X ray diffraction dataとは 意味・読み方・使い方

The crystalline polymorph (form A) of the bazedoxifene acetate characterized according to the powder X-ray diffraction data, IR data, and DSC data, and the composition containing the crystalline polymorph are provided.例文帳に追加

より良好なバイオアベイラビリティー又はより良好な安定性を示すバゼドキシフェンアセテートの結晶多形の提供。 - 特許庁

A series of processes ranging over crystallization in a capillary, cryoprotectant processing and diffraction data collection by X-ray diffraction measurement is carried out using the capillary having a contraction area for preventing a crystal of a size suitable for the X-ray diffraction measurement from flowing out.例文帳に追加

Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.例文帳に追加

Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide a membrane X-ray diffraction apparatus capable of obtaining the crystal data of the minute area in a polycrystal membrane sample.例文帳に追加

多結晶薄膜試料における微小領域の結晶情報を得ることの可能な薄膜Ｘ線回折装置を提供する。 - 特許庁

To easily acquire the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a short time.例文帳に追加

不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.例文帳に追加

汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加

極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁