A. A. Michelsonとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 米国の物理学者(ドイツ生まれ)で、マイケルソン・モーリーの実験でモーリーと協力した(1852年−1931年)
日本語WordNet(英和)での「A. A. Michelson」の意味 |
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A. A. Michelson
米国の物理学者(ドイツ生まれ)で、マイケルソン・モーリーの実験でモーリーと協力した(1852年−1931年)
(United States physicist (born in Germany) who collaborated with Morley in the Michelson-Morley experiment (1852-1931))
「A. A. Michelson」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
a celebrated experiment conducted by Albert Michelson and Edward Morley発音を聞く 例文帳に追加
アルバートマイケルソンとエドワードモーリーにより実施された有名な実験 - 日本語WordNet
Light of the light source 10 is made to interfere by a Michelson interferometer 20, and an interference signal is thinned by a PDC 40.例文帳に追加
光源10の光をマイケルソン干渉計20により干渉させ、干渉信号をPDC40により間引きする。 - 特許庁
A Michelson type interferometer main body 1 is provided with a laser beam source 10, an optical wedge 28, a base plate 34, the work 36 and a CCD camera 42 for acquiring an interference fringe image, and supplies the interference fringe image to a PC 2.例文帳に追加
マイケルソン型干渉計本体1はレーザ光源10、光学楔28、ベースプレート34、ワーク36及び干渉縞画像を取得するCCDカメラ42を備え、干渉縞画像をPC2へ供給する。 - 特許庁
The method of plotting on glass is characterized in that a plurality of lines are simultaneously plotted by using such an interferometer as a Mach-Zehnder interferometer or a Michelson interferometer.例文帳に追加
マッハ・ツェンダー干渉計またはマイケルソン干渉計などの干渉計を用いて、複数のラインを同時に描画することを特徴とするガラスの描画方法。 - 特許庁
To provide a Michelson type interferometer capable of measuring at high resolution an absolute value of a wavelength of light having 0.5nm or less of wavelength, and a spectral diffraction element used therefor.例文帳に追加
0.5nm以下の波長を有する光の波長の絶対値を高い分解能で測定することができるマイケルソン型干渉計及びそれに用いられる結晶分光素子を提供する。 - 特許庁
The whole shape is measured by stitching a plurality of microscopic measured data by a Michelson type microinterferometer by using the whole shape data by a Fizeau type interferometer.例文帳に追加
フィゾー型干渉計による全体形状データを用いて、マイケルソン型顕微干渉計による複数の顕微測定データをスティッチングして全体形状を測定する。 - 特許庁
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「A. A. Michelson」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
The multiplexed light Lc is divided into light fluxes of wavelengths λ1 and λ2, and a measuring signal of a sine wave of one period is obtained for (1/2)λ1 movement and (1/2)λ2 movement by the principle of a Michelson interferometer.例文帳に追加
この合波光Lcを波長λ1、λ2の光束に分離し、マイケルソン干渉計の原理により、(1/2)λ1移動及び(1/2)λ2移動に対して1周期の正弦波の測定信号を得る。 - 特許庁
To provide a technique capable of improving temperature stability of an optical multiplexer/demultiplexer using a Mach-Zehnder type interference system, a Michelson type interference system, etc.例文帳に追加
マッハツェンダー型干渉系やマイケルソン型干渉系などを用いた光合波分波器において、温度安定性を向上させることができる技術を提供する。 - 特許庁
The two-beam interference effect is optionally provided by a free-time Mach Zehnder interferometer, an incorporated Mach-Zehnder interferometer, a Michelson interferometer, or combinations of them.例文帳に追加
2ビーム干渉効果は、オプションで、自由時間マッハツェンダ干渉計、組み込みマッハツェンダ干渉計、マイケルソン干渉計、またはそれらの組み合わせによって提供される。 - 特許庁
Objects equivalent to the two mirrors of a Michelson interferometer are separately allowed to fall freely, and a temporal change in the displacement therebetween is measured by the output of the interferometer.例文帳に追加
マイケルソン干渉計の2つの鏡に相当する物体を別々に自由落下させ、それらの間の変位の時間変化を干渉計の出力で計測する。 - 特許庁
To provide a delayed interferometer which can arrange input/output ports without being restricted by the distance between two adjacent ports and facilitate downsizing of a Michelson type delayed interferometer unit installed therewithin.例文帳に追加
隣り合う2個のポート間距離の制約を受けないで入出力のポートを配置することを可能とし、内部に実装されるマイケルソン型遅延干渉計ユニットの小型化を容易とする遅延干渉計を実現する。 - 特許庁
Then, based on the position calculated by the Michelson interferometer and the distance which is calculated based on time of flight, a distance to a long-distance measuring object is calculated.例文帳に追加
そして、マイケルソン干渉計により算出された位置と、飛行時間により算出された距離とに基づいて遠距離にある測定対象物Wまでの距離を算出する。 - 特許庁
A Michelson interferometer (10) is provided which is adapted to receive an input signal(IS) and the continuous optical signal generated by the source (2) to generate an output signal(OS).例文帳に追加
入力信号(IS)と、ソース(2)によって生成された連続的な光信号とを受け取って、出力信号(OS)を生成するように構成されたマイケルソン干渉計(10)が設けられる。 - 特許庁
A phase shift is imparted to each phase component generated from a wide-band laser light source 11 by a phase modulator 12, and a sample 18 is irradiated with light passing an interference autocorrelation measuring device 13 formed by combining a Michelson interferometer 14 with a piezo stage 15.例文帳に追加
広帯域レーザー光源11から発生された個々の波長成分に位相変調器12によって位相シフトを与え、マイケルソン干渉計14とピエゾステージ15を組み合わせた干渉自己相関計13を通した光を試料18に照射する。 - 特許庁
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