「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing the load of a testpiece from becoming zero upon interruption of a test and preventing undesired test force from acting on the testpiece upon resumption of the test.例文帳に追加

試験中断時に供試体の負荷がゼロとなることがなく、また、試験再開時に供試体に不所望な試験力が作用することがない材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

To reduce cost required for a test by enabling a high-speed LSI test by an inexpensive testing device, and to test also a semiconductor device on a mounting substrate.例文帳に追加

安価な試験装置により高速なＬＳＩの試験を可能として試験に要するコストを削減し、また、実装基板上の半導体装置の試験も可能とする。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.例文帳に追加

試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for changing a hardware logic of a gate array held by a test module corresponding to the properties of a device under test (DUT), and performing a proper test to the DUT.例文帳に追加

テストモジュールが有するゲートアレイのハードウェア論理をＤＵＴの性質に応じて変更し、当該ＤＵＴに適切な試験を実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

The vehicle traction device is constituted such that a dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the test vehicle 14, and that an arm 15 is provided to the dolly 13 to push the test vehicle 14.例文帳に追加

ドーリー13を試験用車両14の試験時の、移動方向の後方にのみ配置して、このドーリー13に試験用車両14を押すためのアーム15を取付ける。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加

本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

To provide heat aging testing equipment capable of reducing the load of testing work and capable of regulating the concentration of oxygen in a heat aging test without bringing about a sharp increase in testing cost.例文帳に追加

試験作業の負担を軽減し、かつ試験コストの大幅な上昇を招くことなく、熱老化試験における酸素濃度を調節することが可能な熱老化試験装置を提供する。 - 特許庁

This memory 55 is further provided with a supposed hardness memory 56 that stores the supposed hardness of the test piece and a testing force memory 57 that stores the testing force at the time of hardness testing.例文帳に追加

また、この記憶部５５は、試験片の想定される硬度を記憶する想定硬度記憶部５６と、硬度試験時の試験力を記憶する試験力記憶部５７とを備えている。 - 特許庁

To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁

To allow a test object to be properly irradiated with testing purpose radio wave without incurring an increase in cost of an amplifier used for transmitting the testing purpose radio wave in the case of carrying out an EMC test (particularly, an immunity test).例文帳に追加

ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a fretting corrosion testing device capable measuring accurately frictional force generated between test pieces when conducting a fine sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of more rapidly and more surely reporting changes in the characteristics of a test object during a test to an operator.例文帳に追加

試験中における試験体の特性変化を、より早くより確実にオペレータに報知することができる材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a life testing apparatus for portable terminals with sliding mechanism having high accuracy of a life test and inexpensively performing the test.例文帳に追加

寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a material testing machine for a fine test piece capable of measuring a fatigue characteristic and a tensile characteristic of the fine test piece with high accuracy.例文帳に追加

微小試験片の疲労特性及び引張特性を高精度に測定できる微小試験片用材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device in which both high-speed test and low- speed test can be conducted on one evaluation board.例文帳に追加

１つの評価ボード上で高速試験及び低速試験の両方を行うことができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.例文帳に追加

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

To perform a load test without using a network test tool (load tester), in a repeater provided with a load testing function.例文帳に追加

負荷試験機能を備えた中継装置に関し、ネットワークテストツール（負荷試験機）を用いることなく、負荷試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

The test terminal is disposed on an unnecessary portion of the semiconductor wafer 10, and when testing the semiconductor wafer 10, a tester 20 is connected to the test terminal 14.例文帳に追加

テスト端子１４は、半導体ウェハ１０の不要部に設けられ、半導体ウェハ１０のテスト時においてテスタ２０が接続される。 - 特許庁

A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself.例文帳に追加

車両試験装置上に積載された試験車両Ｖとの間に張架したベルト１１を介して、試験車両Ｖを固定する。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.例文帳に追加

高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路３をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern.例文帳に追加

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。 - 特許庁

To provide a test piece for a high pressure air-tight testing device and a refrigerating cycle, which may facilitate preparation of a high pressure air-tight test.例文帳に追加

高圧気密試験の準備作業の容易化が図れる、高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクルを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side.例文帳に追加

試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To obtain a radio communication terminal testing method, a radio communication terminal test system and a radio communication terminal which enhance efficiency of a field test.例文帳に追加

フィールド試験の効率性を高めた無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末を得る。 - 特許庁

An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加

このＢＧＡ型ＩＣの電気的特性試験は、アウターリード５ａと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR TESTING CABLE UNDER TEST, APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING ETHERNET(R) NETWORK CABLE例文帳に追加

検査中のケーブルを検査するための検査器、イーサネット（Ｒ）ネットワークケーブルを検査するための装置およびネットワークケーブルを検査するための方法 - 特許庁

To perform regression testing by verifying that interactive examples from a test file or a test object work as expected.例文帳に追加

テストファイルやテストオブジェクト中の対話モードにおける使用例が期待通りに動作するかを検証することで、回帰テストを実現します。 - Python

For important facilities and equipment, perform not only visual check, but also detailed check through testing such as operational test, leakage test and overhaul.例文帳に追加

重要な設備・機器については、目視点検だけでなく、作動試験、漏えい試験、分解点検等による詳細な点検を行う。 - 経済産業省

To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.例文帳に追加

試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce learning and training of a user concerning only a specific testing step of a load test.例文帳に追加

負荷試験の特定の試験段階のみに関与するユーザの学習及びトレーニングを減らす。 - 特許庁

To provide a system for game machine testing which can properly perform a performance confirming test.例文帳に追加

好適に性能確認試験を行うことが可能な遊技機試験用システムを提供すること - 特許庁

The boundary scan test of the circuit board is conducted by way of a connection jig provided with a circuit pattern of testing.例文帳に追加

回路基板のバウンダリスキャンテストを、テストの回路パターンを設けた接続治具を介して行う。 - 特許庁