dielectric testとは 意味・読み方・使い方

To provide a dielectric ceramic improving reliability in a high temperature load test and prolonging the service life.例文帳に追加

高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる誘電体磁器を提供する。 - 特許庁

An electrochemical test sensor 34 includes a base 36, a dielectric layer 48, a reagent layer 52 and a lid 54.例文帳に追加

電気化学試験センサ３４は、基部３６と、誘電体層４８と、試薬層５２と、蓋と５４を備えている。 - 特許庁

To provide a dielectric ceramic capable of achieving a laminated ceramic capacitor with high reliability, in particular, favorable lifetime characteristics in a load test even when a dielectric ceramic layer is thinned.例文帳に追加

誘電体セラミック層が薄層化されても、信頼性、特に負荷試験における寿命特性に優れた、積層セラミックコンデンサを実現できる、誘電体セラミックを提供する。 - 特許庁

Alternatively, the test device is moved on the plane facing the dielectric lens, thereby being observed in a far field from which of the test device the electromagnetic wave is radiated.例文帳に追加

又、供試装置を誘電体レンズと対抗した平面上で動かすことにより、供試装置のどこから電磁波が放射しているのかを、遠方界で観測可能となる。 - 特許庁

To provide a dielectric ceramic composition having no defective external appearance in a pressure cooker test and excellent electric characteristics.例文帳に追加

プレッシャークッカー試験での外観不良がなく、かつ電気的特性が優れた誘電体磁器組成物を提供すること。 - 特許庁

A probe head for testing the properties of a semiconductor device (10) under test includes a dielectric film (24) supporting at least one semiconductor device (10) under test with a support frame (26) tautly supporting the dielectric film (24).例文帳に追加

テストを受ける半導体装置（１０）の特性をテストするためのプローブヘッドがテストを受ける少なくとも一つの半導体装置（１０）を支持する誘電体フィルム（２４）を含み、この誘電体フィルム（２４）を支持フレーム（２６）がぴんと張って支持する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reduction resistant dielectric ceramic composition exhibiting an improved result in an accelerated life test concerning insulation resistance with excellent low frequency dielectric properties, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

優れた低周波誘電特性を有しつつ、絶縁抵抗の加速寿命がより高められた耐還元性の誘電体磁器組成物を製造する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a dielectric ceramic in which a ceramic particle constituting a dielectric layer is made small-sized and even the thickness of grain boundary layer is controlled, a method for manufacturing the same, a multilayer electronic component having improved reliability in a high temperature load test and a humidity load test obtained by using the dielectric ceramic, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

誘電体層を構成するセラミックス粒子の小径化とともに、粒界層の厚みまでも制御した誘電体セラミックスとその製法、並びにそれを用いて、高温負荷試験および湿中負荷試験での信頼性を高めることのできる積層型電子部品およびその製法を提供する - 特許庁