ストレス試験の英語

ここにおいて、ストレス試験回路（１１）は、ストレス試験を実行するための制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）を試験対象（２）とストレス試験判定回路（１２）とに出力する。例文帳に追加

The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12). - 特許庁

本発明は、単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法とエージング試験法との間にＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験とリングオシュレータ（Ｒ．Ｏ．）を用いたＡＣストレス試験を行うことを特徴とする。例文帳に追加

O.) are performed between the DC stress test method of the simple body TEG and an aging test method. - 特許庁

ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。例文帳に追加

To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed. - 特許庁

半導体回路、及び半導体回路のストレス試験方法、半導体回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT STRESS TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT - 特許庁

全ての半導体デバイスに対し、ほぼ一定の温度ストレスをかけて試験をすることができる半導体の試験方法及び装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for testing a semiconductor capable of testing by applying a substantially constant temperature stress to all semiconductor devices. - 特許庁

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress. - 特許庁

心臓の呼吸数がモニターされる間、患者が可動トレッドミルの上を歩くストレス試験例文帳に追加

a stress test in which the patient walks on a moving treadmill while the heart and breathing rates are monitored発音を聞く  - 日本語WordNet

表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法例文帳に追加

GRADATION WIRING FOR DISPLAY DEVICE, DRIVER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS STRESS TESTING METHOD - 特許庁