薄一波の英語

そして、この設定した規格値を指標として、単一波長のエリプソメータにて測定される多層薄膜の膜厚を評価する。例文帳に追加

With this set standard value as an index, the thickness of the multilayer thin film measured by the ellipsometer of the single wavelength is evaluated. - 特許庁

ドレイン電極とソース電極に同一波長の光を照射すると、これにより、有機薄膜トランジスタ上面に温度分布を発生させる。例文帳に追加

When the drain electrode and source electrode are irradiated with the lights of the identical wavelength, temperature distribution is generated thereby on the upper surface of the organic thin film transistor. - 特許庁

連続形成された多層薄膜であれ、単一波長の測定光を用いて簡便にその膜厚を評価することのできる多層薄膜の膜厚評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for evaluating the thickness of a multilayer thin film which can evaluate even the thickness of continuously formed multilayer thin film simply by using the measuring beam of a single wavelength. - 特許庁

カラーフィルタ方式のOLEDパネルでも、単一波長で、かつ高い信頼性で検査・修正が可能であり、歩留まりを向上させることのできる薄膜表示素子の検査修正方法及び検査修正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a thin film display device inspection/correction method and inspection/correction apparatus which can perform inspection and correction for even a color filter based OLED panel in a single wavelength with high reliability, thereby helping to improve a yield rate. - 特許庁

単一波長のエリプソメータにより測定される多層薄膜の膜厚評価に際し、予め、多層薄膜を構成する薄膜の膜厚をそれぞれ変化させたときの単層換算膜厚としての「測定値」と、同多層薄膜の電気的特性としての容量値を単層換算膜厚に更に換算した「容量換算値」との関係を把握する。例文帳に追加

When the thickness of the multilayer thin film measured by an ellipsometer of single wavelength is evaluated, the relationship is grasped in advance between a "measured value" as the thickness in terms of a single layer when the thickness of the thin film for constituting the multilayer thin film is changed and a "capacitance conversion value" which converts further a capacity value as electrical characteristics of this multilayered thin film into single layer conversion thickness. - 特許庁

補色薄膜層となる複数の蛍光粒子を塗布または蒸着または噴霧して形成したもの、或いは複数の蛍光粒子を含む透明なコロイドをカバーの内側に均等に付し、発光ユニットが発する第一波長光の一部が補色薄膜層を通過することで第二波長光を得る。例文帳に追加

A plurality of fluorescent particles which become a complementary color thin film layer are coated, vapor-deposited or sprayed, or transparent colloid containing a plurality of fluorescent particles is uniformly attached to inside a cover, thereby, a part of first wavelength light emitted from a light-emitting unit passes the complementary color thin film layer to obtain a second wavelength light. - 特許庁

透明基板１３上に少なくとも１層以上の薄膜１２を形成する際に、該薄膜形成表面から光を照射して反射率或いは透過率を測定し、該薄膜の膜厚を測定する方法であって、少なくとも一波長以上の光を用いた単色及び多色光測定において、測定光の波長、波長幅が関係式（１）を満足するようにして膜厚を測定するすることを特徴とする膜厚測定方法である。例文帳に追加

In this method for measuring thickness of a thin film, in the formation of at least one thin film 12 or more on a transparent substrate 13, light is made to irradiate a thin film formed surface and the reflection factor and the transmissivity thereof are measured to determine the thickness of the thin films. - 特許庁