「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

The test system for testing a semiconductor package 1, having an electrode face arranged with electrodes over the whole surface, and its opposite back face, is flat.例文帳に追加

本発明にかかるテストシステムは、一面に電極が配置された電極面を有し、電極面に対向する背面が平坦である半導体パッケージ１のテストシステムに関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can have its functions tested only by an inexpensive test device without specially using an expensive high- speed digitizer and its testing method.例文帳に追加

高価な高速デジタイザーを別途使用することなく、安価なテスト装置のみで機能テストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

This surge tester 100 is for performing a surge test on a testing object correspondingly to an input signal input from an impressed waveform generator 11 generating an impressed waveform.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、印加波形を発生する印加波形発生器１１から入力される入力信号に応じて被試験対象のサージ試験を行う。 - 特許庁

To provide an inexpensive elution testing device used for immersing a solid preparation in a test solution to measure the elution degree of a preparation component and simple in constitution.例文帳に追加

試験液中に固形製剤を浸漬させて製剤成分の溶出程度を測定するために用いられ構成が簡易で廉価な溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

After a test sample Y prepared using the mold 20 is placed in a triaxial testing apparatus 30, deaerated water is supplied while applying a lower negative pressure by the vacuum pump P.例文帳に追加

型枠２０を用いて作製した供試体Ｙは、三軸試験装置３０に設置した後、真空ポンプＰで低めの負圧を作用させながら脱気水を供給する。 - 特許庁

Thereafter, design data regarding a newly designed semiconductor device is received along with data describing the tester and testing algorithms to be used to test the semiconductor device.例文帳に追加

その後、新しく設計した半導体デバイスに関する設計データを、半導体デバイスをテストするために使用するテスタおよびテスト用アルゴリズムを説明するデータとともに、受け取る。 - 特許庁

To provide an economical semiconductor testing device which can obtain a higher degree of freedom than in conventional techniques and which can easily deal with a device under test (DUT) using an asynchronous signal.例文帳に追加

従来技術よりも高い自由度が得られ、非同期の信号を用いるＤＵＴにも容易に対処することができる経済的な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test module outputs both a first analog signal which is directly proportional to the intensity and a second analog signal with its power voltage being proportional to the spectral wavelength of the device under testing.例文帳に追加

該テストモジュールは、該強度に正比例する第１のアナログ信号と、試験中のデバイスのスペクトル波長に電圧が正比例する第２のアナログ信号を出力する。 - 特許庁

To provide an operator safety testing apparatus capable of performing safety test of an operator who solely performs an operation at an indoor working place by image processing.例文帳に追加

画像処理により屋内作業場所において単独作業を行う作業者の安全検査を行うことができる作業者安全検査装置を提供する。 - 特許庁

For that purpose, the element contains a test material which interacts with a radiation in the testing wavelength range depending on the contact with the amount of the sample supplied.例文帳に追加

そのためにテストエレメントが、供給された試料量との接触に依存して検査波長領域内の放射線と相互作用をする検査物質を含有する。 - 特許庁

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典

The Run File option, also available from both the Editor context menu and the Run menu, requires that you be in the test file for the class you are testing. 例文帳に追加

「ファイルを実行」オプションは、同様に「エディタ」のコンテキストメニューと「実行」メニューの両方から使用できますが、テスト対象のクラスのテストファイル内にいる必要があります。 - NetBeans

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

To provide a testing equipment of high-accuracy for mechanical characteristics constituted, without causing the number of the seal areas of a high-pressure container to increase, and to prevent a test piece attaching space from being narrowed by a support member.例文帳に追加

高圧容器のシール箇所を増加させず、かつ支持部材が試験片の取付空間を狭くすることのない高精度の機械的特性装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fastening fixture of communication connectors allowing a port communication test to be performed in a short time and a method of testing port communication of a communication equipment using the fastening fixture.例文帳に追加

短時間でポート通信試験を行なうことのできる通信用コネクタ固定器具及びそれを用いた通信機器のポート通信試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a personality testing apparatus which enables a subject to easily answer to MMPI (Minnesota Multiphasic Personality Inventory), and makes it possible to accurately and speedily score and aggregate test data.例文帳に追加

ＭＭＰＩ( Minnesota Multipbasic Personality Inventory)を、被験者が容易に回答できると共に、検査データの採点・集計を正確かつ迅速に行うことが可能な人格検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a communication system for testing communications apparatuses compatible with a QoS (Quality of Service) test and an access line interconnecting them, without the need for separate connection of a measurement apparatus.例文帳に追加

別途測定装置を接続することなく、ＱｏＳ（Quality of Service）試験に対応した通信装置やこれらを接続するアクセス回線を試験する通信システムに関する。 - 特許庁

To provide a leak detector which can be simplified, allows the reduction of testing time, and can reduce the total cost relating to a leak test by using an inexpensive gas.例文帳に追加

装置の簡略化と検査時間の短縮化が可能になり、しかも安価なガスの使用によりリークテストに関わるトータルコストの低減が図れるリーク検出装置を提供する。 - 特許庁

In order to judge the normality of the wireless characteristics of the wireless base station, testing mobile equipment 109 loaded on the wireless base station and a prescribed device are call-connected and a test is performed.例文帳に追加

無線基地局の無線特性の正常性を判断するために、無線基地局に搭載した試験移動機１０９と所定の装置を呼接続して試験を実施する。 - 特許庁

To provide a disc-shaped rubber test piece for a rubber testing machine capable of faithfully reproducing the peripheral shearing force within the earthing surface produced in a tire under an actual use environment.例文帳に追加

実際の使用環境下におけるタイヤに発生する接地面内の周方向せん断力を忠実に再現し得るゴム試験機用ゴム試験片を提供すること。 - 特許庁

If the data of testing based on OECD TG431 (human skin model Epidermis), TG430 (skin electric conductivity test) is available; the substance is classified in accordance with the decision criteria with which it is validated at each of the tests.例文帳に追加

OECD ＴＧ431（ヒト皮膚モデル Epiderm）、ＴＧ430（皮膚電気伝導度試験）に基づき試験されたデータがあれば、その試験ごとにバリデートとされた判定基準に従って分類。 - 経済産業省

An input clock CI is divided by a dividing means 101 to generate a divided clock Cn used for an actual operation and a testing clock TC used for the test.例文帳に追加

入力クロックＣＩを分周手段１０１により分周して実動作に用いる分周クロックＣｎと試験時に用いる試験用クロックＴＣを生成する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of enhancing a through-put of a PBSOA proof level test for a semiconductor element, and capable of reducing a cost for finding a defective element.例文帳に追加

半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量試験のスループットを向上し、かつ不良素子の発見のためのコストを低下できる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

In the automatic testing system 1, the automatic testing device 20 selects an appropriate measuring device from among a plurality of measuring devices 21a, 21b, 21c provided according to test items to a device 10 to be tested, measures the device 10 to be tested through the use of a selected measuring device, collects and processes measurement data on it, and creates test result data.例文帳に追加

この発明の自動試験システム１において、自動試験装置２０は、被試験機１０に対する試験項目に応じて、具備する複数の測定器２１ａ，２１ｂ，２１ｃから適切な測定器を選択し、選択した測定器を用いて被試験機１０を測定し、その測定データを収集処理して試験結果データを生成する。 - 特許庁

To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.例文帳に追加

モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

The collection capacity testing machine 1 of the mask 2 has a test chamber 100 capable of floating a particulate substance P in air, a suction part 200 capable of attaching and detaching the testing mask 2 in the test chamber 100 and a collection part 600 for collecting the particulate substance P passed through the mask to flow in the suction part 200.例文帳に追加

マスク２の捕集性能試験機１が空気中に粒子状物質Ｐを浮遊させることが可能な試験室１００と、試験室１００の内部で試験用のマスク２を取り付け取り外しできる吸気部２００と、マスクを通過して吸気部２００へ流入した粒子状物質Ｐを捕集するための捕集部６００とを有する。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.例文帳に追加

本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁

A material testing method or a material test according to the present invention in which a loading rate is given to a test member and the strength test of the material member is performed has a first feature including: previously applying a preload once or more repeatedly and subsequently applying a main load for use in the material characteristic evaluation thereto to acquire a prescribed loading rate.例文帳に追加

本発明は、試験部材に負荷速度を与え前記材料部材の強度試験を行う材料試験方法又は材料試験において、予め一回以上の繰返し予負荷を付与し、その後続けて材料特性評価に用いる主負荷を与え所定の前記負荷速度をえることを第１の特徴とする。 - 特許庁

To provide a test-facilitating design apparatus and its method for verifying and adjusting consistency between adjoining components when constructing a system including a plurality of components including hardware or software, and performing design to estimate appropriate test man-hours by suppressing an abrupt increase of the number of test cases in testing the system.例文帳に追加

ハードウエアまたはソフトウエアを含む複数の部品から成るシステムを構築する場合において、隣接する部品同士間の整合性を検証および調整し、システムのテストにおいてテストケースの数の爆発を抑制し適切なテスト工数を見込む設計を行うためのテスト容易化設計装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたＩＣソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ＩＣソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のＸＹ座標と、テストヘッド上のＸＹ位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁

In this spraying corrosion testing device using a water-sealing system, a porous water-absorbing material is mounted on either or both of a lower fringe part of an upper lid of the test tank and a bottom part of a groove part of the test tank, and the bottom part of the groove part is tilted downward toward the inside of the test tank.例文帳に追加

ウォーターシール方式を用いた噴霧腐食試験装置において、前記試験槽の上蓋の下方周縁部と前記前記試験槽の溝部の底部とのどちらか一方又は両方に多孔質吸水性物質を取り付け、前記溝部の底部を前記試験槽内部に向かって下方傾斜させること。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

The testing equipment to be attached includes a safety device comprising a shell-like body which surrounds the test container during a test installed on a body along with the body to intercept the approach of the measuring person and is subjected to opening operation after the interruption and completion of the test to move to permit the approach of the measuring person.例文帳に追加

取り付けられる試験機器は、本体上に設置された試験中の試験容器を本体とともに囲繞し測定者の接近を遮断するとともに、試験中断及び試験終了後に開動作して移動し測定者の接近を許容する殻状体からなる安全装置を含む。 - 特許庁

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

To provide a tire damage testing device capable of performing a highly accurate damage test having little dispersion when specifying a damaged spot of a test tire by dropping an impact block equipped with a heavy bob to abut surely on a specific spot of a tire tread part from the tire side part side of the test tire.例文帳に追加

試験タイヤのタイヤサイド部側からタイヤトレッド部の特定箇所に重錘を備えた衝撃ブロックを落下させて確実に当接させることで、試験タイヤの損傷箇所の特定する場合にバラツキが少なく、精度の高い損傷試験を行うことが出来るタイヤ損傷試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

In testing, when a test switch 17 in a test circuit 19 is turned on, a voltage of a voltage line 3 is directly applied to voltage-dividing resistors 9, 10, 11 in a voltage-dividing circuit 8, the voltage across the voltage-dividing resistor 11 is raised, and the detection circuit 12 delivers an output.例文帳に追加

また、テスト時は、テスト回路１９のテストスイッチ１７をオンすると、電圧線３の電圧が直接、分圧回路８の分圧抵抗９、１０、１１に印加されて、分圧抵抗１１の両端電圧が上昇し検出回路１２が出力する。 - 特許庁

To easily create data or evaluate a test operation for testing an automatic ticket gate under developing by performing an operation test of the automatic ticket gate under developing based upon processing data in an automatic ticket gate under operating.例文帳に追加

この発明は、稼動中の自動改札機での処理データに基づいて開発中の自動改札機の動作試験を行うことができ、開発中の自動改札機を試験するためのデータ作成や試験動作の評価を簡単に行うことが可能となる。 - 特許庁