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粗試料の英語
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英訳・英語 crude sample
「粗試料」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 43件
試料ホルダーＰ５に保持されたダイヤモンド試料Ｐ１をドライエッチングする方法において、ダイヤモンド試料Ｐ１と試料ホルダーＰ５の間に第3の層Ｐ３を形成して、ダイヤモンド試料Ｐ１の側壁の表面粗さを制御する。例文帳に追加
In a method for dryetching a diamond specimen P1 held on a specimen holder P5, the surface roughness of a sidewall of the diamond specimen P1 is controlled by forming a third layer P3 between the diamond specimen P1 and the specimen holder P5. - 特許庁
ここで試料ホルダー（１０）の端部近傍の筒状内面に粗面（１０’）が与えられている。例文帳に追加
Here, the tubular, inner surface in the vicinity of an end part of the sample holder (10) is provided with a rough surface (10'). - 特許庁
表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。例文帳に追加
In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601. - 特許庁
バリア装置の内部から採取した採取試料の粗骨材質量比Ｇｉと、バリア装置の外部から採取した採取試料の粗骨材質量比Ｇｏとの比率Ｓｐ＝Ｇｉ／Ｇｏをもって、コンクリート試料の材料分離抵抗性の指標値とする。例文帳に追加
A ratio Sp=Gi/Go between a coarse aggregate mass ratio Gi of a sample sampled from an interior of the barrier device and a coarse aggregate mass ratio Go of a sample sampled from an exterior of the barrier device is used as an index value of the segregation resistance of the concrete sample. - 特許庁
測定試料の分析面の表面粗度及び、発光ステージ５がこの測定試料の分析面に接触する部分の表面粗度をいずれもRmax≦１０μｍの平滑面とする。例文帳に追加
The surface roughness of the analyzing surface of a measuring sample and that of a part, which comes into contact with the analysis surface of the measuring sample, of an emission stage 5 are respectively set to Rmax≤10 μm. - 特許庁
試料３表面からの散乱光を、順次、結像レンズ４、ＣＣＤ５を経て、電気信号に変換させ、ＣＣＤ画像を記録、解析し、試料の表面粗さまたは表面形状を表す数値化されたデータを得、試料表面のマイクロラフネスを評価する。例文帳に追加
The scattered light from the surface of the sample 3 is successively converted into an electrical signal through an image forming lens 4 and a CCD 5 and a CCD image is recorded and analyzed to obtain data where the surface roughness or surface shape of the sample is shown as a numerical value for evaluating the microroughness of the surface of the sample. - 特許庁
この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。例文帳に追加
This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly. - 特許庁
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「粗試料」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 43件
従来では測定試料として作製することが困難であった粗くて硬い粉体を試料についても、均一な成形体とすることができる蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及びその作製に用いる加圧成形治具を提供することである。例文帳に追加
To provide a manufacturing method of a sample for a fluorescent X-ray analysis capable of forming a uniform molded body of the sample of coarse and hard powder that is conventionally difficult to be produced as a measured sample, and to provide a pressurizing and molding fixture used for the production. - 特許庁
表面を粗研磨した後の金属組織観察用試料に、研磨機で仕上げ研磨を施すに際して、前記試料中に存在する介在物及び／又は析出物と基地金属との境界に研磨だれを生じさせることを特徴とする金属組織観察用試料の研磨方法である。例文帳に追加
In the method for polishing a sample for observing metal texture, when finishing polishing is to be made to the sample for observing metal texture after the rough polishing of the surface by a polishing machine, polishing sagging is generated at the boundary between an including and/or a deposit existing in the sample and a foundation metal. - 特許庁
試料を垂直方向から真の接触状態を検出すること、特に低反射率粗面を有する試料の真実接触部を光干渉法を使用して正確に検出することである。例文帳に追加
To detect true contact state of a sample from the vertical direction, especially exactly detect a true contact section of the sample having a rough surface with low reflectivity, by using an optical interference method. - 特許庁
ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。例文帳に追加
This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550. - 特許庁
ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。例文帳に追加
This microscope is equipped with a coarse adjustment mechanism 410 optionally movable on an XY-plane, and a coarse stage 400 having a sample stand 430, the coarse adjustment stage 400 being placed on a frame 550. - 特許庁
Ｘ線を多層膜試料に照射して、層構造や界面粗さを非破壊で評価することを目的とする。例文帳に追加
To nondestructively evaluate the layer structure and the interface roughness of a multilayer film as a sample, with the multilayer film being irradiated with X-rays. - 特許庁
探針７を試料８に対して粗動させる際は、電源回路４２から環状電極４１ａ、４１ｂへの電圧印加を停止する。例文帳に追加
When a probe 7 is coarsely moved to a sample 8, the application of voltage from a power source circuit 42 to annular electrodes 41a, 41b is stopped. - 特許庁
したがって、筒状可動部６がボイスコイルモータにより駆動可能となり、探針７を試料８に対して粗動させることができる。例文帳に追加
Therefore, the cylindrical movable part 6 becomes possible to drive by a voice coil motor and the probe 7 can be coarsely moved to the sample 8. - 特許庁
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crude sample
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