製する際、化学の専門知識を有する人でなくとも行うことができ、純度試験の都度試験用試薬を準備する必要をなくし、その調製に長時間を要しないようにする - 特許庁

To support the examination of an examiner by controlling an information required for efficient testing and the improvement of testing capacity, in a manner of facilitating the examiner, concerning a testing information control device for controlling an information on characteristic test for a plurality of kinds of semiconductor products.例文帳に追加

複数種の半導体製品の特性試験に関する情報を管理する試験情報管理装置に関し、上記事情に鑑み、試験の効率化や試験能力の増強の検討の際に必要な情報を、検討を行う者が利用しやすいように管理することで、その者が行う検討を支援することができる。 - 特許庁

To shorten a delivery date while enabling a through-hole 76 to be formed at a required position in a constant temperature bath 1 keeping the interior of a testing chamber 35 at least at a predetermined temperature, the constant temperature bath having a testing chamber 35 for housing a test specimen, and at least one through-hole 76 communicating the outside of the testing chamber 35 with the inside thereof.例文帳に追加

供試体が収容される試験室３５と、試験室３５の内外を連通させる少なくとも１の導通孔７６と、を有し、試験室３５内を少なくとも所定の温度に保つ恒温槽１において、所望の位置に導通孔７６を形成可能にしつつも、その納期を短縮する。 - 特許庁

An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.例文帳に追加

試験片Ｓに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具２Ａと試験力計測手段として用いるロードセル３を固定して昇降するクロスヘッド４に、一方のアーム端１８が柱部６と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム１７をネジ止めする。 - 特許庁

For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加

モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

The disaster prevention receiver 1 includes a first test part 15 for testing the operation of a first auxiliary power supply Bt1 provided therein and sending a test signal to the detector power supply 4 via a second signal line Ls2.例文帳に追加

防災受信機１は、自身に設けた第１の予備電源Ｂｔ１の動作試験を行うとともに、第２の信号線Ｌｓ２を介して感知器電源４に対して試験信号を送信する第１試験部１５が設けられている。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁