「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

An ADSL line transmission characteristic testing part 1 performs an ADSL transmission characteristic test before starting an ADSL line service operation to grasp a subscriber line condition.例文帳に追加

ＡＤＳＬ回線伝送特性テスト部１は、ＡＤＳＬ回線サービス運用開始前にＡＤＳＬ伝送特性テストを実施し、加入者回線状況を把握する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.例文帳に追加

経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁

A battery testing part 50 periodically performs a battery load test which supplies a load current same as that in an abnormal alarm period to the battery power supply 36 to detect a battery voltage.例文帳に追加

電池試験部５０は定期的に電池電源３６に異常警報時と同等な負荷電流を流す電池負荷試験を行って電池電圧を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving a function to prevent probe card warpage, while keeping a moving function of a top plate, by improving a test head side holding structure.例文帳に追加

テストヘッド側保持構造を改良して、トッププレートの移動機能を保持したまま、プローブカード反り防止機能が向上された半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a battery testing device and a battery conveyance/storage case, inexpensive, and capable of preventing damage due to pressure rise inside a test chamber or a vessel.例文帳に追加

本発明は、安価で、試験槽内又は容器内の圧力上昇による破損を防止することができる電池試験装置、電池搬送・保管用ケースを提供する。 - 特許庁

To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.例文帳に追加

本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.例文帳に追加

試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

When the adjustment mode switch of the radar device is turned on, the radar device is shifted to self adjustment mode and is automatically calibrated through loopback test using the testing device.例文帳に追加

そして、レーダ装置の調整モードスイッチをＯＮすると、レーダ装置が自己調整モードに移行し、試験装置を介したループバック試験で自動的にキャリブレーションが行われる。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To generate test data meeting restrictions on testing of software, with practical temporal and spatial computational complexity even when the restrictions includes many character string variables.例文帳に追加

ソフトウェアのテストの制約が多数の文字列変数を含む場合でも，実用的な時間空間計算量で制約を充足するテストデータを生成できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing rubber wear for accurately reproducing on a sample abrasion phenomenon occurring on a tire, and to provide a rubber-index calculation method which uses the test method.例文帳に追加

タイヤで起きている摩耗現象を精度良くサンプルで再現することが可能なゴム摩耗試験方法及びそれを用いたゴムインデックス算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁

To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加

テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理ＬＳＩを得る。 - 特許庁

To provide a multifunctional fatigue testing apparatus capable of compositely operating a load of a state nearer to a real environment to a test piece such as a building material or the like.例文帳に追加

建材などの試験体に対し、より実環境に近い状態の負荷を複合的に作用させることのできる、多機能型の疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a load measuring instrument, capable of reducing the amount of work sequence needed to test the load measuring instrument and improving its work efficiency.例文帳に追加

荷重測定器の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を為し得る荷重測定器の検定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test facility of a smoke detector suitable for testing actual operation conditions of the smoke detector under conditions resembling actual smoke generation conditions.例文帳に追加

実際の煙発生状況に近い状況下において、煙感知器の実際の作動状況を試験することに適した煙感知器の試験設備等を提供する。 - 特許庁

To provide a user data load testing device which does not simply generate load data but can realize a load test fitting each service (bearer) operated by a 3GPP system.例文帳に追加

単に負荷データを生成するのではなく、３ＧＰＰシステムで運用される各サービス（ベアラ）に適応する負荷試験を実現可能なユーザデータ負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing presence/absence of abnormality of a decoder inside an LCD-driving IC by digital logic measurement instead of analog voltage measurement.例文帳に追加

ＬＣＤ駆動用ＩＣ内のデコーダの異常の有無を、アナログ電圧測定ではなく、デジタルロジック測定によってテストすることができるテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an abrasion tester having long service life capable of accurately performing an abrasion test using a small amount of a sample, and to provide an abrasion testing method that uses the tester.例文帳に追加

少ないサンプル量で正確に摩耗試験を行うことができる長寿命な摩耗試験機およびそれを用いる摩耗試験方法を提供することである。 - 特許庁

To obtain not only pass/fail decision of an instrument to be tested but also a test result which enables evaluation of its immunity to interference waves, with a testing apparatus for performing immunity tests.例文帳に追加

イミュニティ試験を行う試験装置において、供試機器の合否判定だけでなく、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for biochemical testing by which the number of biochemical substances contained in a test sample can be tested from a detected value of fluorescent intensity for each probe array element.例文帳に追加

各プローブアレイ要素ごとの蛍光強度の検出値から被検サンプルに含まれる生化学的物質の数量を検査し得る生化学的検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a server process testing system whose constitution can be easily changed and extended corresponding to the change or addition of a test item.例文帳に追加

試験項目の変更や追加等に対応してその構成を容易に変更および拡張することができるサーバプロセス試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, this makes it possible to simultaneously carry out testing on plural drivers in the common driving circuit 20 and the segment driving circuit 30, and to shorten the test time.例文帳に追加

従って、コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０内の複数のドライバを同時に試験することが可能になり、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a testing apparatus that easily and inexpensively performs an operational test of a digital broadcast receiver, and to provide a program used therefor.例文帳に追加

本発明は、デジタル放送受信機の動作試験を低コストで容易に行うことができる試験装置及びこれに用いるプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a clock generating device or the like for reducing power consumption during a normal operation when testing circuit blocks operated by clocks different from each other by a single test clock.例文帳に追加

互いに異なるクロックで動作する回路ブロックを単一のテストクロックでテストする場合に通常動作時の低消費電力化を図るクロック生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a method realizing a precise leak test by completely filling pores in a selective separation layer of a porous film having asymmetric structure with leak testing liquid.例文帳に追加

非対称構造を有する多孔質膜の選択分離層の細孔中にリークテスト用の液体を完全に充填し、正確なリークテストを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

The first substrate 1 has on a second surface 12 a first semiconductor chip 20 and a first test point 15 for testing the first semiconductor chip 20.例文帳に追加

第１基板１の第２表面１２には、第１半導体チップ２０と、この第１半導体チップ２０をテストするための第１テストポイント１５とが形成されている。 - 特許庁

To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.例文帳に追加

新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of running even at a high test cycle and being compatible with conventional systems.例文帳に追加

テスト周期が高速になった場合でも動作可能であって、かつ従来のシステムと互換性を保つことが可能な半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device for repulsive type hardness meter, dispensing with a computer or a control device and which becomes inexpensive by mechanically renewing and moving a test hitting position.例文帳に追加

検定打撃位置を機械的に更新移動させることにより、コンピュータや制御機器が不要で安価となる反発式硬度計の検定装置を目的とする - 特許庁

A test strip 10 for testing the blood sample is provided with a fluid transport path 30 terminating at the mouth 21 of the capillary channel 20, defined on the major face of the strip.例文帳に追加

血液サンプルを試験する試験片１０は、毛細管流路２０の口部２１で終端する流体搬送経路３０が、細片の主面上に画定されている。 - 特許庁

To provide a swelling testing device and a swelling test method capable of measuring accurately an expansion coefficient even to a sample which is not only expandable but also deformable by moisture absorption.例文帳に追加

吸湿すると膨張するだけでなく変形し得る試料に対しても正確に膨張率を測定できる膨潤試験装置及び膨潤試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁

To obtain more stable test data by suppressing temperature variations of a drum surface and the controlling the temperature of a road surface, independently of a room-temperature, in a tire testing apparatus.例文帳に追加

タイヤ試験装置において、ドラム表面の温度のバラツキを抑制すると共に、室温と独立して路面の温度を調整し、より安定した試験データを得る。 - 特許庁

To provide a method for heating and cooling test, capable of testing by imparting a thermal conduction phenomenon the same as self-heating to an electronic component mounted on a circuit board.例文帳に追加

回路基板に実装された電子部品に、自己発熱と同様の熱伝導現象を与えて試験できる加熱冷却試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing water resistance of a cured thermosetting resin product, capable of accurately conducting the water resistance test of the cured thermosetting resin product in a short time.例文帳に追加

熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験を短時間で正確におこなうことができる熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法を提供する。 - 特許庁

A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストパッド（第２パッド２２）と内部回路２３との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド（第１パッド２１）が配置されている。 - 特許庁

To provide an evaluation test method for durability easily and exactly testing the acceleration durability of a magnetic disk corresponding to a magnetic disk drive utilizing the L/UL method.例文帳に追加

Ｌ／ＵＬ方式の磁気ディスク装置に対応する磁気ディスクの加速耐久性試験を，簡便かつ正確に行う耐久性評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

The testing ports 10 and 11 for performing the leakage test of the coated steel pipe 1 are provided on the outer face of the band-like members 8 and 9 so that each communicates with the spaces T1 and T2.例文帳に追加

被覆鋼管１の漏れ試験を行う試験用ポート１０，１１は，帯状部材８，９の外面に，各々が空間Ｔ１，Ｔ２と連通するようにして設ける。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing sensitivity of a smoke sensor capable of using no real smoke, suppressing generation of noise of a circuit, and surely conducting a sensitivity test of the smoke sensor.例文帳に追加

実際の煙を用いず、しかも回路のノイズの発生を抑え、確実な煙感知器の感度試験が行える煙感知器の感度試験方法を提供することにある。 - 特許庁