column testとは 意味・読み方・使い方

HIGH RESOLUTION GAS FIELD ION COLUMN REDUCING LOAD TO TEST PIECE例文帳に追加

試料への負荷を減少させる高分解能ガスフィールドイオンカラム - 特許庁

To continuously perform a test of a logic mixed memory in a spare column space and a normal column space.例文帳に追加

ロジック混載メモリの試験を、スペアコラム空間およびノーマルコラム空間で連続的に実行する。 - 特許庁

In a redundant column test mode, a redundant column selection line is selectively driven in response to column address signals CAs1 and CAs2.例文帳に追加

冗長カラムテストモードでは、カラムアドレス信号ＣＡｓ１，ＣＡｓ２に応答して冗長カラム選択線が選択的に駆動される。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

ＲＡＭにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

Each test element is defined by a single test column that includes a quantity of a test material, such as gel material or a bead matrix, including a cover strip used to access the contents of the test column.例文帳に追加

それぞれの検査要素は、検査カラムの内容物に接近するために用いられるカバー用細片を含み、ゲル材料もしくはビードマトリックスのような或る量の検査材料を含む単一検査カラムによって定められる。 - 特許庁

This SDRAM column decoder 20a, in multibit test, selects a plurality of column selection lines CSL or all column selection lines CSL out of 256 column selection lines conforming to column address signals CA0∼CA8 and test mode signals TM0∼TM8, and sets selected each column selection lines to be a test potential VTM=Vth.例文帳に追加

このＳＤＲＡＭの列デコーダ２０ａは、マルチビットテスト時には、列アドレス信号ＣＡ０〜ＣＡ８およびテストモード信号ＴＭ０〜ＴＭ８に従って２５６の列選択線ＣＳＬのうちのいずれか複数の列選択線ＣＳＬまたはすべての列選択線ＣＳＬを選択し、選択した各列選択線ＣＳＬをテスト電位ＶＴＭ＝Ｖｔｈにする。 - 特許庁

A burst address for test outputted from the burst address generating circuit 7 for test is supplied to a column decoder 10.例文帳に追加

試験用バーストアドレス発生回路７から出力された試験用バーストアドレスは、カラムデコーダ１０へ供給される。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁