apparatus for setting testとは 意味・読み方・使い方

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring a dimension, capable of accurately setting a position of a test piece and measuring the dimension of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND MECHANISM FOR CONTROLLING TEST PIECE-SETTING AND PASSAGE CORROSION-TESTING APPARATUS INCORPORATED THEREIN例文帳に追加

試験片装着制御方法と試験片装着制御機構及びその機構が組み込まれた流路耐食試験装置 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

The image forming apparatus is also equipped with a setting means for setting a gain of an analog-digital conversion means such as an AFE to an upper limit value or a lower limit value at the test mode.例文帳に追加

また、この上限値が設定された場合と下限値が設定された場合とで、デジタル画像信号が不変であるビットを検出する手段を設ける。 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

An optical communication control apparatus 22 of the master causes the slave to transmit test data at predetermined times for each setting of the delay line to determine the presence or absence of an error.例文帳に追加

マスタの光通信制御部２２は、ディレイラインの設定値毎にスレーブからテストデータを所定回数送信させ、エラーの有無を判定する。 - 特許庁

To provide a preparation apparatus of test patterns for avoiding a state where instability results to the extent of a setting delay in bidirectional switching delay.例文帳に追加

本発明の課題は、双方向切り替えディレイ時の設定ディレイ分不定となる状態を回避することができるテストパターン作成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁