Device under testとは 意味・読み方・使い方

DEVICE MEASURING APPARATUS AND SUPPRESSION METHOD FOR TEMPERATURE CHANGE OF DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法 - 特許庁

First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel.例文帳に追加

まず、自動試験装置（ＡＴＥ：Automated Test Equipment）ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス（ＤＵＴ）クロックのディジタル出力を、キャプチャする。 - 特許庁

The semiconductor test device 1 outputs a signal for a device 50 under test, and determines the quality of the device 50 under test on the basis of respective result signals obtained from the plurality of pins of the device 50 under test.例文帳に追加

半導体試験装置１は、被試験デバイス５０に対して信号を出力し、被試験デバイス５０の複数のピンから得られるそれぞれの結果信号に基づいて被試験デバイス５０の良否を判定するものである。 - 特許庁

To prevent generation of DUT (Device Under Test)destruction by output abnormality of a test signal generation part during a test.例文帳に追加

テスト中に、テスト信号発生部の出力異常によってＤＵＴ破壊を起こさないようにする。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置 - 特許庁

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS例文帳に追加

異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス - 特許庁