「絶縁破壊試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

経時的絶縁膜破壊試験等のウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保する手段の提供。例文帳に追加

To provide a means for ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test, such as an aging breaking test of insulation films. - 特許庁

ゲート・エミッタ間にクランプ電圧より大きな電圧を印加することで、ＩＧＢＴ１１のゲート絶縁膜の絶縁破壊電圧を試験する。例文帳に追加

The IGBT 11 is removed in case the breakdown voltage of its gate insulating film falls outside the predetermined insulation breakdown voltage distribution. - 特許庁

内層回路間の絶縁性評価試験において、絶縁劣化現象を、試験片を構造破壊せず、かつ経時的に、明瞭に観察できる試験片及びその作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece and its manufacturing method which enables insulation deterioration to be clearly observed in time, without destroying the test piece structure in an insulation evaluating test between inner layers. - 特許庁

試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。例文帳に追加

To provide a testing method and a testing device capable of detecting deterioration in insulation performance by pin holes and stably measuring the value of impedance without damaging an insulating layer accompanied by the test. - 特許庁

プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の長時間電圧印加あるいは繰り返し電圧印加による絶縁破壊試験方法例文帳に追加

DIELECTRIC BREAKDOWN TEST METHOD OF SUBSTRATE MATERIAL FOR PRINTED WIRING BOARD AND PRINTED WIRING BOARD BY VOLTAGE IMPRESSION FOR LONG TIME OR REPETITIVE VOLTAGE APPLICATION - 特許庁

回転機劣化を非破壊絶縁劣化試験結果によって診断する場合には、劣化の進行度を適切に判断することは困難となっている。例文帳に追加

To solve the problem wherein proper determination of the progression degree of deterioration is difficult, when diagnosing the deterioration of a rotary machine by a nondestructive dielectric deterioration test result. - 特許庁

プラスチック絶縁ケーブル本来の直流性能を把握することのできる破壊強度の高い直流試験端末の提供。例文帳に追加

To provide a DC test terminal which has a high breakdown strength and by which essential DC performances of a plastic insulated cable can be secured. - 特許庁

絶縁破壊寿命分布の温度加速試験時の変化を、その累積不良率における分布関数の傾きの温度変化として取り入れる。例文帳に追加

The change at the time of the temperature acceleration test of a dielectric breakdown life distribution is adopted as the temperature change of the gradient of a distribution function in the cumulative percent defective. - 特許庁

ショートタイム法による絶縁破壊結果から一定数を減じた電圧（例：−10%,−20%,−30%）を連続的あるいは繰り返し印加して破壊時間または回数を求めることにより、比較的容易に且つ定量的に得られる絶縁破壊進行性評価試験方法。例文帳に追加

By applying a voltage (for example, -10%, -20%, -30%) acquired by subtracting a prescribed number from results of dielectric breakdown by a short time method and determining breakdown time or the number of times, it is possible to relatively easily and quantitatively evaluate the progress of dielectric breakdown in the method. - 特許庁

静電気放電の試験実施時に、静電気放電の経路を把握するのに十分な情報を得ることができ、絶縁破壊が発生した場合にはその位置を容易に同定可能である高品質な静電気試験器を提供する。例文帳に追加

To provide a high quality electrostatic tester for acquiring information sufficient to grasp the path of electrostatic discharge when electrostatic discharge test is performed and easily identifying the location of dielectric breakdown at its occurrence. - 特許庁

平均電界が５ｋＶ／ｍｍ〜２０ｋＶ／ｍｍの超低周波電圧を水トリー劣化したケーブルに１０分〜１００分課電して、絶縁破壊の有無を調べ、絶縁破壊したケーブルについて有害水トリーが発生したものと判定し、絶縁破壊しなかったケーブルについて、有害水トリーが存在せず試験によりＡＣ残存性能が低下していないと判定する。例文帳に追加

Very low frequency voltage with average voltage field of 5 kV/mm to 20 kV/mm is charged to a cable degraded by water tree for 10 to 100 minutes to test breakdown and generation of harmful water tree is judged for the breakdown cable and no harmful water tree and no lowering of AC remaining performance are judged by the test for no breakdown cables. - 特許庁

正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。例文帳に追加

To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line. - 特許庁

高電圧を印加しても絶縁破壊が起き難く、高耐圧の半導体装置についても信頼性の高い試験が可能な半導体ウエハ測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor wafer measuring apparatus for hardly causing insulation breakdown to even at high voltage application and performing a highly reliable test even concerning a high withstand voltage semiconductor device. - 特許庁

３００ｋＶ〜５００ｋＶクラスのソリッドケーブルにおける直流長期課通電試験のヒートサイクルの冷却期間中に発生する低電圧での絶縁破壊を防止するようにする。例文帳に追加

To prevent a dielectric breakdown occurring at a low voltage during a cooling period of a heat cycle in a long-term direct-current loading test of a 300 kV-500 kV-class solid cable. - 特許庁

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process. - 特許庁

これにより被試験デバイスＤＵＴの絶縁破壊で流れる放電電流を電圧に変換することなく、フォトダイオードＰＤ１等に流して赤外光を発光させる。例文帳に追加

The discharge current flowing due to the dielectric breakdown of a tested device DUT is made to flow in the photodiode PD1 or the like without being converted into voltage, thereby emitting infrared light. - 特許庁

高温下においても封止樹脂の酸化劣化を抑制し、封止方法および封止樹脂は従来通りのものを使用することができ、ヒートサイクル試験や高温動作などの信頼性試験でも、絶縁破壊電圧が低下しない、信頼性の高い半導体装置を得る。例文帳に追加

To obtain a highly reliable semiconductor device that suppresses oxidation deterioration of a sealing resin even at a high temperature, can use the same sealing method and sealing resin as before, and has no decrease in breakdown voltage even during a heat cycle test and a reliability test of high-temperature operation etc. - 特許庁

放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法において、高電圧発生器３０から電極を介して試験電圧３２を連続ケーブルに印加し、検出器４４により絶縁破壊を認識して表示し、欠陥カウンタ４８により合算する。例文帳に追加

In the defect simulation method using the discharge tester, a test voltage 32 is applied from a high voltage generator 30 to a continuous cable via an electrode, a detector 44 recognizes and displays dielectric breakdown, and a defect counter 48 sums them. - 特許庁

樹脂成分として少なくともポリフェニレンエーテル系樹脂を含む樹脂組成物からなる樹脂成形品であって、ＩＥＣ６０２４３に準拠して、下記試験条件で測定された絶縁破壊強度が８５ｋＶ／ｍｍ以上であることを特徴とする高絶縁性ポリフェニレンエーテル系樹脂成形品。例文帳に追加

This highly insulating polyphenylene ether resin molding is a resin molding comprising a resin composition containing at least a polyphenylene ether resin as the resin component, and the dielectric breakdown strength of which is ≥85 kV/mm measured by the following test conditions according to IEC 60243. - 特許庁

電解槽中に電解溶液を満たし、薄鋼板試験片に水素チャージを行いながら、応力を負荷する水素脆化評価試験装置の試験片と治具を連結する支持ピンとして、異種金属接触腐食の発生及び高い応力の負荷による破壊を防止するため、絶縁性であり、高強度及び高靭性を有するサイアロン又は部分安定化ジルコニアを用いる。例文帳に追加

SIALON having insulating properties, high strength and high tenacity or partial stabilized zirconia is used as a support pin, which connects the testpiece and jig of hydrogen embrittlement evaluation and testing device for filling an electrolytic cell with an electrolytic solution and loading the thin steel sheet testpiece with stress while charging hydrogen in the testpiece, in order to prevent the occurrence of different metal catalytic corrosion and the breakdown of the testpiece by the loading with stress. - 特許庁

内側クラフト紙層６の厚さを、油浸絶縁層３を構成する全紙層の厚さの１／３〜２／３としたことにより、ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなくケーブル１の製造所要時間を短縮することができる。例文帳に追加

By making a thickness of the inside craft paper layer 6 at 1/3 to 2/3 of that of the total paper layer constituting the oil-immersed insulation layer 3, the manufacturing time needed of the cable 1 can be shortened without deteriorating direct-current breakdown voltage during the cooling period of the heat cycle test. - 特許庁

小型電気機械を収納した容器内部の圧力を減圧雰囲気にし、小型電気機械が有するコイルに高周波電圧を印加するステップと、前記小型電気機械からコロナ放電が発生しているか否かを検出するステップからなる非破壊絶縁試験方法としたものである。例文帳に追加

This nondestructive insulation testing method comprises a step of a pressure-reduced atmosphere being formed in a vessel which contains a small-sized electronic machine, and a high-frequency voltage is applied to a coil that the small-sized electronic machine has and a step where it is detected whether the small-sized electric machine is causing corona discharge. - 特許庁

電力ケーブル１０の耐電圧試験時には、電力ケーブル１０に直流電圧を印加するが、巻線の絶縁破壊が発生しないため、電力ケーブル１０と変圧器２１の巻線とを接続した状態で行うことができる。例文帳に追加

When the voltage breakdown test of power cable 10 is performed, DC voltage is applied to the power cable 10, but because the winding does is not breaked, the voltage breakdown test can be performed in the state wherein the power cable 10 and the transformer 21 are connected. - 特許庁

ゲート絶縁膜の完全な絶縁破壊（ハードブレイクダウン）に相当する第１のクライテリアだけでなく、第２又は第３のクライテリアを設定することにより、極薄のゲート酸化膜のＴＤＤＢ試験を全ゲート面積が１００００μｍ^2 に達する半導体デバイス（チップ）に対しても、行なうことができる。例文帳に追加

Since second or third criterion is set as well as the first criterion corresponding to complete dielectric breakdown (hard breakdown) of a gate insulation film, TDDB test of an extremely thin gate oxide film can be performed even for a semiconductor device (chip) having a total gate area as large as 10000 μm^2. - 特許庁