「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.例文帳に追加

上書き手段２３は、入力された中間ファイル４とフロー情報と出力条件２とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁

The testing device includes a panel receptacle having a rectangular panel receptacle surface for receiving a tabular test object, a probe unit with a probe block having a plurality of contacts to be depressed by an electrode on the test object, and a plurality of protective members located at the outside of the panel receptacle surface.例文帳に追加

検査装置は、平板状被検査体を受ける矩形のパネル受け面を有するパネル受けと、前記被検査体の電極に押圧される複数の接触子を有するプローブブロックを備えるプローブユニットと、前記パネル受け面の外側に位置された複数の保護部材とを含む。 - 特許庁

The test device 1 of the semiconductor integrated circuit 10 testing the semiconductor integrated circuit 10 by applying a voltage to a semiconductor element of the semiconductor integrated circuit 10 includes a voltage application part 2, a breakdown detection part 3, and a test voltage determination part 4.例文帳に追加

半導体集積回路１０の試験装置１は、半導体集積回路１０の半導体素子に電圧を印加することによって半導体集積回路１０を試験するものであり、電圧印加部２、ブレークダウン検出部３及び試験電圧決定部４を備えている。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

ＬＳＩの入出力信号や、電源及びＧＮＤ電極が非常に多いＬＳＩをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びＧＮＤの電位変動を緩和する。 - 特許庁

In this impact testing device, a honeycomb block test piece 11 is loaded on an installation stand 10 having a smooth surface with cell opening parts 11a upward and downward, and an impact absorbing characteristic is measured by dropping a weight object W having a smooth bottom face from the upper side of the honeycomb block test piece 11.例文帳に追加

衝撃試験装置は、表面が平滑な設置台１０上に、セルの開口部１１ａを上下にしてハニカムブロック供試体１１を載置し、ハニカムブロック供試体１１の上方から平滑な底面を有する重量物Ｗを落下させて衝撃吸収特性を測定するものである。 - 特許庁

The bending test for testing the number of times of bending of wires before disconnection due to bending is performed individually for wire 1 comprising the wire harness, then based on the individual results of the bending test for each wire, the bending life span for the whole wire harness is estimated.例文帳に追加

屈曲により断線に至るまでの屈曲回数を試験する屈曲試験を、前記ワイヤーハーネスを構成する各電線１に対して個別に行い、その各個別の電線１の屈曲試験結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの全体の屈曲寿命を推測する。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム１８の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置１３に登録しておく。 - 特許庁

To provide a frequency variable fatigue testing device using an electrically operated vibration generator targeting a mold material of a ground coil for a superconducting magnetically levitated railroad, and making a fatigue test by applying a bend fatigue load to a material test piece by an electrically operated vibration generator as a drive source.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのモールド材を対象に、駆動源として動電型振動発生装置を用いて材料試験片に曲げ疲労負荷を与えて疲労試験を実施する、動電型振動発生装置を用いた周波数可変疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To further facilitate adjustment work for evaluation test for rating suitability of a reactor for power, and to test a large-capacity reactor with a relatively small capacity power supply by using a reactor having a configuration previously added with a testing wiring, as well as, a regular reactor wiring.例文帳に追加

通常のリアクトル巻線の他に試験用巻線を予め追加した構成のものを採用することにより電力用リアクトルの定格適否の判定試験のための調整作業をより簡易化すると共に、比較的小容量電源で大容量リアクトルの試験を実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a gas filter structure for testing capable of efficiently, simply and accurately evaluating how PM in exhaust gas or ash after heating regeneration accumulates on an exhaust gas filter such as DPF, a test device applied with the filter for test and an evaluation method.例文帳に追加

排気ガス中のＰＭ又は加熱再生後の灰分がＤＰＦ等の排ガスフィルタにどのように堆積するかについて、効率的で簡易的であるとともに精度も良く評価が可能となる試験用排ガスフィルタ構造、該試験フィルタを適用した試験装置及び評価方法を提供する。 - 特許庁

To regenerate fog under low-temperature conditions in a high mountain and fog under high-temperature conditions in the tropics to conduct an atomization test, by holding a water temperature of an atomized testing-salt water at an arbitrary temperature, to enhance reliability, and to cope with various tests, concurrently in a salt water atomization test device.例文帳に追加

塩水噴霧試験装置において、噴霧する試験用塩溶液の水温を任意の温度で保持し、高山における低温条件下での霧と熱帯における高温条件下での霧を再現させ噴霧試験を行い、同時に、信頼性向上、多様な試験への対応を図ること。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.例文帳に追加

本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁

Each of test programs for IC test is stored in a program managing directory 13 of a host system 10 as an archive 13a together with an archive managing file 13b, and corresponding to a program designating instruction, the archive 13a and the archive managing file 13b are transferred from the host system 10 to a testing device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験の各試験プログラムは、ホストシステム１０のプログラム管理ディレクトリ１３内に、アーカイブ１３ａとしてアーカイブ管理ファイル１３ｂとともに格納され、プログラム指定指示に応じて、ホストシステム１０から試験装置２０にアーカイブ１３ａとアーカイブ管理ファイル１３ｂとが転送される。 - 特許庁

Since the testing method sequentially measures test items in a communication test mode and displays the result of measurement, this method can save time and trouble of the person measuring and avoid the occurrence of a defective facsimile measurement device FS, due to misoperations by the person measuring, so as to provide high user-friendliness to the measurer.例文帳に追加

通信テストモードにおける複数のテスト項目の測定が順次行われ、結果が表示されるので、測定者の手間が大幅に軽減されるとともに、測定者の操作ミス等によりファクシミリ測定装置ＦＳが破損するような事態を回避することができ、非常に便利である。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

In this immunity testing device, a horn antenna for radiating a test radio wave toward a test apparatus is equipped with a pyramid horn 22 for 1GHz; and a coaxial waveguide converter 24 mounted directly on the pyramid horn 22, capable of feeding a signal in the 1GHz band.例文帳に追加

妨害排除能力試験装置において、供試機器に向けて試験用電波を放射するホーンアンテナは、１ＧＨｚ用の角錐ホーン２２と、この角錐ホーン２２に直接装着されて１ＧＨｚ帯の信号を給電可能な同軸導波管変換器２４を備える。 - 特許庁

The circuit comprises an input terminal T13 of a testing input clock signal CK1 connected to an end of a common bus circuit 2 and a test input/output circuit 3A with an output terminal T32 of an output clock signal CKO retuned from the other end of the common bus circuit 2 in test operation.例文帳に追加

共通バス回路２の一端に接続されテスト用入力クロック信号ＣＫＩの入力端子Ｔ３１と、テスト動作時に共通バス回路２の他端から返送される出力クロック信号ＣＫＯの出力端子Ｔ３２とを有するテスト入出力回路３Ａを備える。 - 特許庁

To provide a test method whereby a specimen, which is preferably protected from direct contact to a worker or exposure to the outer environment from the viewpoint of hygiene like a specimen to be used in testing an infectious bacterium or virus, can be safely and effectively handled and treated; and a test kit.例文帳に追加

感染性の細菌やウイルスの検査などに用いられる検体のように、衛生上の見地から取り扱い者に触れたり、外部環境に露出することが望ましくないような検体を安全に、かつ効率よく取り扱い、処理することが可能な検査方法および検査キットを提供する。 - 特許庁

To obtain a test circuit for a clock generating circuit that can perform sampling accurately equivalent to modulation cycles to shorten a measurement period and conduct an accurate function test of down-spread control as one modulating function of a spectrum spread clock generator (SSCG) by accurately testing a center frequency.例文帳に追加

正確に変調周期分のサンプリングが可能で測定期間を短くすることができ、中心周波数を正確にテストすることでＳＳＣＧの変調機能の一つであるダウンスプレッドコントロールの機能テストを正確に行うことができるクロック生成回路のテスト回路を得る。 - 特許庁

To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.例文帳に追加

プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁

Also, the conference room reservation engine testing framework is provided with a Koumoku Factory class 16 for selecting an optimal concrete class corresponding to the contents of the test item from among concrete classes constituted by succeeding the classes 17, 18, and 19 defined as abstract classes, based on a test item definition file 20.例文帳に追加

また、会議室予約エンジン試験フレームワークは、抽象クラスとして定義されたクラス１７，１８，１９をそれぞれ継承してなる具象クラスの中から、試験項目定義ファイル２０に基づいて、試験項目の内容に対応した最適な具象クラスを選択するKoumokuFactoryクラス１６を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.例文帳に追加

メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの１組の第一導電性経路と、第二レベルの１組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁

To provide a material testing machine equipped with a test force display meter, which can highlight the contents to be desirably watched by an operator, even in a plurality of digital display part equipped with indicators of the same size.例文帳に追加

同じサイズの表示器を備える複数のデジタル表示部においても、オペレータに注目させたい内容を強調表示することが可能な試験力表示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁

To provide a governor rope lifting tool enabling to conduct lifting work of a governor rope easily and securing safety of an operator, and a device for testing an elevator governor capable of conducting a test of the elevator governor accurately.例文帳に追加

業者の安全性が確保でき、かつ容易にガバナロープの引上げ作業が行えるガバナロープ引上げ治具及び精度良くエレベータ調速機の試験が行えるエレベータ調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus by which a sufficient load is loaded onto a very small specimen sampled in an actual-machine structure and by which a test is made in a spot sampling the specimen.例文帳に追加

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える材料試験装置を提供することである。 - 特許庁

To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加

プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a method capable of reproducing a high-temperature test to be evaluated without using an environmental testing machine, and having productivity with reduced disturbance, compared with a conventional evaluation method.例文帳に追加

本発明は環境試験機を使用しなくても高温試験を再現して評価することができ、従来の評価方法に比べて生産性を妨げない評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve the test efficiency by testing simultaneously a normal memory cell space and a redundant memory cell space and to easily detect a short circuit between the normal memory cell space and the redundant memory cell space in a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体記憶装置において、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間を同時にテストして、テスト効率の向上、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間とのショート検出を容易に行う。 - 特許庁

To provide an elevator and its emergency stop testing method capable of making sure the sheave idling condition of a hoist easily even if an operator etc. is in a position apart from the hoist at the time of performing an emergency stop test.例文帳に追加

非常止め試験時に、作業者等が巻上機から離れた位置にいても、巻上機のシーブ空転状態を容易に確認することができるエレベーター及び非常止め試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic flaw detection testing device enabling an inspector to easily know the inner surface state of piping and being capable of improving the accuracy of ultrasonic flaw detection test from the outer surface of the piping.例文帳に追加

検査員が配管内面の状態を容易に知ることができ、配管外面からの超音波探傷試験の精度を向上できる超音波探傷試験装置を提供することである。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 comprises at least one memory 21 for storing data, and at least one BIST (Built-In Self Test) circuit 10 for testing the memory 21.例文帳に追加

半導体集積回路１は、データを記憶する少なくとも１つのメモリ２１と、メモリ２１をテストする少なくとも１つのＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路１０と、を備える。 - 特許庁

To easily store a large number of cords having different lengths such as a testing wiring cord by integrating a storage box and a winder in a set and to quickly wind the cord after completion of the test.例文帳に追加

収納ボックスと巻取り装置とをセットにすることで、試験用配線コードのように長さの異なる多数のコードを容易に収納することができると共に、その試験終了後には、迅速に巻き取る。 - 特許庁

To provide a pressure measurement device and a pressure test method capable of easily and precisely testing a fine pressure measurement device while effectively utilizing a conventional pressure tester.例文帳に追加

従来の耐圧試験機を有効に利用しながら、微小圧力測定装置を容易、且つ精確に試験することのできる圧力測定装置、及び圧力試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加

一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To make a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.例文帳に追加

試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードにおける不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁

To provide a test facility for fire alarm that is suitable for testing an actual operating condition of a fire alarm by visually presenting a realistic condition in the occurrence of fire.例文帳に追加

実際の火災発生状況に近い状況等を視覚的に演出して、火災警報器の実際の作動状況を試験することに適した火災警報器の試験設備を提供すること。 - 特許庁

The shear testing device (12) includes a drive mechanism that provides relative movement between an X-Y table (13) to which the substrate (300) is attached and a test tool (100) mounted on a baseplate (20) via a resilient connector (21).例文帳に追加

剪断試験装置（12）は、基板(300)が取付けられるＸ−Ｙテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁