T beamとは 意味・読み方・使い方

A transmittance value of a variable (T_n-T_o) is obtained from an electron beam transmittance T_o of a monitoring sub-field 10a at an initial stage of reticle use and an electron beam transmittance T_n of a monitoring sub-field 10a at an accumulated dose amount of an electron beam entered into the reticle of (n).例文帳に追加

レチクル使用初期でのモニターサブフィールド１０ａの電子線透過率をＴ_０と、レチクルに照射された電子線の累積ドーズ量がｎのときのモニターサブフィールド１０ａの電子線透過率をＴ_ｎとから、透過率変動値（Ｔ_ｎ−Ｔ_０）を求める。 - 特許庁

An orientation processor 64, by executing on the observation signal x1(t) and the observation signal x2(t) dead angle control type beam formation that forms a dead angle of sound picking-up in the arriving direction θei (i=1, 2), generates an orientation component Zi[n, u].例文帳に追加

指向処理部６４は、到来方向θei（ｉ＝１,２）に収音の死角を形成する死角制御型ビーム形成を観測信号ｘ1(t)および観測信号ｘ2(t)に実行することで指向成分Ｚi[n,u]を生成する。 - 特許庁

This at least one first laser beam heats the patterned surface up to non-melting temperature T_nonmelt, which is within 400°C from melting temperature T_melt.例文帳に追加

この少なくとも一つの第１レーザービームは、溶融温度Ｔ_meltから４００℃以内にある非溶融温度Ｔ_nonmeltまでパターン付き表面を加熱する。 - 特許庁

The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T.例文帳に追加

電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。 - 特許庁

By varying the projected lengths of the double T-steel 4 and the T-steel 5, the amount by which the junction is deformed to move the column and the beam apart is controlled.例文帳に追加

また、ダブルＴ形鋼４とＴ形鋼５の突出長さを変えることで接合部の離間変形量をコントロールする。 - 特許庁

A beam formed of an H-steel is split T-welded to a pole 1 formed of an H-steel with connection metal fixtures of T-shape in cross section.例文帳に追加

Ｈ形鋼からなる柱１にＨ形鋼からなる梁２をＴ形断面の接合金物によってスプリットティ接合する。 - 特許庁

The duration T until a beam spot escapes from the burst area 103 is measured, the duration T is multiplied by 3/5 to set as seek time T0.例文帳に追加

ビームスポットがバースト領域１０３を抜け切るまでの所要時間Ｔを計測し、この所要時間Ｔを３／５してシーク時間Ｔ０とする。 - 特許庁

The electric signal 34 is integrated during a period T when the pulsed electron beam is generated, or during a period T' in consideration of a signal delay of the detector.例文帳に追加

パルス状電子線が発生している期間Ｔあるいは検出器の信号遅れも考慮した期間Ｔ’、電気信号34を積算する。 - 特許庁