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遅延ヒューズの英語
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「遅延ヒューズ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
すなわち、ヒューズの切断によって可変遅延回路36はイネーブル遅延ブロック数が可変される。例文帳に追加
Namely the circuit 36 changes the number of enabled delay blocks by cutting off the fuses. - 特許庁
また、ヒューズを用いて、前記テスト状態においてヒューズの有無により、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。例文帳に追加
A delay-time shortening mode is obtained by using a fuse depending on the presence or absence of the fuse in the test state. - 特許庁
各ブロック内における各遅延は、グローバル・ヒューズ回路がプログラムするので、全ブロックは同じ遅延を有する。例文帳に追加
For each delay in each block, as a global fuse circuit is programmed, all blocks have same delay. - 特許庁
製品試験で得られた適正な遅延制御信号の値を、ヒューズ回路またはPROMで構成される遅延設定回路40に記憶させる。例文帳に追加
The proper value of delay control signal obtained by the product test is stored in a delay setting circuit 40 composed of a fuse circuit or PROM. - 特許庁
ヒューズ配線1において、ヒューズ開口部3の周縁に位置する部分からその端部をヒューズ配線層の直近の上層又は下層の配線層と電気的に接続するビアホール2までの間に腐食原因物質の侵入を遅延させる侵入経路の延長構造を設けた。例文帳に追加
The extension structure of an intrusion path that makes intrusion of a corrosion-causing substance delay is provided between the part of a fuse wiring 1 that is positioned at the periphery of a fuse opening 3 and a via hole 2 that electrically connects its end to the wiring layer in the upper layer or lower layer close to a fuse wiring layer. - 特許庁
ヒューズ切断前に、ヒューズ切断の有無によって選択できる複数の遅延経路のいずれが最適かを選択でき、クロックスキューを調整可能な半導体集積回路を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor integrated circuit capable of selecting any optimum delay path among delay paths selected depending on the presence / absence of a blown fuse before a fuse is blown and adjusting clock skew. - 特許庁
動作遅延手段4は、バネからなり、常用ヒューズ2が断線していない場合には糸ヒューズで引っ張られることで、予備回路接点5が開路になる。例文帳に追加
An action delaying means 4, made of a spring, is pulled by the fuse wire, when the regular-use fuse 2 is not broken, to have the backup circuit contact 5 opened. - 特許庁
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「遅延ヒューズ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。例文帳に追加
In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes. - 特許庁
さらに、ヒューズを用いて、前記テスト状態において、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。例文帳に追加
Further, in the above test state, two delay time shortening modes for testing are implemented using a fuse. - 特許庁
遅延固定ループを備える同期型半導体装置において、実際内部回路の遅延時間をレプリカするためのレプリカ遅延部100と、前記レプリカされた遅延時間を制御するためのアンチヒューズ回路部200と、前記アンチヒューズ回路部に高電圧を印加するための高電圧発生器300とを含む。例文帳に追加
The synchronous semiconductor device having a delay locked loop may include a replica delay 100 for replicating the delay time of an internal circuit, an anti-fuse circuit 200 for controlling the replicated the delay time, and a high voltage generator 300 that applies a high voltage into the anti-fuse circuit 200. - 特許庁
グローバル・ヒューズ回路は、クロック制御回路内の遅延素子をプログラムする際にも用いるので、クロック制御回路およびデータ・ブロック内の遅延は本質的に同一となる。例文帳に追加
As the global fuse circuit is used also for programming a delay element in the clock control circuit, delay in the clock control circuit is made substantially same as delay in the data block. - 特許庁
このうち、遅延ブロック41 nは、ディスエーブル調節部43のヒューズ43aを切断することによりディスエーブルされて、基準クロック信号RCLKの遅延パスとして作用しない。例文帳に追加
A delay block 41-n is disabled by cutting off a fuse 43a of a disable state control part 43 and does not act as a delay pass for a reference clock signal RCLK. - 特許庁
接続選択回路30−1〜30−n中のヒューズを適宜溶断することにより、所望の遅延特性を有する遅延パスが選択されて出力端子OUTに接続される。例文帳に追加
A delay path having a desired delay characteristic is selected and connected to the output terminal OUT by properly blowing out fuses in the connection selection circuits 30-1-30-n. - 特許庁
(N−4)段目の遅延時間(0.25S)の測定によりウェハーテストを行った後、レーザトリミングによりヒューズを選択的に切断することにより、遅延時間を0.25S、0.5S、1.0S、2.0S、4.0Sのうち、所望の値に設定する。例文帳に追加
After a wafer test is performed by measuring the delay time (0.25S) at (N-4) stage, fuses are blown out selectively by laser trimming and a delay time is set at a desired value among 0.25S, 0.5S, 1.0S, 2.0S and 4.0S. - 特許庁
また、遅延ブロック41 n+1は、イネーブル調節部45のヒューズ45aを切断することによりイネーブルされて、基準クロック信号RCLKの遅延パスとして作用する。例文帳に追加
A delay block 41-n+1 is enabled by cutting off a fuse 45a of an enable state control part 45 and acts as a delay pass for the signal RCLK. - 特許庁
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