暗視野顕微鏡法の英語

また、暗視野顕微鏡法を用いて、基板上に吐出された液滴中内の微粒子の個数を実時間で計測する。例文帳に追加

The number of the fine particles contained in the liquid droplets discharged to the substrate is measured, in real time, using a dark field microscopic method. - 特許庁

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。例文帳に追加

To enable switching of at least two of the observation methods in an optical microscope system for e.g. bright field observation, dark field observation, and differential interference observation. - 特許庁

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。例文帳に追加

To allow an optical microscope system to be switched to at least two observation methods such as bright field observation, dark field observation, and differential interference observation. - 特許庁

合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置例文帳に追加

LOCAL POLARIZING MICROSCOPE ANALYSIS/SPECTRAL SEPARATION METHOD AND APPARATUS BY COMPOSITE EVANESCENT WAVE DARK FIELD EXCITATION, AND SUBSTANCE OPERATION METHOD AND APPARATUS APPLYING THE METHOD AND THE APPARATUS - 特許庁

簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。例文帳に追加

To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy. - 特許庁

本発明に係る粒子径分布測定方法は、暗視野顕微鏡４の集光領域を移動させることによって、セル２の異なる深度から各深度に含まれる粒子群によって散乱される散乱光を連続して集光する。例文帳に追加

In the particle diameter distribution measuring method, scattered beams of light, which are scattered by particle groups contained at respective depths, are continuously condensed from the different depths of the cell 2 by moving the condensing region of a dark-field microscope 4. - 特許庁

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。例文帳に追加

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope. - 特許庁

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus. - 特許庁