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欠陥モードの英語
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英訳・英語 failure mode
「欠陥モード」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 88件
欠陥検出修正部４０は、欠陥検出処理は複数の欠陥検出モードを有し、欠陥修正処理は複数の欠陥修正モードを有する。例文帳に追加
A defect detection and correction part 40 is composed so that defect detection processing has a plurality of defect detection modes and defect correction processing has a plurality of defect correction modes. - 特許庁
欠陥検出モード及び欠陥修正モードの少なくとも一方を切換えるためのモード切換条件を取得して、モード切換条件に基づいて、複数の欠陥検出モードから所定の欠陥検出モードを選択することと、複数の欠陥修正モード中から所定の欠陥修正モードを選択することの少なくとも一方を行う。例文帳に追加
The defect detection and correction part executes at least either of operation for selecting a prescribed defect detection mode from among a plurality of the defect detection modes and operation for selecting a prescribed defect correction mode from among a plurality of the defect correction modes on the basis of mode switching conditions after acquiring the mode switching conditions for switching at least either of the defect detection modes and the defect correction modes. - 特許庁
本発明は、欠陥モードに制限されず、且つ広い視野範囲で輝点欠陥を黒点欠陥化できる輝点欠陥修復方法及び当該方法を用いた液晶表示装置、輝点欠陥修復装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method for repairing bright spot defects by which the bright spot defects can be made into black spot defectd over a wide viewing range regardless of a defect mode, and to provide a liquid crystal display device using the method, and a device for repairing the bright spot defect. - 特許庁
３次元フォトニック結晶を用いた欠陥モードの制御方法例文帳に追加
METHOD FOR CONTROLLING DEFECT MODE USING THREE-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL - 特許庁
静止画表示モード時に滅点となる欠陥画素の発生を防止する。例文帳に追加
To prevent defective pixels from occurring which flicker in the still picture display mode. - 特許庁
アクティブマトリクス基板、又はアクティブマトリクス液晶パネルにおいて、基板又はパネルに発生している欠陥、実装工程後に確認される欠陥、或いは将来欠陥となる恐れのある欠陥を検出し、検出した欠陥モードに応じた修正を行う。例文帳に追加
To detect an existing defect on a substrate or a panel, a defect confirmed after a mounting process, or a possible future defect, and to correct them according to detected defect modes, in an active matrix substrate or an active matrix liquid crystal display panel. - 特許庁
欠陥画素情報保持部１４０は、全画素を順次読み出す通常モードの選択時に検出された欠陥画素の位置情報を記憶する。例文帳に追加
A defective pixel information holding part 140 stores position information of a defective pixel which is detected when a normal mode of successively reading all pixels is selected. - 特許庁
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「欠陥モード」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 88件
本コーディングモードによって欠陥管理領域を増やすことなく、より高容量ディスク媒体の欠陥を管理することが可能となる。例文帳に追加
It becomes possible to manage defects of a disk medium of a high capacity without increasing defect management regions by this coding mode. - 特許庁
そして、連続記録モードにおいて、ヘッド部３が欠陥候補セクタに達したときは、コントローラ５が、この欠陥候補セクタをスキップさせる制御を行う。例文帳に追加
When the head part 3 reaches the candidate defect sector, the controller 5 controls to skip the candidate defect sector. - 特許庁
１００ｎｍ程度の微細な欠陥を高倍率観察モードにおいて簡単な作業で観察できる欠陥観察方法を提供する。例文帳に追加
To provide a defect observation method which enables a user to make observation with simple work in a high-magnification observation mode as fine as about 100 nm. - 特許庁
本発明に従えば、次の実装工程で発生する予備配線の欠陥モードが予め検出される。例文帳に追加
The deficiency mode of the preliminary wiring generated at the following packaging process is detected previously. - 特許庁
テストモード以外では、欠陥ワード線はスペアブロックに含まれるスペアワード線で置換される。例文帳に追加
For other than a test mode, a defective word line is replaced by a spare word line contained in a spare block. - 特許庁
本発明の課題は、パターン検査に加えて異物等の外観検査が可能で且つ欠陥がどのような欠陥モードなのかを正確に検査することができる金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法を提供することにある。例文帳に追加
To allow visual inspection for a foreign matter and the like, in addition to pattern inspection, and to accurately inspect a defect mode as to a defect. - 特許庁
例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。例文帳に追加
For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect. - 特許庁
次低倍率観察モード及び高倍率観察モードを有する顕微鏡装置を用い、低倍率観察モードで前記欠陥を指示するマークを検出し、さらに高倍率観察モードにおいて、検出したマークを用いて観察すべき欠陥を視野内に位置させ、微細欠陥を高倍率観察モードで観察する工程とを具える。例文帳に追加
The method has stages of detecting the marks indicating the defects in the low-magnification observation mode by using a microscopic apparatus having the low-magnification observation mode and the high-magnification observation mode and further observing the microdefects with the high-magnification mode by locating the defects to be observed within a visual field by using the detected marks in the high-magnification observation mode. - 特許庁
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