特殊測定の英語

一台の測定器で一般区間と、標準分岐器と、特殊分岐器における全ての検測を可能にする。例文帳に追加

To enable one measuring gauge to perform all measurements in general zones, standard switches, and special switches. - 特許庁

特殊な測定装置を必要とせず、短時間で正確に光ディスクの傾きを測定できるようにする。例文帳に追加

To make correctly measurable the tilt of an optical disk in a short time without needing a special measuring device. - 特許庁

特殊な装置を使用することなく、試料中の糖化アルブミンを簡易に測定することができる糖化アルブミンの測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for assaying saccharogenic albumin, by which the saccharogenic albumin in a specimen can simply be assayed without using a special device. - 特許庁

特殊な装置を必要とせず短時間にアンテナ性能の評価を行うことができる測定方法及び測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring method and measuring apparatus which can evaluate antenna performance in a short time without requiring a peculiar apparatus. - 特許庁

線膨張率の小さい特殊な材料を用いず温度変化に対して測定誤差を小さくできる厚み測定機を提供する。例文帳に追加

To provide a thickness measuring apparatus capable of reducing measuring errors to temperature changes without having to use a special material having a small linear expansion coefficient. - 特許庁

スタンバイ電流測定条件判定部５は、論理シミュレーション結果に従って、特殊セルおよび特殊以外の回路部ともにスタンバイ電流が測定可能である場合、そのタイミングをスタンバイ電流測定時期として抽出する。例文帳に追加

In the case that it is possible to measure standby current in both the special cell and a circuit part except a special one, the standby current measuring condition determining part 5 extracts its timing as the timing for standby current measurement according to the results of the logic simulation. - 特許庁

アナログ回路等の特殊セル、あるいは外部から直接コントロール可能な特殊セルを含む回路においても、スタンバイ電流測定時期を容易に抽出する。例文帳に追加

To easily extract the timing for standby current measurement even in a circuit including a special cell such as an analog circuit or a special cell capable of direct control from the outside. - 特許庁

処理チャンバ内等の特殊な環境下にある半導体ウェハー等の被測定物の温度測定に関し、被測定物の表面温度等の温度を正確に測定し、その測定温度を連続的に監視できる温度測定方法及びその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a temperature measuring method and a measurement device, capable of precise measuring the surface temperature of an object to be measured and the like and of continuously supervising the measured temperature, concerning the thermometry of an object to be measured, such as a semiconductor wafer under the special environment in a processing chamber. - 特許庁