「column test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

the test tube held a column of white powder 例文帳に追加

試験管には白い粉が一列に入っている - 日本語WordNet

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

HIGH RESOLUTION GAS FIELD ION COLUMN REDUCING LOAD TO TEST PIECE例文帳に追加

試料への負荷を減少させる高分解能ガスフィールドイオンカラム - 特許庁

To continuously perform a test of a logic mixed memory in a spare column space and a normal column space.例文帳に追加

ロジック混載メモリの試験を、スペアコラム空間およびノーマルコラム空間で連続的に実行する。 - 特許庁

In a redundant column test mode, a redundant column selection line is selectively driven in response to column address signals CAs1 and CAs2.例文帳に追加

冗長カラムテストモードでは、カラムアドレス信号ＣＡｓ１，ＣＡｓ２に応答して冗長カラム選択線が選択的に駆動される。 - 特許庁

SELF-TEST ARCHITECTURE TO IMPLEMENT DATA COLUMN REDUNDANCY IN RAM例文帳に追加

ＲＡＭにおいてデータ列冗長を実施するための自己試験アーキテクチャ - 特許庁

Each test element is defined by a single test column that includes a quantity of a test material, such as gel material or a bead matrix, including a cover strip used to access the contents of the test column.例文帳に追加

それぞれの検査要素は、検査カラムの内容物に接近するために用いられるカバー用細片を含み、ゲル材料もしくはビードマトリックスのような或る量の検査材料を含む単一検査カラムによって定められる。 - 特許庁

This SDRAM column decoder 20a, in multibit test, selects a plurality of column selection lines CSL or all column selection lines CSL out of 256 column selection lines conforming to column address signals CA0∼CA8 and test mode signals TM0∼TM8, and sets selected each column selection lines to be a test potential VTM=Vth.例文帳に追加

このＳＤＲＡＭの列デコーダ２０ａは、マルチビットテスト時には、列アドレス信号ＣＡ０〜ＣＡ８およびテストモード信号ＴＭ０〜ＴＭ８に従って２５６の列選択線ＣＳＬのうちのいずれか複数の列選択線ＣＳＬまたはすべての列選択線ＣＳＬを選択し、選択した各列選択線ＣＳＬをテスト電位ＶＴＭ＝Ｖｔｈにする。 - 特許庁

A burst address for test outputted from the burst address generating circuit 7 for test is supplied to a column decoder 10.例文帳に追加

試験用バーストアドレス発生回路７から出力された試験用バーストアドレスは、カラムデコーダ１０へ供給される。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁

(xvi) Vibration test equipment or components therefor (excluding those listed in the middle column of row 4) 例文帳に追加

（十六）　振動試験装置又はその部分品（四の項の中欄に掲げるものを除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a plurality of individual single-column test elements for use in a clinical testing device.例文帳に追加

臨床検査装置における使用のために複数の個別単一カラム検査要素が提供される。 - 特許庁

That is, the burst address generating circuit 7 for test supplies column addresses increased continuously one by one to the column decoder 10 independently of a column address supplied from the address buffer 3.例文帳に追加

すなわち、試験用バーストアドレス発生回路７は、アドレスバッファ３から供給されるカラムアドレスに拘わらず、連続して１ずつ増加したカラムアドレスを、カラムデコーダ１０へ供給する。 - 特許庁

A column 1 is installed in the column axial direction which is the vertical direction, and a test fluid is introduced from a pipe joint 11 of an end member 2 on the lower side.例文帳に追加

カラム１は、カラム軸心方向を上下方向として設置され、下側のエンド部材２の管継手１１から試験流体が導入される。 - 特許庁

To effectively generate addresses for continuous access in row and column directions in a memory test.例文帳に追加

メモリ・テストにおいて、ロウ及びカラム方向における連続アクセスのためのアドレスを効果的に生成する。 - 特許庁

A test mode recognition circuit section 13 detects a continuity test mode based on a column address strobe signal/CAS, a chip-select signal/CS, and a clock enable-signal CKE, and outputs a test mode detecting signal ϕ1.例文帳に追加

テストモード認識回路部１３はコラムアドレスストローブ信号/CAS，チップセレクト信号/CS及びクロックイネーブル信号CKEに基づいて導通試験のモードを検出しテストモード検出信号φ1を出力する。 - 特許庁

From the outside of the sensor, a test voltage signal level and a test mode are controlled and from an output signal of the sensor during the test mode, characteristic variation information of the component such as the column amplifier or the output buffer amplifier is detected.例文帳に追加

センサ外からテスト用の電圧信号レベルとテストモードを制御し、テストモード時のセンサの出力信号から、列アンプ、出力バッファアンプなどの構成要素の特性ばらつき情報を検出する。 - 特許庁

(viii) Laser oscillators or components or accessories or test equipment therefor (excluding those listed in the middle column of row 2) 例文帳に追加

（八）　レーザー発振器又はその部分品、附属品若しくは試験装置（二の項の中欄に掲げるものを除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a steering column evaluation testing device and an evaluation test method capable of evaluating impact absorbing performance of a steering column simple body on which an air bag is mounted.例文帳に追加

エアバッグを装着したステアリングコラム単体での衝撃吸収性能を評価することができるステアリングコラム評価試験装置、および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

An inert gas-filled container is connected to a test liquid supply tank in the soil-filled column testing apparatus comprising a soil-filled column, where soil/sand in which contaminant-decomposing bacteria are mixed; a test liquid supply tank for storing a test liquid supplied to the column; and an effluent tank for storing effluent flowing out of the column.例文帳に追加

汚染物質分解菌の混入した土壌・砂を充填した土壌充填カラムと、カラムに供給する試験液を貯蔵する試験液供給タンクと、カラムから流出する流出液を貯蔵する流出液タンクを有する土壌充填カラム試験装置において、試験液供給タンクに不活性ガス充填容器を接続したことを特徴とする土壌充填カラム試験装置などによって提供。 - 特許庁

The reducing ratio of the beer dregs molded charcoal in a column test is not more than 3.0%.例文帳に追加

（２）前記ビール粕成形炭のカラム試験における減少率が３．０％以下である請求項１記載の水質浄化材。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

A redundant row test activation signal TEST1 and a redundant column test activation signal TEST2 are activated in response to control signals /RAS, /CAS, /WE and address key signals A1-A5.例文帳に追加

制御信号／ＲＡＳ、／ＣＡＳ、／ＷＥ、アドレスキー信号Ａ１〜Ａ５に応答して冗長ロウテスト活性化信号ＴＥＳＴ１、冗長カラムテスト活性化信号／ＴＥＳＴ２が活性化される。 - 特許庁

A check sheet writing part 653 write a result in a test result column based on the comparison result in the comparison part 652.例文帳に追加

チェックシートファイル書き込み部６５３は、比較部６５２の比較の結果に基づいて、試験の合否欄に合否結果を書き込む。 - 特許庁

A single calibration input element allows an input by a user to input the calibration number corresponding the test sensor by one column at once.例文帳に追加

単一較正入力要素は、ユーザが、試験センサに対応する較正番号を一度に１桁ずつ入力することを許す。 - 特許庁

Also, the CPU 11 creates concrete quality test result table image data having a display column for displaying the extracted placement information, and an input column for inputting the quality test result by an inputting device 14 as a result table image data creation means.例文帳に追加

また、ＣＰＵ１１は、結果表画像データ作成手段として、抽出された打設情報を表示する表示欄と、品質試験結果を入力装置１４により入力可能な入力欄と、を備えるコンクリート品質試験結果表画像データを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which voltage stress can be applied between adjacent column selecting lines in a burn-in test period.例文帳に追加

バーインテスト期間中において、隣接する列選択線間に電圧ストレスを印加することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The “labor market test” that will be introduced in Column 17 is an example of the efforts made by these countries in an attempt to acquire necessary human resources (see Table 2-4-31).例文帳に追加

例えば、コラム17で述べるような、「労働市場テスト」も行った上で、必要な人材を導入しようとしている（第2-4-31表）。 - 経済産業省

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To efficiently test a boundary cell in which at least either of row or column address is a most or least significant address.例文帳に追加

ロウアドレス又はカラムアドレスの少なくとも一方が最下位アドレス又は最上位アドレスである境界セルに対し、効率よくテストを行うこと。 - 特許庁

With this arrangement, when a test for detecting a bad address is performed in a wafer state, a defect of a column selection line can be detected.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態で行われる不良アドレスの検出試験を行う際に、カラム選択線の不良を検出することが可能となる。 - 特許庁

To provide a defective bit relieving device for a semiconductor memory and a method which generates a column relieving code when a Y line is defective in a wafer test and column-relieves a device having possibility of a defective Y line.例文帳に追加

ウェハテストにおいてＹライン不良にしてカラム救済コードを発生し、Ｙライン不良になる可能性のあるデバイスをカラム救済する半導体記憶装置の不良ビット救済装置および方法を提供する。 - 特許庁

The sample, which is eluted from the column up to the time t2 elapsed from time t1, when the total concentration shows a peak, by the time T1 has elapsed, the sample, eluted from the column on and after the time t2, are dispensed to separate test tubes.例文帳に追加

トータル濃度がピークを示す時刻ｔ１から時間Ｔ１が経過した時刻ｔ２までにカラムから溶出された試料と、時刻ｔ２以降にカラムから溶出された試料を別の試験管に分取する。 - 特許庁

To provide a method and a device requiring no external source of sodium or other electrolyte, capable of producing a self-suppression type eluent, requiring no second suppressor column, and suited to analyzing both cation and anion in a single test sample.例文帳に追加

外部のナトリウムまたは他の電解質の源を必要としない、その場で溶離剤を生成する装置および方法を提供する。 - 特許庁

The test paper 11 is combined with a sheet-like answer covering member 71 capable of temporarily covering the answer phrase 17 of the column 14.例文帳に追加

模擬テスト用紙１１には、解答事例欄１４の解答語句１７を一時的に遮蔽し得るシート状解答遮蔽部材７１を組み合わせる。 - 特許庁

The memory cell array section MCA and a column selector CS receive the address signal a''' and a second test circuit section TCi2 receives the scan-out signal SiOUT1.例文帳に追加

アドレス信号ａ’’’は，メモリセルアレイ部ＭＣＡおよびカラムセレクタＣＳに入力され，スキャンアウト信号ＳｉＯＵＴ１は，第２テスト回路部ＴＣｉ２に入力される。 - 特許庁

Many block selecting circuits CBS0-CBSn are selected by test block signals ST0-STn from a test block specifying means 1 activated at the time of test access operation comparing with the block selecting circuits CBS0-CBSn selected by the column block addresses CAq-CAq+k, thus more column blocks CB0-CBn can be activated.例文帳に追加

試験アクセス動作時に活性化される試験ブロック指定手段１からの試験ブロック信号ＳＴ０乃至ＳＴｎによりコラムブロックアドレスＣＡｑ乃至ＣＡｑ＋ｋで選択されるブロック選択回路ＣＢＳ０乃至ＣＢＳｎに比して多数のブロック選択回路ＣＢＳ０乃至ＣＢＳｎが選択され、より多数のコラムブロックＣＢ０乃至ＣＢｎを活性化することができる。 - 特許庁

To provide an oxygen index measuring instrument in which an upper part of a glass column need not to be removed at a room temperature, and fire of a test piece can be extinguished at a high temperature when the test piece is burnt for a prescribed period of time or when a prescribed length of the test piece is burnt.例文帳に追加

室温における酸素指数測定装置において、ガラスカラムの上部を外すことなく、また、高温における酸素指数測定装置において、試験片が規定の時間又は長さが燃焼した場合に、試験片の燃焼を消火することを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

In the test circuit 12, data read out from the even number column and the test control signal TC are processed by exclusive OR by an EXOR circuit 13 of the first stage every one row, and data read out from the odd number column and an output from the EXOR circuit 13 are processed by exclusive OR by an EXOR circuit 14.例文帳に追加

テスト回路１２は、１行ごとに、第１段目のＥＸＯＲ回路１３で、偶数列から読出したデータとテスト制御信号ＴＣとが排他的論理和処理され、第２段目のＥＸＯＲ回路１４で、奇数列から読出したデータとＥＸＯＲ回路１３からの出力とが排他的論理和処理される。 - 特許庁

A test signal RRT for testing the redundant memory cell in the direction of a line, a control signal XF generated by the test signal RRT, a test signal CRT for testing the redundant memory cell in the direction of a column, and a control signal YFD generated by the test signal CRT are provided to an output buffer 100A.例文帳に追加

行方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＲＲＴとこの試験信号ＲＲＴによって生成される制御信号ＸＦ、及び列方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＣＲＴとこの試験信号ＣＲＴによって生成される制御信号ＹＦＤが、出力バッファ１００Ａに与えられる。 - 特許庁

At the time of memory test, and signal less quantity bits caused by the coupling noise at the time of amplifying adjacent bit lines are efficiently worsened by the starting sense amplifiers of an odd number column and sense amplifiers of an even number column with time delay.例文帳に追加

そして、メモリテスト時において、奇数列のセンスアンプと偶数列のセンスアンプとをある時間遅延させて起動させることにより、隣接するビット線の増幅時のカップリングノイズによる信号少量ビットを効率よく不良化させる。 - 特許庁

Test print data is generated in such a pattern as a character group C, i.e. an aggregate of a plurality of characters, is arranged while being distributed in the row and column directions on a receipt R and superposed on a watermark WM at the time of test print.例文帳に追加

複数のキャラクタの集合体であるキャラクタ群Ｃを、レシートＲ上の行および列方向に分散配置する配置パターンでテスト印刷データを生成し、ウォーターマークＷＭと重ねてテスト印刷を行うものである。 - 特許庁

All bit lines BL in one word line WL are opened by logical combination of a column activation signal CAS and a test mode signal TM, a test data pattern is written simultaneously in all cells in the word line ML.例文帳に追加

本発明では、１つのワード線ＷＬにおける全ビット線ＢＬを、カラム活性化信号ＣＡＳと試験モード信号ＴＭとの論理的な組み合わせにより開いて、該ワード線ＷＬにおける全セルにテストデータパターンを同時に書き込む。 - 特許庁

Rows or columns are divided into regions, error caused in each region are counted for each row or column, the number of errors in each region are compared with a threshold value for each row or column, and the comparison result is transmitted to a test device with an error address as additional information for each row or column.例文帳に追加

発明によると、行もしくは列を、領域に分割し、各領域に生じるエラーを、行もしくは列ごとで数え、各領域のエラー数を、行もしくは列ごとで閾値と比較して比較結果を付加情報として行もしくは列ごとでエラーアドレスと共に試験装置に向けて伝送することが考慮される。 - 特許庁

In a first test operation mode, a row control circuit 121 and a column control circuit 131 in synchronization with an external clock after fetching the column address output a WORD control signal and a YSW control signal and perform memory cell selection operation.例文帳に追加

第１のテスト動作モードにおいては、ロウコントロール回路１２１及びカラムコントロール回路１３１は、カラムアドレスを取り込んだ後の外部クロックに同期して、ＷＯＲＤ制御信号、ＹＳＷ制御信号を出力し、メモリセル選択動作を行う。 - 特許庁