cable test circuitとは 意味・読み方・使い方

CONNECTION CABLE FOR TEST PLUG, AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE OF TEST PLUG例文帳に追加

テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 - 特許庁

The switching circuit 13 switches a connecting destination of an input and output circuit 11 from a regular connector 12 to the test connector 14 when a test tool cable 31 of a test tool 30 is connected with the test connector 14, and makes the test tool 30 connect with the input and output circuit 11.例文帳に追加

切換回路１３は、試験コネクタ１４に試験ツール３０の試験ツールケーブル３１が接続されるとき、入出力回路の接続先を正規コネクタ１２から試験コネクタ１４に切り換えて、試験ツール３０を入出力回路１１と接続させる。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.例文帳に追加

コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a connection cable for a test plug, capable of easily and rapidly measuring a current, easily making inspection and having high reliability, and to provide a short-circuit structure for the test plug.例文帳に追加

容易かつ迅速に電流測定を行うことができると共に、点検が容易で信頼性の高いテストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a flexible flat cable capable of preventing troubles such as short-circuit by coating and protecting a test point where a linear conductor is exposed, and able to be tested by easily removing the coating of the test point when performing a continuity confirmation test.例文帳に追加

線状導体が露出しているテストポイントを被覆保護して短絡などのトラブルを防止でき、導通確認テストの際にはテストポイントの被覆を簡単に解除してテストを実施できるフレキシブルフラットケーブルを提供する。 - 特許庁

Then the drive cable 9 for the TV set 1 is inserted into the drive circuit 11 and a characteristic test of the yoke 7' attached to the TV set 1 is executed in a state stopping the operation of the circuit 15.例文帳に追加

その後、テレビセット１のドライブケーブル９をドライブ回路１１に差し込み、かつディガウス回路１５の作動を停止させた状態で、テレビセット１に取り付けられた偏向ヨーク７’の特性試験を行う。 - 特許庁

An x-y prober 16 is used, where it is provided with a first prober head 30 that is located at the upper portion of a printed wiring circuit board 4 and is connected a time domain reflection factor meter through a coaxial test cable and a second prober head 32.例文帳に追加

プリント配線回路基板の上方に位置し、同軸の試験ケーブルによって時間領域反射率計へ接続されている第１のプローバーヘッドと第２のプローバーヘッドを有するｘ−ｙプローバーを用いる。 - 特許庁