computer-based automatic systemとは 意味・読み方・使い方

AUTOMATIC IMPARTING METHOD OF BACKUP RESOURCE OF LOGICAL SECTION AND LOGICAL SECTION BASED COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

論理区画の予備リソース自動付与方法及び論理区画式計算機システム - 特許庁

To provide a computer system which can perform automatic configuration based on a physical position.例文帳に追加

物理的な位置に基づいて自動構成をすることができるコンピュータ・システムを提供する。 - 特許庁

A method and system is provided for providing an automatic service over the communication network to a user based on stored instructions by the user on a user computer.例文帳に追加

ユーザによってユーザ・コンピュータに記憶される命令に基づき通信ネットワークを介してユーザに自動サービスを提供するための方法及びシステム。 - 特許庁

To provide an automatic grading processing system based on absolute evaluation for medium and small size enterprises by a computer based on financial statements without inflated figures managed by a tax practitioner and an accountant.例文帳に追加

税理士・会計士が管理する粉飾のない財務諸表に基づくコンピュータによる中小企業向けの絶対評価に基づく自動格付け処理システムを提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC INSTALL AND PATCH MANAGEMENT DEDICATED SYSTEM FOR SOFTWARE BASED ON PREVIOUS CAUTION, ITS CREATION METHOD, AND RECORDING MEDIUM WITH COMPUTER PROGRAM FOR THE METHOD STORED THEREON例文帳に追加

予警報に基づいたソフトウェアの自動インストール及びパッチ管理専門システム及びその作製方法並びにその方法に対するコンピュータプログラムを格納した記録媒体 - 特許庁

In an automatic mode, a position of the knee-point is decided with a host computer based on an analysis of one or an average image frame of a power doppler data or a system parameter which is set by the operator.例文帳に追加

自動モードでは、ホスト・コンピュータによってニー・ポイントの位置がパワー・ドップラー・データの１つのまたは平均イメージ・フレームの分析に基づき、あるいはオペレータが設定するシステム・パラメータに基づいて求められる。 - 特許庁

In implementation of the polishing tool pressure distribution measuring method, a system is employed which comprises a photoelasticity generating optical system for measuring the pressure distribution, based on the polishing device, a heterodyne polarimeter for measuring the photoelasticity with high accuracy, a photoelastic phase modulator for enabling automatic measurement, a control system for controlling a measuring system location, an image signal processing computer for processing fetched signal data, etc.例文帳に追加

構成は研磨装置をベースに圧力分布を測定する、光弾性発生光学系、光弾性を高精度に計る為のヘテロダイン偏光計と自動測定を可能にする光弾性位相変調器、測定系位置を制御する制御系、取り込んだ信号データを信号処理する画像信号処理コンピュータ等で構成される。 - 特許庁