「Large Scale Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a test information management server for refining a necessary test pattern, in a test of a large-scale software component.例文帳に追加

大規模なソフトウェア部品のテストにおいて、必要なテストパターンを絞り込むことができるテスト情報管理サーバを提供する。 - 特許庁

A large-scale test of the system was held in Tomakomai, Hokkaido, on Oct. 6. 例文帳に追加

10月６日，北海道苫(とま)小(こ)牧(まい)市で，システムの大規模な試験が行われた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To perform aseismatic test of a large scale sample utilizing the size of a vibration table sufficiently.例文帳に追加

振動台の大きさを十分に活用した大型の供試体による耐震試験を可能にする。 - 特許庁

To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加

大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device for reducing test patterns for an LSI (Large-Scale Integration) tester without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能なテストパターン作成装置を提供すること。 - 特許庁

The load test program includes a small-scale test program 8 having few hardware resources to be assigned, compared with a hardware configuration of large computer, and control information 8a is added to the small-scale test program 8.例文帳に追加

負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア構成と比較して、割り当てるべきハードウェア資源が少ない小規模試験プログラム８を備え、小規模試験プログラム８には、制御情報８ａが付加されている。 - 特許庁

Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加

ＲＡＭやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁

To specify a wire breaking place in a shorter period of time with the smaller number of measuring electrode pads when a plurality of test elements of a large-scale contact chain or large-scale wiring pattern are electrically measured.例文帳に追加

大規模なコンタクトチェーン又は大規模な配線パターンにおける複数のテスト素子の電気測定を行う際により少ない測定用電極パッドでより短時間に断線箇所の特定を行う。 - 特許庁

SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature.例文帳に追加

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。 - 特許庁

To provide a random number test circuit having no limit on a total number of a random number necessary for test, and preventing increase of a circuit scale even if handling a large number of data necessary for the test to allow miniaturization.例文帳に追加

検定に必要な乱数の総数に制限がなく、多量の検定に必要なデータ数を扱ったとしても回路規模が増大せず、小型化が可能な乱数検定回路を提供することを可能にする。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce test items and to shorten a test time by reducing the number of terminals without complicating a design of an output terminal selection circuit in an isolation test of a large-scale system LSI.例文帳に追加

大規模システムＬＳＩのアイソレーションテストにおいて、出力端子選択回路の設計を複雑化させることなく端子数の削減を可能にし、テスト項目の削減およびテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of enhancing a failure detection rate in an LSI while restraining a circuit scale from increasing and getting large.例文帳に追加

回路規模の増大を抑えながら、ＬＳＩの故障検出率の向上を図ることができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To enable a connection test between chips with a smaller scale circuit in a multi-chip module formed by mounting small chips on a large chip.例文帳に追加

大チップの上に小チップを実装してなるマルチチップモジュールにおいて、より小規模な回路で、チップ間接続テストを可能とする。 - 特許庁

To provide a simple method capable of evaluating accurately brittle fracture propagation stopping performance of a thick steel plate without performing a large scale test.例文帳に追加

大型試験を行わずとも厚鋼板の脆性破壊伝播停止性能を正確に評価できる簡易な手法を提供する。 - 特許庁

To test LSIs to be inspected of a large-scale circuit constitution at low costs by utilizing a conventional logic LSI tester.例文帳に追加

大規模な回路構成の被検査ＬＳＩを、従来のロジックＬＳＩテスタを活用して、低コストで検査する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

Absorbance measurement is done twice for each test solution; one immediately after mixing a test reagent or a diluent with the sample and the other after occurring of the large scale of binding.例文帳に追加

試験溶液につき２回の吸光度測定を行い、１回は試薬／希釈剤と試料との混合直後に行い、他の１回は著量の結合が生じた後に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device provided with a self-diagnostic test function that dispenses with complicated control by the arrangement of a complicated and large-scale circuit configuration and can flexibly cope with even revisions and additions of test specifications.例文帳に追加

複雑で大規模な回路構成を備えて複雑な制御をする必要なく、テスト仕様の変更や追加に対しても柔軟に対応することができる自己診断テスト機能を備えた半導体記憶装置を提供すること - 特許庁

To provide a test circuit by which a large-scale semiconductor device is self-tested at an actual operating speed only by additing a few circuits by using a boundary scan register, and which outputs only its test result to the outside.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを利用して、ごく僅かな回路の追加だけで、大規模な半導体装置を実動作速度で自己テストし、そのテスト結果だけを外部へ出力することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a system for appropriately evaluating the achievement of an examinee based on a new and different test result in a state where a deviation value calculated from a test result in which the group of a large scale is taken as an object is reflected.例文帳に追加

大規模の集団を対象にした試験結果から算出される偏差値を反映させた形で、新たな別の試験結果に基づいて受験生の学力を適切に評価し得るシステムを提供する。 - 特許庁

To solve such a problem that in a large scale semiconductor integrated circuit, such constitution is well known that the number of test terminals is decreased by inputting an output signal to an exclusive OR circuit to decrease many terminals for test.例文帳に追加

大規模化な半導体集積回路では、多数のテスト用の端子を減らすため、出力信号を排他的論理和回路に入力させることによりテスト端子の数を減らす構成が知られている。 - 特許庁

To provide an optimum production system for a test culture of genome decipherment crops or a large scale production for industrial purpose to improvea self sufficiency rate with the large scale production at a low cost by automating each process of hydroponics and accelerating agricultural refreshment and activity.例文帳に追加

水耕栽培をオートメーション化して各工程を効率化し、農業の再生、活性化を促進し、自給率を向上させる事が出来、且つ低コストで大量生産が可能であり、又、ゲノム解読作物のテスト栽培や産業目的の大量生産に最適な生産方式を提供する。 - 特許庁

To conduct a test with good operability in a short period of time even if an alarm system is installed in a high-rise, large-scale apartment with a large number of dwelling units on each floor, etc.例文帳に追加

高層で各階の住戸数が多い大規模なマンション等に設置した場合であっても、操作性良くかつ短時間で試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable to retrieve failure factors by automatically changing test conditions at a high speed, regarding a device test estimating system and its method which retrieve failure factors of a device to be measured like an LSI (large scale integrated circuit) and perform test estimation.例文帳に追加

ＬＳＩデバイス等の被測定デバイスの不良要因を検索して試験評価を行うためのデバイス試験評価システムおよびその方法に関し、自動的にかつ高速に試験条件を可変にして不良要因を検索することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for generating a piece database of a scale, according to the storage capacity and processing capability of an object speech synthesizer, by effectively determining a speech piece to be deleted from a large scale piece data base, using less test text.例文帳に追加

少ない試験テキストで、大規模な素片データベースから削除する音声素片を効果的に決定し、対象とする音声合成装置の記憶容量や処理能力に応じた規模の素片データベースを生成する装置を提供する。 - 特許庁

To simultaneously test the transmitting/receiving of two devices related to an ISDN while confronting these devices without requiring the facility of large scale and without preparing an expensive measuring instrument.例文帳に追加

大掛かりな設備を必要とせず、また、高価な計測器も用意せずに対向させた状態で同時に２台のＩＳＤＮ関連装置の送受信試験を行うことを可能とする。 - 特許庁

To solve the problem that the number of flip flops included per scan chain from the limit of the number of terminals is increased when a circuit scale is large and a test time increases in a semiconductor integrated circuit designed in a shift scan system.例文帳に追加

シフトスキャン方式で設計された半導体集積回路において、回路規模が大きくなると端子数の制限からスキャンチェーン１本あたりに含まれるフリップフロップの数が増加し、テスト時間が増大する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit test board that is capable of arranging lead wires in order with appearance close to a circuit diagram as much as possible, utilizing various electronic components on the market and also dealing with a large scale circuit.例文帳に追加

導線をできるだけ回路図に近い外観で整然と配置することができ、多様な市販の電子部品を利用可能かつ、大規模な回路にも対応可能な電子回路試作盤を提供する。 - 特許庁

To effectively utilize an existing pattern memory to conduct a desired IC test without increasing memories, even in an IC of which the number of pins is extremely small although a circuit scale is large.例文帳に追加

回路規模は大きいが、その一方、ピン数が極端に少ないＩＣに対しても、既存のパターンメモリを有効に活用して、メモリの増強をすることなく、所望のＩＣテストを行うことを可能とすること。 - 特許庁

To enable execution of a burn-in test for a wafer formed with a large number of dies by decreasing the number of control signals required for power-source control dies formed on a wafer for smaller device scale.例文帳に追加

ウェーハ上に形成されたダイの電源制御に必要となる制御信号の本数を減らして装置規模を小さくし、多数のダイが形成されたウェーハのバーンイン試験を実施可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To execute a test by an active unit without deteriorating throughput of the whole system while executing applications by the active unit in a system having a large scale server device.例文帳に追加

大規模のサーバ装置を有するシステムにおいて、本番機で業務をしながら、システム全体の処理能力を低下させることなく、本番機でテストを実施する。 - 特許庁

To provide an ideal logic verification system which is applied to the large scale logic of data communication equipment, etc., and by which the number of prepared test data strings is reduced and the result can be easily verified.例文帳に追加

テストデータ列の作成数を削減すると共に、結果の検証を容易に行うことのできるデータ通信装置等の大規模論理に適用して好適な論理検証方式。 - 特許庁

An LSI(large scale integrated circuit) 18 for BOST and a DUT (device under test) 7 are mounted on the same socket 12, and an electrode of the LSI for BOST and that of the DUT 7 are brought into direct contact with each other.例文帳に追加

ＢＯＳＴ用ＬＳＩ８及びＤＵＴ７を同一のソケット１２に装着し、ＢＯＳＴ用ＬＳＩ８の電極及びＤＵＴ７の電極を直接コンタクトさせる。 - 特許庁

To provide an analysis method of a truss wall structure dispensing with a large-scale test facility, capable of determining simply and accurately an elastic/plastic restoration force characteristic of the truss wall structure.例文帳に追加

大規模な試験設備が不要で、トラス壁構造の弾塑性復元力特性を簡単かつ精度良く求めることができるトラス壁構造の解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide emulation, simulation and testability architecture without using an expensive tester in order to perform a test and debug of a large scale integrated circuit, which is excellent in observability and controllability and can reduce development time.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁

To acquire detailed optical performance information held by a test optical system transmitted light wave without using a large-scale device, and to measure/evaluate the optical characteristic such as a light quantity distribution or wavefront aberration, when evaluating the test optical system.例文帳に追加

被検光学系の評価にあたり、大がかりな装置を用いることなく被検光学系通過光波が持つ詳細な光学的性能情報を取得することを可能とし、光量分布や波面収差等の光学的特性を測定・評価する。 - 特許庁

In a line test, the problem that a circuit scale becomes large or the like because a checking circuit has to be provided in each package to discriminate the faulty package can be dealt with by one checking circuit even when the number of packages is large by adding the diagnostic bit to each package.例文帳に追加

回線試験において、障害パッケージを識別するのに各パッケージにチェック回路を設けなくてはならないために回路規模が大きくなる等の問題を、診断ビットを各パッケージに付加することにより、パッケージの枚数が多くても、チェック回路が一つにできる。 - 特許庁

In the material designing device 100 for a thin film stock produced by continuous casting, a solidified structure obtained by a small-scale test by a casting apparatus 210 for a test is arranged by local temperature history obtained by performing casting simulation obtained by simulating the small-scale test, thus the specification of a large-scale continuous casting apparatus 220 for mass production capable of reproducing the same local temperature history is decided by casting simulation.例文帳に追加

連続鋳造によって製造される薄膜素材の材料設計装置１００において、試験用鋳造装置２１０による小規模試験で得られた凝固組織を、この小規模試験を模擬した鋳造シミュレーションを実施して得られた局所温度履歴で整理することによって、同一の局所温度履歴を再現し得る大規模な量産用連続鋳造装置２２０の仕様を、鋳造シミュレーションによって決定する。 - 特許庁

To provide a film speed automatic reading and inspecting device for a camera which performs inspection in as an early stage of camera assembly before cover build-up without setting any special test mode nor requiring a large-scale tool.例文帳に追加

格別なテストモードの設定を必要とすることなく、また、大がかりな治工具を必要とすることなく、さらに、カバーを組み付けていないカメラ組立のできるだけ前の行程で検査を実施可能にするカメラのフィルム感度自動読取検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.例文帳に追加

本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To ready and grasp and manage, without fail, the number of contacts of a test needle in semiconductor chip units with a configuration, as simple as possible, without additionally using any large-scale devices, and thereby to reduce the manufacturing cost and time.例文帳に追加

大掛かりな装置を付加使用することなく可及的に簡易な構成により半導体チップ単位における試験用針の接触回数を容易且つ確実に把握して管理することができ、ひいては製造コストの削減及び製造時間の短縮化を可能とする。 - 特許庁