インスペクションの英語

インスペクション方法および装置、リソグラフィ装置、リソグラフィ処理セルおよびデバイス製造方法例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTION, LITHOGRAPHIC DEVICE, LITHOGRAPHIC PROCESSING CELL, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE - 特許庁

ソースコードインスペクションシステムは、インスペクション装置７００と、適用除外申請装置によりソースコードがコピーされたインスペクション用データベース１０５と、インスペクションルール適用除外データベース１０４とを備える。例文帳に追加

The source code inspection system is provided with: an inspection apparatus 700; an inspection data base 105 where the source code is copied by an application exception applying apparatus; and an inspection rule application exception data base 104. - 特許庁

コーディング規準遵守監視システム１００では、インスペクション担当者により各プロジェクト毎に予め作成，指定された実行定義情報１１１，ルール情報１１２に基づき、定期的にインスペクション処理を実行するとともに、インスペクション処理の結果を集計して各プロジェクト毎にコーディング規準遵守状況レポート１３０を生成する。例文帳に追加

In the coding standard observance monitoring system 100, on the basis of execution definition information 111 and rule information 112 which are created and specified in advance every project by a person in charge of inspection, inspection processing is executed regularly and a coding standard observance situation report 130 is generated every project by totalizing results of the inspection processing. - 特許庁

インスペクション方法及び装置、リソグラフィ装置、リソグラフィプロセシングセル及びデバイス製造方法、これら方法で使用する基板例文帳に追加

INSPECTION METHOD AND APPARATUS, LITHOGRAPHY APPARATUS, METHOD OF MANUFACTURING LITHOGRAPHY PROCESSING CELL AND DEVICE, AND SUBSTRATE USED FOR THE METHODS - 特許庁

ウェハの大口径化に対しても、装置を大型化することなく、設置スペースを節約できる半導体ウェハのインスペクション装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device for a semiconductor wafer which can save an installation space without enlarging the device for a wafer with a larger diameter. - 特許庁

品質評価部１０７はソースコード１０３単位、技術者単位、会社単位、プロジェクト１０２単位でインスペクションおよびソースコードや能力の評価を行う。例文帳に追加

The quality evaluating part 107 performs inspection and evaluates the source code and the capability by the source code 103 unit, the engineer unit, the company unit, and the project 102 unit. - 特許庁

即ち、本発明のインスペクション装置は、半導体ウェハ４を載置保持するＸ−Ｙステージ２を、防振台１に対して垂直、縦方向に配置している。例文帳に追加

That is, in this inspection device, an X-Y stage 2 mounting and holding a semiconductor wafer 4 is arranged in the direction vertical and longitudinal to a vibration-proof table 1. - 特許庁

チェックポイント社の原技術資料、「ステートフル・インスペクション・ファイアウォール技術」と題されたステートフル・パケット・フィルタリングに関する資料では、著者達はいくつかの優先主張を行っている。例文帳に追加

In Check Point's original technical note on stateful packet filtering entitled "Stateful Inspection Firewall Technology," the writers make certain initial claims.発音を聞く  - コンピューター用語辞典