Large Scale Testとは 意味・読み方・使い方

To perform aseismatic test of a large scale sample utilizing the size of a vibration table sufficiently.例文帳に追加

振動台の大きさを十分に活用した大型の供試体による耐震試験を可能にする。 - 特許庁

To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加

大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device for reducing test patterns for an LSI (Large-Scale Integration) tester without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能なテストパターン作成装置を提供すること。 - 特許庁

The load test program includes a small-scale test program 8 having few hardware resources to be assigned, compared with a hardware configuration of large computer, and control information 8a is added to the small-scale test program 8.例文帳に追加

負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア構成と比較して、割り当てるべきハードウェア資源が少ない小規模試験プログラム８を備え、小規模試験プログラム８には、制御情報８ａが付加されている。 - 特許庁

Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加

ＲＡＭやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁

To specify a wire breaking place in a shorter period of time with the smaller number of measuring electrode pads when a plurality of test elements of a large-scale contact chain or large-scale wiring pattern are electrically measured.例文帳に追加

大規模なコンタクトチェーン又は大規模な配線パターンにおける複数のテスト素子の電気測定を行う際により少ない測定用電極パッドでより短時間に断線箇所の特定を行う。 - 特許庁

SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature.例文帳に追加

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。 - 特許庁