半価層の英語

付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法例文帳に追加

ADDITION FILTER, HALF-VALUE LAYER MEASURING INSTRUMENT USING IT AND HALF-VALUE LAYER MEASURING METHOD - 特許庁

より短時間で半価層を計測可能とする付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an addition filter measuring a half-value layer in a shorter time, a half-value layer measuring instrument using it and a half-value layer measuring method. - 特許庁

前記二軸集合組職の鍍金層はc軸配向のピーク半価幅値が4度以内で、a軸とb軸で構成された平面上での結晶粒間のミスオリエンテーション(Misorientation)がφ-スキャンで測定したピークの半価幅値が5.2度以内である立方晶の集合組職であることを特徴とする。例文帳に追加

The biaxial texture of the plating layer is a cubic crystal texture wherein the peak half-width value in c-axis orientation is 4 degrees or less and the misorientation between crystal grains on a plane formed by a-axis and b-axis has a peak half-width value measured by ϕ-scan is 5.2 degrees or less. - 特許庁

面内異方性磁気記録媒体の磁性層の配向性をロッキングカ−ブ法で求めた半価幅またはφスキャン法で求めた半価幅を用いて判定することにより、高記録密度に対応した静磁気特性や電磁変換特性を有する磁気記録媒体を得ることが出来る。例文帳に追加

The orientation properties of the magnetic layer of a plane- anisotropic magnetic recording medium are judged using half value width obtained by a rocking curve method or half value width obtained by a ϕ scanning method so as to obtain the objective magnetic recording medium having magnetostatic characteristics and electromagnetic transducing characteristics adapted to high recording density. - 特許庁

基板１１と、基板１１上に設けられた中間層１２と、中間層１２上に設けられ、（０００２）面のロッキングカーブ半価幅が１００ａｒｃｓｅｃ以下であり、かつ（１０‐１０）面のロッキングカーブ半価幅が３００ａｒｃｓｅｃ以下である下地層１４ａとを備えてなるＩＩＩ族窒化物化合物半導体素子とする。例文帳に追加

The group III nitride compound semiconductor light-emitting element comprises a substrate 11, an interlayer 12 provided on the substrate 11, and a base layer 14a provided on the interlayer 12 where the rocking curve half peak width of (0002) plane is 100 arcsec or smaller and the rocking curve half peak width of (10-10) plane is 300 arcsec or smaller. - 特許庁

そして、転がり面２ａをなす表層部において、マルテンサイト結晶での回折Ｘ線の半価幅を６．０°以下とし、硬さをＨｖ６５３以上とし、残留オーステナイト量を２．０体積％未満とする。例文帳に追加

In a surface layer part forming a rolling face 2a, half-power band width of diffraction X ray in martensite crystal is 6.0° or less, hardness is Hv 653 or more, and amount of remaining austenite is less than 2.0 vol.%. - 特許庁

そのために、ポリエステル樹脂層の厚さ方向の断面における、直線偏光のレーザー光を用いたレーザーラマン分光分析法から求められる1730cm^-1近傍のC＝0伸縮振動に起因したピークの半価幅を、16.0cm^-1〜24.0cm^-1の範囲とする。例文帳に追加

For this purpose, a half-value width of a peak caused by C=0 stretching vibration around 1,730 cm^-1 obtained from a laser Raman spectroscopy method using direct polarized laser beam is set forth within a range of 16.0-24.0 cm^-1. - 特許庁