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Au thin filmとは 意味・読み方・使い方
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「Au thin film」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 64件
The thin-film 4 has either or both functions of an antioxidation film or an antistatic film, and Au, Pt, C or Ru is used for the thin-film 4.例文帳に追加
薄膜4は、酸化防止膜、帯電防止膜のいずれか、又は両方の機能を有するもので、例えばAu、Pt、C、Ruが用いられる。 - 特許庁
The first semiconductor substrate 2 is so overlapped with the second semiconductor substrate 3 that the Au thin film layer 14 faces the Au thin film layer 34.例文帳に追加
第1半導体基板2と第2半導体基板3は、Au薄膜層14とAu薄膜層34とが対向するように重なり合っている。 - 特許庁
The Cr thin film prevents the intermetallic diffusion between Au and Ag.例文帳に追加
Crの薄膜がAuとAgの金属間拡散を防止する。 - 特許庁
The Cr thin film 231 and the Au thin film 232 function as an ohmic electrode 230.例文帳に追加
Cr薄膜231及びAu薄膜232はオーミック電極230として機能する。 - 特許庁
The metal thin film 22 is made of Pt or Au and has a film thickness of 10-100 nm.例文帳に追加
金属薄膜22は、PtまたはAuからなり、10〜100nmの膜厚を有する。 - 特許庁
An Au film 12, a Ti film 18 as a crushing film and an Au thin film 19 as an oxidation prevention film are formed at an active layer 11a side of a semiconductor laser bar 11, and an In film 14 and an Au thin film 20 as the oxidation prevention film are formed at a heatsink 13 side.例文帳に追加
半導体レーザバー11の活性層11a側にAu膜12、破砕膜としてのTi膜18、酸化防止膜としてのAu薄膜19を形成し、ヒートシンク13側にIn膜14および酸化防止膜としてのAu薄膜20を形成する。 - 特許庁
Further, a second light absorption layer 30 comprising an Au thin film 31 and an Au-Si eutectic section 32 is formed also on the back of the silicon substrate 11.例文帳に追加
また、シリコン基板11の裏面にも、同様にAu薄膜31とAu−Si共晶部32をからなる第2光吸収層30を形成する。 - 特許庁
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「Au thin film」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 64件
This method comprises an Au thin film formation step for forming an Au thin film of 20 nm or less in thickness on a bonding surface of one silicon member and a heating step for making a bonding surface of the other silicon member and the Au thin film come in contact with each other and heating at a prescribed temperature.例文帳に追加
一方のシリコン部材の接合面に膜厚20nm以下のAu薄膜を形成するAu薄膜形成工程と、他方のシリコン部材の接合面と該Au薄膜とを当接させて所定温度で加熱する加熱工程とを有することを特徴とする。 - 特許庁
The Au thin film electrodes 14A and 15A, and 14B and 15B are connected by a bonding wire.例文帳に追加
Au薄膜電極14A、15Aと14B、15Bをボンディングワイヤで接続する。 - 特許庁
Au thin film electrodes 15A and 15B are formed next to the reservoir openings of the chip surface.例文帳に追加
チップ表面のリザーバ開口部に隣接してAu薄膜電極15A、15Bを形成する。 - 特許庁
A Cr thin film is interposed in between Au of the base metal and Ag of a weight portion.例文帳に追加
下地金属のAuと重り部のAgの間にCrの薄膜を介在させる。 - 特許庁
The translucent thin-film positive electrode 110 comprises a first translucent thin-film positive cobalt (Co) electrode layer 111 having its film thickness of about 15 Å and joined to the contact layer 107, and a second translucent thin-film positive gold (Au) electrode layer 112 having its film thickness of about 60 Å and joined to Co.例文帳に追加
透光性薄膜正電極110は、コンタクト層107に接合する膜厚約15Åのコバルト(Co)より成る薄膜正電極第1層111と、Coに接合する膜厚約60Åの金(Au)より成る薄膜正電極第2層112とで構成されている。 - 特許庁
In the circuit board S1 wherein a laminated solder H constituted of an alternate multilayer film 4 of Au thin films and Su thin films is formed on a board 1, the uppermost layer 5 and the lowermost layer 3 of the laminated solder H are made of Au thin films, and the total film thickness of the Sn thin films is greater than that of the Au thin films.例文帳に追加
基板1上に、Au薄膜とSn薄膜の交互多層膜4から成る積層はんだHを形成した回路基板S1において、積層はんだ4の最上層5及び最下層3をAu薄膜にするとともに、Au薄膜の合計膜厚よりSn薄膜の合計膜厚が大であることを特徴とする。 - 特許庁
Successively, a Cr thin film 231 with a film thickness of 0.1 μm is formed on a lower face of the substrate 210, and further an Au thin film 232 with a film thickness of 0.1 μm is formed on a lower face of the Cr thin film 231.例文帳に追加
続いて、基板210の下面に膜厚0.1μmのCr薄膜231を形成し、更に、Cr薄膜231の下面に膜厚0.1μmのAu薄膜232を形成する。 - 特許庁
The wafer for LED is obtained by forming an Au plating surface layer of Au or an Au alloy on both surfaces vertically symmetrically around a thin film core material consisting of Mo, and then forming composite underlying layer consisting at least of a Cu plating layer between the core material and the Au plating surface layer, so as to complement and maintain the core material and the Au plating surface layer.例文帳に追加
Moからなる薄板状のコア材を中心として上下対称となるように、両面にAuまたはAu合金のAuメッキ表面層を形成し、コア材とAuメッキ表面層との間にそれを補完・維持する少なくともCuメッキ層からなる複合下地層を形成してなることを特徴とする。 - 特許庁
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