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CM testとは 意味・読み方・使い方
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「CM test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 59件
Here, a gas permeable rate of the electrolyte layer is 1×10^-6L/cm^2/sec or below, an open circuit voltage of the whole battery is 1.0V or more, and electric power density at a power generation test is 500mW/cm^2 or more.例文帳に追加
電解質層の気体透過率は1×10-6 L/cm^2/sec以下、全電池の開回路電圧1.0V以上、発電試験の電力密度は500 mW/cm^2以上であった。 - 特許庁
The magnesium alloy sheet has the excellent corrosion resistance, and corrosion weight loss after 96 hours in a salt spray test can be 0.25 mg/cm^2 or less.例文帳に追加
このマグネシウム合金板は、優れた耐食性を有し、塩水噴霧試験96時間後の腐食減量が0.25mg/cm^2以下を実現することができる。 - 特許庁
Each of two surface layers has a surface resistance value of 1.2 × 10^9-8 × 10^9 Ω/cm^2 or has abrasion quantity of 0.03-0.1 in an abrasion test based on JIS K6902.例文帳に追加
あるいは、該２つの表面層は、ＪＩＳ Ｋ ６９０２に基づく摩耗試験によって０．０３から０．１の摩耗量を有する。 - 特許庁
In the expressions, ρ_1 represents the volume resistivity [Ω cm] of the conductive layer measured before the test and ρ_2 represents the volume resistivity [Ω cm] of the conductive layer after the test.例文帳に追加
−２．００≦（ｌｏｇ｜ρ_２｜−ｌｏｇ｜ρ_１｜）≦２．００・・・（１） １．０×１０^８≦ρ_１≦２．０×１０^１３・・・（２）（式（１）および（２）中、ρ_１は、試験の前に測定された導電層の体積抵抗率［Ω・ｃｍ］であり、ρ_２は、試験の後に測定された導電層の体積抵抗率［Ω・ｃｍ］である。） - 特許庁
The spheroidal graphite cast iron has ≥650 MPa tensile strength and ≥10% elongation and also has ≥10 J/cm^2 impact value by the Charpy impact test (U-notch) at -40°C test temperature.例文帳に追加
引張強さが６５０ＭＰａ以上、伸びが１０％以上で、また、試験温度が−４０℃におけるＵノッチシャルピー衝撃試験による衝撃値が１０Ｊ／ｃｍ^２以上の球状黒鉛鋳鉄である。 - 特許庁
Preferably, the door panel or pillar has impact strength which is not destroyed in a 535 g steel ball drop test (temperature: -30°C, drop height: 60 cm).例文帳に追加
好ましくは、さらに（Ｃ）５３５ｇ鋼球落下試験（温度：−３０℃、落下高さ：６０ｃｍ）において破壊しない衝撃強さを有する。 - 特許庁
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「CM test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 59件
Further, the amount of bisphenol A measured in the case the metal-plated molding is subjected to a specified heat cycle test is ≤10 μg/cm^2.例文帳に追加
また、該金属メッキされた成形品が、特定のヒートサイクル試験を行った場合に測定されるビスフェノールＡの量が１０μｇ／ｃｍ^２以下である。 - 特許庁
Further, the amount of bisphenol A measured in the case that the metal-plated molding is subjected to a specified heat cycle test is ≤10 μg/cm^2.例文帳に追加
また、該金属メッキされた成形品が、特定のヒートサイクル試験を行った場合に測定されるビスフェノールＡの量が１０μｇ／ｃｍ^２以下である。 - 特許庁
When the composite is subjected to a peeling test at a heating temperature of 150°C, the peeling strength between the resin member and the vulcanized rubber member is decreased to not more than 8 kgf/cm.例文帳に追加
複合体を温度１５０℃の加熱下で剥離試験に供すると、樹脂部材と加硫ゴム部材との剥離強度が８ｋｇｆ／ｃｍ以下に低下する。 - 特許庁
(vi) When peeling test is conducted in compliance with JIS-C6471-1990 B method, peel strength between the layers which constitute the laminated body is 1 N/cm or higher.例文帳に追加
（vi）ＪＩＳ−Ｃ６４７１−１９９０ Ｂ法準拠の剥離試験において、積層体を構成する層間の剥離強度が１Ｎ／ｃｍ以上である。 - 特許庁
In the conductive electroless plated powder, preferably, electric resistance after an aging test for 500 hr is ≤0.1 Ω cm, and the rate of change in the resistance Ωv= |Ωa-Ωb |/ Ωa≤20 (wherein, Ωa is the electric resistance before the aging test, and Ωb is the electric resistance after the aging test).例文帳に追加
前記導電性無電解めっき粉体は、５００時間のエージング試験後の電気抵抗が０．１Ω・ｃｍ以下であり、且つその抵抗変化率Ωｖ＝｜Ωａ−Ωｂ｜／Ωａ≦２０（但し、Ωａはエージング試験前の電気抵抗、Ωｂはエージング試験後の電気抵抗を示す。）であることが好ましい。 - 特許庁
(2) On a spectrograph obtained by a normal test of the polyester single fiber having the thick and thin, peak values (Pmax1, Pmax2) present at each of 4 to 15 cm period and 50 to 150 cm period and the peak value ratio (Pmax1/Pmax2) is 1.5 to 4.0.例文帳に追加
（２）太細を有するポリエステル単繊維のノーマルテストで得られるスペクトログラフ上に、周期４〜１５ｃｍと周期５０〜１５０ｃｍにそれぞれピーク値（Ｐｍａｘ１、Ｐｍａｘ２）が存在し、且つそのピーク値比（Ｐｍａｘ１／Ｐｍａｘ２）が１．５〜４．０であること。 - 特許庁
To provide a method of analyzing metallic impurities in a level of 107 to 108 atoms/cm2 which is requested for regulating the cleanness of a semiconductor device, in a test of a semiconductor substrate with good accuracy simultaneously with the analysis of multi-elements.例文帳に追加
半導体デバイスの清浄度管理で要求される１０^7〜１０^8atoms/cm^2レベルの金属不純物を、多元素同時に精度良く分析する分析法を提供する。 - 特許庁
The memory test device 1 includes: a fail memory FM which stores fail information; and a line fail counter CM which counts the number of fails for each line by using the fail information.例文帳に追加
メモリ試験装置１は、フェイル情報を記憶するフェイルメモリＦＭと、フェイル情報を用いてライン毎のフェイル数を計数するラインフェイル計数装置ＣＭとを備える。 - 特許庁
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