絶縁破壊試験の英語

経時的絶縁膜破壊試験等のウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保する手段の提供。例文帳に追加

To provide a means for ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test, such as an aging breaking test of insulation films. - 特許庁

試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。例文帳に追加

To provide a testing method and a testing device capable of detecting deterioration in insulation performance by pin holes and stably measuring the value of impedance without damaging an insulating layer accompanied by the test. - 特許庁

プラスチック絶縁ケーブル本来の直流性能を把握することのできる破壊強度の高い直流試験端末の提供。例文帳に追加

To provide a DC test terminal which has a high breakdown strength and by which essential DC performances of a plastic insulated cable can be secured. - 特許庁

ショートタイム法による絶縁破壊結果から一定数を減じた電圧（例：−10%,−20%,−30%）を連続的あるいは繰り返し印加して破壊時間または回数を求めることにより、比較的容易に且つ定量的に得られる絶縁破壊進行性評価試験方法。例文帳に追加

By applying a voltage (for example, -10%, -20%, -30%) acquired by subtracting a prescribed number from results of dielectric breakdown by a short time method and determining breakdown time or the number of times, it is possible to relatively easily and quantitatively evaluate the progress of dielectric breakdown in the method. - 特許庁

回転機劣化を非破壊絶縁劣化試験結果によって診断する場合には、劣化の進行度を適切に判断することは困難となっている。例文帳に追加

To solve the problem wherein proper determination of the progression degree of deterioration is difficult, when diagnosing the deterioration of a rotary machine by a nondestructive dielectric deterioration test result. - 特許庁

プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の長時間電圧印加あるいは繰り返し電圧印加による絶縁破壊試験方法例文帳に追加

DIELECTRIC BREAKDOWN TEST METHOD OF SUBSTRATE MATERIAL FOR PRINTED WIRING BOARD AND PRINTED WIRING BOARD BY VOLTAGE IMPRESSION FOR LONG TIME OR REPETITIVE VOLTAGE APPLICATION - 特許庁

絶縁破壊寿命分布の温度加速試験時の変化を、その累積不良率における分布関数の傾きの温度変化として取り入れる。例文帳に追加

The change at the time of the temperature acceleration test of a dielectric breakdown life distribution is adopted as the temperature change of the gradient of a distribution function in the cumulative percent defective. - 特許庁

正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。例文帳に追加

To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line. - 特許庁