「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor test method and a semiconductor testing device capable of determining propriety of each level and timing of differential signals Pos and NegPos individually, relative to DUT having a differential output Pos/Neg.例文帳に追加

差動出力Ｐｏｓ／Ｎｅｇを有するＤＵＴについて、差動信号ＰｏｓとＮｅｇＰｏｓのレベルとタイミングの良否を個別に判定できる半導体試験方法および半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for improved diagnosis of medically relevant conditions by solution-based biochemical testing procedures that is performed in test sample solutions.例文帳に追加

本発明は、試験試料溶液中でおこなわれる溶液ベースの生化学試験手順によって、医学的に関連した状態を、さらに改善されたかたちで診断するための方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of securing reliability to rated voltage of a semiconductor without thermal runaway of the semiconductor in a reliability test where voltage is applied in the reverse direction of semiconductor having pn junction.例文帳に追加

ｐｎ接合を有する半導体の逆方向に電圧を印加する信頼性試験において、該半導体を熱暴走させることなく半導体の定格電圧に対する信頼性を保証できる方法を提供する。 - 特許庁

Each is the de facto standard unit testing framework for its respective language.PyUnit supports test automation, sharing of setup and shutdown code for tests, aggregation of tests into collections, and independence of the tests from the reporting framework.例文帳に追加

PyUnitでは、テストの自動化・初期設定と終了処理の共有・テストの分類・テスト実行と結果レポートの分離などの機能を提供しており、unittestのクラスを使って簡単にたくさんのテストを開発できるようになっています。 - Python

Because the number of passengers did not meet the target estimate, the administration of the Yawata City North-South Bus Route decided to extend the test operation period until the end of June 2009, although the administration decided to discontinue the route after this testing period without re-launching the route as a regular service ('The Asahi Shinbun (Newspaper)' South Kyoto Edition: The announcement by the Yawata City administration office posted at Yawata City City Hall on March 5, 2009). 例文帳に追加

乗客数が目標に達しなかったため、6月まで運行を継続して廃止予定（『朝日新聞』南京都版　2009年3月5日付、八幡市役所の案内看板） - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a block failure detecting method and a burn-in testing device therefor in a burn-in test capable of reducing mistakes in determining block failure and operator burdens, and of shortening a retest time.例文帳に追加

ブロック不良の誤判定の削減、オペレータの負担の削減および再試験時間の短縮を可能とするバーンイン試験におけるブロック不良検出方法およびそのためのバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for tire vibrational characteristic with which the user can measure the vibrational characteristic of a tire to be tested from low-frequency vibrations to 100-500 Hz road noise in the same test by only using the device.例文帳に追加

一つの試験装置を用いて、低周波振動から１００〜５００Ｈｚのロードノイズにいたる試験タイヤの振動特性を同一の試験で計測することのできるタイヤ振動特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact and simple rubbing color fastness tester for testing a color fade of fabric based on a rubbing tester defined in a rubbing color fastness test method (JISL0849).例文帳に追加

本発明は、摩擦に対する染色堅牢度試験方法（ＪＩＳＬ０８４９）に規定されている摩擦試験機にもとづき、繊維の色落ちの検査を行う小型の簡易摩擦染色堅牢度試験装置を提供する。 - 特許庁

This dynamic balance testing machine has base part, a rotation support member 4 supported by the base part and rotatably holding the rotation body 7 as a test object, and a vibration detection sensor which detects the vibration accompanying rotation of the rotation body 7.例文帳に追加

動釣合試験機は、基部と、基部に支持され試験対象である回転体７を回転自在に保持する回転支持部材４と、回転体７の回転に伴う振動を検出する振動検出センサとを有する。 - 特許庁

To provide a test procedure for a temperature rise of a transformer that can highly precisely estimate a winding temperature when testing a temperature rise in a single transformer with many secondary windings by a short-circuit method even if a short-circuit current may not pass 100% through all the secondary windings.例文帳に追加

多数の２次巻線をもつ変圧器単体の短絡法による温度上昇試験に、全２次巻線にＩ００％短絡電流が流れない場合にも高い精度で巻線温度を推定できる。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine constituted so as to perform an accurate hardness test even in such a case that the center position of the dent displayed on an observation screen is shifted from the center position of the observation screen at changeover to the observation screen.例文帳に追加

観察画面に切り換えた時に観察画面上に表示される圧痕の中心位置と観察画面上の中心位置とがズレている場合であっても、正確な硬さ試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.例文帳に追加

診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

A testing equipment e7 for semiconductor device, which performs a burn-in test of a wafer 401 that is not divided into chip size pieces yet, has a configuration including a circuit board 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retainer plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３、フィルム３０５、位置決め板３０７、押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加

熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁

The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.例文帳に追加

さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.例文帳に追加

複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.例文帳に追加

複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁

The solderability-testing device for evaluating solderability is provided with a heating member 4 that is capable of controlling temperature being retained with a specific gap to a metal test piece 2, and a means for measuring wetting force while keeping the temperature of the metal test piece 2 at a specific temperature by the heating member 4.例文帳に追加

はんだ濡れ性を評価するはんだ濡れ性試験装置において、金属試料片２と所定の間隔を保ち設けられる温度制御可能な加熱部材４と、加熱部材４により金属試料片２の温度を所望温度に保ちながら濡れ力を測定する手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加

本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁

Test sound output devices 23 for outputting a test sound for testing the hearing acuity of the subject 12 are arranged in a correction apparatus 14 selectively disposing corrective lenses 22 for correcting the visual performance of the respective subject's eyes 12 and 12b viewing a visual target 11 though a pair of optometric windows 21 in the respective optometric windows 21 respectively.例文帳に追加

一対の検眼窓２１を通して視標１１を見る各被検眼１２ａ，１２ｂの視機能を矯正するための矯正レンズ２２を各検眼窓２１内にそれぞれ選択的に配置する矯正装置１４に、被検者１２の聴力を検査するための検査音を出力する検査音出力装置２３を設ける。 - 特許庁

This abrasion testing apparatus 2 is provided with both a rotating drum 4 to which the test pieces T1-T6 are mounted and to be driven and rotated by a drive motor 5 and a water flow injecting device 6 having an injection nozzle 25 for injecting a flow of water to the test pieces T1-T6 mounted to the rotating drum 4 to rotate.例文帳に追加

摩耗試験装置２は、試験体Ｔ１〜Ｔ６が装着され駆動モータ５により回転駆動される回転ドラム４と、回転ドラム４に装着されて回転される試験体Ｔ１〜Ｔ６に対して水流を噴射する噴射ノズル２５を有する水流噴射装置６とを備えている。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.例文帳に追加

埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide high-speed bend testing equipment constituted so as to eliminate movement, by reducing the slide resistance of a movable plate vibrated at a high speed in a required stroke, to enhance the durability of the test equipment itself and which is capable of accurately and simply adjusting the attachment attitude and attaching position of a flexible printed wiring board which is a test piece.例文帳に追加

所要のストロークで高速振動する可動板の摺動抵抗を低減してブレをなくし、試験装置自体の耐久性を向上させるとともに、試験片であるフレキシブルプリント配線板の取付姿勢と取付位置を正確かつ簡単に調整可能な高速屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus 1 for testing termite repellency performance includes a space 6 formed for confining termites, setting a test piece 2, 2 composed of a wood or an insulating material face to the space 6, and a bait 20 located at a position where the termite confined in the space 6 can arrive by advancing while giving vermin damage in the inside of the test piece 2, 2.例文帳に追加

この防蟻性能試験装置１は、シロアリを閉じ込めるための隙間６を形成して、この隙間６に木材や断熱材等からなる試験体２、２を臨ませるとともに、隙間６に閉じ込められたシロアリが試験体２、２の内部を食害しながら進むことによって到達する位置に餌材２０を配置している。 - 特許庁

The tensile testing machine 1 comprises a measuring mechanism 6 for measuring the state of the test strip 2 held by the holding jig 322; a holding unit 32 for housing the test strip 2, along with the holding jig 322; and a moving mechanism 12 for moving the holding unit 32 in a plane perpendicular to the direction, inside which the irradiation with the electromagnetic wave M is carried out.例文帳に追加

引張試験装置１は、把持治具３２２に保持された試験片２の状態を測定する測定機構６と、把持治具３２２とともに試験片２を収容する保持ユニット３２と、保持ユニット３２を電磁波Ｍの照射方向に垂直な面内で移動する移動機構１２とを備えている。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁

To provide a method capable of providing a fiber product satisfying a standard of bacteriostatic performance specified by Japan Textile Evaluation Technology Council also in a test method by bacterial transferring method of quantitative test for JIS L 1902 (2002) [antibacterial testing method of fiber products and antibacterial effect] and to provide the above fiber product.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｌ １９０２（２００２）「繊維製品の抗菌性試験方法・抗菌効果」の定量試験の菌転写法による試験方法においても、社団法人繊維技術評価協議会が規定する抗菌性能の基準を満たす繊維製品を提供することのできる方法及びそのような繊維製品を提供する。 - 特許庁

To provide a system for testing IC that allows a simulation result in an analyzing part to be analyzed in real time, allows a microprogram inputted for setting a simulation condition to be diverted to setting of an actual testing condition, and can enhance the working efficiency for worker, by making a microprogram simulator and the analyzing part hold information about a simulation for an IC test and information about the test in common.例文帳に追加

マイクロプログラムシミュレータ及び解析部がＩＣ試験のシミュレーションに関する情報と試験に関する情報とを共有することにより、解析部におけるシミュレーション結果のリアルタイム解析を可能にするとともに、シミュレーション条件を設定するために入力したマイクロプログラムを、実際の試験条件の設定に転用することを可能にして、作業者の作業効率を高めるとができるＩＣ試験システムを提供する。 - 特許庁

An inert gas-filled container is connected to a test liquid supply tank in the soil-filled column testing apparatus comprising a soil-filled column, where soil/sand in which contaminant-decomposing bacteria are mixed; a test liquid supply tank for storing a test liquid supplied to the column; and an effluent tank for storing effluent flowing out of the column.例文帳に追加

汚染物質分解菌の混入した土壌・砂を充填した土壌充填カラムと、カラムに供給する試験液を貯蔵する試験液供給タンクと、カラムから流出する流出液を貯蔵する流出液タンクを有する土壌充填カラム試験装置において、試験液供給タンクに不活性ガス充填容器を接続したことを特徴とする土壌充填カラム試験装置などによって提供。 - 特許庁

To make it possible to detect a stable measuring value by the strain gauge bonded to a load cell without receiving the effect of a hydrogen gas in a testing machine of mechanical characteristics for measuring the load applied to a test piece using the strain gauge bonded to the load cell by arranging the test piece under a high-pressure gas atmosphere containing the hydrogen gas to apply load to the test piece.例文帳に追加

水素ガスを含む高圧ガス雰囲気下に試験片を配置して、この試験片に荷重を負荷し、前記試験片に負荷される荷重の測定を、ロードセルに貼着されてなる歪ゲージを用いて測定する機械特性試験装置において、前記歪ゲージが水素ガスの影響を受けることなく安定した測定値を検出することを可能ならしめる機械特性試験装置を提供する。 - 特許庁

A simulator 20 inputs simulation data which shows an application 130 a predetermined testing condition in an ECU side communication IF120 in order to test whether the software of the ECU normally works or not, and obtains data of a result computed by the application 130 by using the simulation data, and a test result determining section inside a CPU board 210 determines a result of the test based on the computing result data.例文帳に追加

シミュレータ２０は、ＥＣＵのソフトウェアが正常に作動するかを試験するために、アプリケーション１３０に所定の試験条件を示すシミュレーションデータをＥＣＵ１０側の通信ＩＦ１２０に入力し、そのシミュレーションデータを用いてアプリケーション１３０が演算した結果のデータを取得して、その演算結果データからＣＰＵボード２１０内の試験結果判定部が試験結果を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.例文帳に追加

ＢＳ−ＩＦ信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がＢＳ追加チャンネルのＢＳ−ＩＦ信号を伝送できるかどうかを試験することができるＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁