breakdown testとは 意味・読み方・使い方

The breakdown detection part 3 detects the breakdown of the breakdown measurement circuit element 11 and the test voltage determination part 4 determines the voltage as the test voltage.例文帳に追加

ブレークダウン検出部３は、耐圧測定回路素子１１のブレークダウンを検出し、試験電圧決定部４は当該電圧を試験電圧として決定する。 - 特許庁

4. Measures to be taken if a breakdown occurs (including how to handle test samples if a breakdown occurs during testing)発音を聞く 例文帳に追加

四　故障が起こつた場合の対応（測定中に故障が起こつた場合にあつては、試験品の取扱いを含む。）の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To correctly carry out alignment of a testing pin with a terminal of a measured device, in an electrostatic breakdown test.例文帳に追加

静電破壊試験において被測定デバイスの端子と試験用ピンとの位置合わせを正確に行う。 - 特許庁

To provide a technology of applying high voltage to a trench insulation isolation section in the breakdown voltage screening test of the trench insulation isolation section.例文帳に追加

トレンチ絶縁分離部の耐圧スクリーニング試験において、高電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine.例文帳に追加

材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。 - 特許庁

To perform a breakdown strength test of an image forming apparatus by supplying power for forcibly turning on a relay inside the apparatus without using an external supply such as a power supply for a breakdown strength test.例文帳に追加

絶縁耐圧試験用電源のような外部電源を用いることなく、装置内部でリレーを強制オンさせる電力を供給し、画像形成装置の絶縁耐圧試験を行なう。 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

To realize an electrostatic breakdown test of semiconductor devices which can enhance the reliability on measurement of a breakdown endurance amount by static discharging of the semiconductor devices.例文帳に追加

半導体デバイスについての静電気の放電による破壊耐量の測定の信頼性を高めることができる半導体デバイスの静電破壊試験を実現する。 - 特許庁